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公开(公告)号:CN106842421B
公开(公告)日:2020-09-29
申请号:CN201710176436.X
申请日:2017-03-23
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G02B6/12
摘要: 本发明公开了一种水平方向对称的高阶超模方向耦合波导探测器,包括从下往上依次设置的衬底层(1)、波导层(2)、吸收层(3)以及覆盖层(4);波导层(2)由左波导(21)、中波导(22)和右波导(23)并排构成,左波导(21)和右波导(23)结构相同且呈对称分布设置。本发明解决了现有的方向耦合波导探测器、垂直方向耦合波导探测器以及对称结构的垂直方向耦合器波导探测器横截面过小,因而入射光斑过小的问题,使入射光斑直径可从原来的3微米增加到5微米,从而增加了探测器的光电流,并有效增加了从光纤到波导的光耦合效率。
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公开(公告)号:CN111106191A
公开(公告)日:2020-05-05
申请号:CN202010008275.5
申请日:2020-01-06
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: H01L31/0232 , H01L31/105 , G01J1/04 , G01J1/44
摘要: 本发明公开一种20GHz行波光波导探测器,应用于光电技术领域,为解决现有的波导型探测器存在的:光电流沿波导方向分布不均匀,耦合损耗较大,入射光功率受限制的问题;本发明首先依据超模匹配理论合理设计光波导结构改变光电流沿指数分布,使光电流尽可能分布在比较长的波导范围内,光电流均匀的同时也保证了高量子效率;然后提出了光波导和微波波导在同一结构中实现的方法,将波导特征阻抗设计成与负载阻抗相匹配,使传输线实现行波传输,从而克服RC时间常数对于带宽的限制;探测器的特征阻抗被设计成50Ω与后端共面波导结构和外部同轴电缆匹配。
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公开(公告)号:CN105242278A
公开(公告)日:2016-01-13
申请号:CN201510606671.7
申请日:2015-09-21
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G01S17/66
CPC分类号: G01S17/66 , G01S17/023
摘要: 本发明公开了一种空基太空小碎片光学探测及跟瞄系统及方法;其系统包括大视场望远镜、小视场望远镜、激光测距机和云台;其方法包括利用大视场望远镜捕获目标粗略方位角和俯仰角,利用小视场望远镜捕获目标精确方位角和俯仰角及利用激光测距机测量与目标之间的距离。本发明采用由大视场望远镜、小视场望远镜及激光测距机组成的被动成像和激光测距的组合系统,使用光学成像技术实现了对太空微小目标的发现、捕获及跟踪,克服了激光雷达难以对微小目标进行探测的限制,系统功耗低、能够快速精确地获取目标的距离和方位,探测距离远。
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公开(公告)号:CN102723383B
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:CN201210202604.5
申请日:2012-06-19
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: H01L31/0232 , G02B6/122 , H01L31/102
摘要: 本发明涉及一种用于垂直方向耦合的光电探测器的光波导结构,包括从上到下依次层叠的本征层、吸收层、上波导层、间隙层、下波导层、覆盖层和衬底,所述间隙层做为上波导层与下波导层之间的一层低折射率耦合层,所述上波导层与下波导层构成垂直方向的耦合器(相当于垂直方向耦合的光电二极管)用于使光从下波导层入射逐渐耦合到上波导层并使光一边在上波导层与下波导层中传输,一边被吸收层吸收。本发明的有益效果是:解决了水平方向耦合光电二极管结构中当空气间隙改变时,耦合长度和吸收长度都会改变,以及光刻腐蚀加工工艺制作难的弊端。
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公开(公告)号:CN104296682A
公开(公告)日:2015-01-21
申请号:CN201410588757.7
申请日:2014-10-28
申请人: 电子科技大学
IPC分类号: G01B11/24
摘要: 本发明公开了一种基于机器视觉火车导轨轮廓测量中轮廓配准方法,轮廓测量包括以下步骤:S1,采集钢轨图像;S2,计算机处理得到钢轨断面的单像素曲线;S3,标定还原;S4,进行轮廓配准,包括以下子步骤:S41:将实际轮廓线和标准轮廓线统一到坐标系中,利用两轮廓线的渐近线取得两者之间的夹角;S42:对实际轮廓线进行旋转,使两条轮廓线的渐近线相互平行;S53:平移实际轮廓线,使实际轮廓线端点与标准轮廓线的端点重合。本发明的配准方法将实际轮廓线和标准轮廓线统一到坐标系中,并对实际轮廓线进行处理,使实际轮廓线和标准轮廓线的渐近线平行且端点重合,配准结果准确、观察和计算方便,能够得到可靠的磨耗数据。
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公开(公告)号:CN104266587A
公开(公告)日:2015-01-07
申请号:CN201410485980.9
申请日:2014-09-22
申请人: 电子科技大学
摘要: 本发明公开了一种三维测量系统及获得真实3D纹理点云数据方法,方法包括以下步骤:S1:获取激光器点亮时图像I1和激光器关闭时图像I11;S2:对I1、I11所得的锁定成像进行图像处理,获得二值化轮廓线l1(u,v);S3:获得l1(u,v)对应的无激光时的灰度曲线h(u,v)并还原获得一条物体在三维空间某一横截面的真实图;S4:重复步骤S1~S3,获得一系列有灰度信息的轮廓线;S5:获得具有灰度信息的点云数据,采用三维表面轮廓重建技术将的点云数据重构出一个具有表面纹理信息的三维数字模型。本发明将纹理映射与三维模型重建相结合,重建出具有实物真实表面纹理的三维模型,将锁定成像获得的单像素轮廓线映射到无激光照明时获得的灰度图像,提高了纹理映射精度。
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公开(公告)号:CN1195216C
公开(公告)日:2005-03-30
申请号:CN02133994.5
申请日:2002-10-31
申请人: 电子科技大学
摘要: 本发明提供了一种检测光学仪器内部元件的方法,它采用了激光光源,利用激光良好的会聚性,减少了镜面之间信号的相互干扰;通过观测激光在被检测光学表面的反射光,利用反射光在有损伤时呈现出的高对比度,能够容易地检测出的损伤。本发明的方法主要是检测透镜损伤(包括镜面上的污点和缺隙),它特别适用于复杂光路内部光学元件表面污点、间隙损伤的检测。采用本发明的方法,观测者不需要特殊的专门技巧,一般的人员能够方便地实施检测。
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公开(公告)号:CN1493918A
公开(公告)日:2004-05-05
申请号:CN02133995.3
申请日:2002-10-31
申请人: 电子科技大学
摘要: 本发明提供了一种测量扫描式转镜高速摄影机瞬时扫描速度的方法,它是通过激光脉冲序列在底片上曝光形成一列时标点,采用底片分析仪分析底片时,对应于有效记录过程中的不同时刻,根据相邻时标点间的距离L和时间间隔T,便可测得该时刻的扫描速度(V=L/T)。因此,采用本发明方法可以高精度、实时测量扫描式转镜高速摄影机瞬时扫描速度。
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