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公开(公告)号：CN108195928B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201711376558.X
申请日：2017-12-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明公开了一种基于图像融合的金属磁性材料缺陷检测装置，在两副相互垂直的U型磁轭上分别施加正弦和余弦信号，合成方向随时间均匀变化但幅值不变的旋转磁场，用作金属磁性材料试件检测的激励磁场。若金属磁性材料试件中存在缺陷，则在缺陷上方产生漏磁场，再通过磁光成像系统将漏磁场信息转换为磁光图像，最后将磁光图像序列的频域图像归一化后线性加权融合，再变换到灰度值范围内，得到金属磁性材料试件的缺陷图像。本发明采用50Hz以下的低频旋转磁场激励试件，实现对各个方向缺陷的有效激励，同时使用磁光成像技术采集单个激励周期内的磁光图像，再对各个方向的缺陷在频域中线性加权融合，实现各个方向缺陷的快速可视化检测。
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公开(公告)号：CN108804044B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201810669662.6
申请日：2018-06-26
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于深存储的数据采集方法和深存储数据采集系统，根据用户设置计算显示抽取系数和深存储前抽系数，对采集数据进行抽点，将以显示抽取系数抽点得到的数据进行实时显示，将以深存储前抽系数抽点得到的数据进行深存储，当用户设置感兴趣波形时，根据感兴趣波形在显示屏上的起点和终点计算感兴趣波形在存储器中的起始读地址、终止读地址，计算得到深存储后抽系数，读取对应数据并根据深存储后抽系数进行抽取，然后进行显示。本发明将实时存储显示与深存储进行结合，可以实现对实时显示波形任意片段的放大显示。
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公开(公告)号：CN108398094A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201810112680.4
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线交点的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，以涂层厚度最小的标准试件的k范围温度变化斜率曲线为基准，计算其他k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，拟合得到相交时间点序号和涂层厚度的标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108109128A
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201711240565.7
申请日：2017-11-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于空间相关性的红外热图像处理方法，首先实时在线采集加热阶段的视频流数据，然后提取边缘信息，分析相邻两帧的相关性，计算相关性系数，绘制出随时间变化的相关性系数曲线，它反映了被测试件在加热过程中多缺陷耦合后的热响应状态的差异性，最后根据预设值选取出几幅合适的热图像经融合后进行后续的缺陷检测。
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公开(公告)号：CN108280824B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN201810049057.9
申请日：2018-01-18
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于图像配准及融合的激光剪切散斑干涉缺陷检测系统，包括：激光光源、扩束镜、分束镜、剪切器、相移器、图像采集器和集成图像处理算法和相移器控制算法的PC机；先利用双摄像头的图像采集器同时记录了被测物体在热加载前后的激光剪切散班干涉条纹图和原始图像，再通过图像处理算法和相移器控制算法对热加载前后的激光剪切散班干涉条纹图进行处理，得到相位差图像，最后将相位差图像与原始图像进行融合和配准，实现缺陷位置检测的快速精确定位。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108198181B
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201810064381.8
申请日：2018-01-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于区域分割和图像融合的红外热图像处理方法，首先实时在线采集加热阶段的视频流数据，然后对图像进行预处理后提取边缘信息，接着对热图像序列进行等区域分割，对每个子区域分析其空间相关性，即按照时间顺序，计算各子区域相邻帧之间的相关性系数，再通过对相关性系数与阈值比较，返回不满足阈值条件的子区域的左上角坐标值及对应的帧数，最后利用这些子区域的左上角坐标值及对应的帧数融合成一帧图像，从而实现缺陷信息的增强并快速识别缺陷，完成缺陷定量检测。
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公开(公告)号：CN108692650A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810326465.4
申请日：2018-04-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明公开了一种用于复合材料表面涂层厚度的电磁感应测厚系统，包括探头、信号发生模块、信号调理电路和数据处理单元；其中，探头为变磁阻式探头，当信号发生模块对其施加激励信号后，探头内部会形成磁路，而探头的磁阻会受所接触材料的导磁性影响；信号调理电路对阻抗交流信号进行锁相放大处理，获得反映涂层厚度的直流信号，将直流信号输入数据处理单元，经过模数转化后获得表征涂层厚度的数字信号，将多组已知厚度和对应数字信号的数据作为训练数据输入数据处理单元中的线性回归模型得到厚度与数字信号间的拟合曲线，进而实现对厚度的测量。
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公开(公告)号：CN108344390A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810116140.3
申请日：2018-02-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，提取从开始加热时刻至k范围温度变化斜率达到预设阈值K的时间点数量，结合对应的涂层厚度通过多项式拟合得到标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108195928A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711376558.X
申请日：2017-12-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明公开了一种基于图像融合的金属磁性材料缺陷检测装置，在两副相互垂直的U型磁轭上分别施加正弦和余弦信号，合成方向随时间均匀变化但幅值不变的旋转磁场，用作金属磁性材料试件检测的激励磁场。若金属磁性材料试件中存在缺陷，则在缺陷上方产生漏磁场，再通过磁光成像系统将漏磁场信息转换为磁光图像，最后将磁光图像序列的频域图像归一化后线性加权融合，再变换到灰度值范围内，得到金属磁性材料试件的缺陷图像。本发明采用50Hz以下的低频旋转磁场激励试件，实现对各个方向缺陷的有效激励，同时使用磁光成像技术采集单个激励周期内的磁光图像，再对各个方向的缺陷在频域中线性加权融合，实现各个方向缺陷的快速可视化检测。
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公开(公告)号：CN108413882B
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN201810112679.1
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，从中提取出表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，结合对应的涂层厚度拟合得到时间‑涂层厚度曲线，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，从时间‑涂层厚度曲线搜索得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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