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公开(公告)号：CN106996944A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201710388886.5
申请日：2017-05-25
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N25/72
CPC classification number: G01N25/72
Abstract: 本发明公开了一种热成像检测中的亚表面缺陷形状重构方法，分为热响应信号的采集过程、有缺陷区域和无缺陷区域相位差求解过程，以及采用包络线对缺陷形状重构过程三部分。采用线热源对试件进行线扫描，然后对采集的加热源位置的数据进行傅里叶分析，求出其他位置和无缺陷处对应的相位差，根据相位差反演出缺陷的深度，然后根据各个位置线扫描的结果即求得的深度做包络线，最终根据包络线估计缺陷的形状。本发明能够对不规则缺陷的形状进行估计和重构，有利于对缺陷进行量化评估，解决了采用面激励时对此类缺陷的定量分析问题。
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公开(公告)号：CN108398094A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201810112680.4
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线交点的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，以涂层厚度最小的标准试件的k范围温度变化斜率曲线为基准，计算其他k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，拟合得到相交时间点序号和涂层厚度的标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN106996944B
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201710388886.5
申请日：2017-05-25
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N25/72
Abstract: 本发明公开了一种热成像检测中的亚表面缺陷形状重构方法，分为热响应信号的采集过程、有缺陷区域和无缺陷区域相位差求解过程，以及采用包络线对缺陷形状重构过程三部分。采用线热源对试件进行线扫描，然后对采集的加热源位置的数据进行傅里叶分析，求出其他位置和无缺陷处对应的相位差，根据相位差反演出缺陷的深度，然后根据各个位置线扫描的结果即求得的深度做包络线，最终根据包络线估计缺陷的形状。本发明能够对不规则缺陷的形状进行估计和重构，有利于对缺陷进行量化评估，解决了采用面激励时对此类缺陷的定量分析问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108344390A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810116140.3
申请日：2018-02-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，提取从开始加热时刻至k范围温度变化斜率达到预设阈值K的时间点数量，结合对应的涂层厚度通过多项式拟合得到标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108413882B
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN201810112679.1
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，从中提取出表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，结合对应的涂层厚度拟合得到时间‑涂层厚度曲线，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，从时间‑涂层厚度曲线搜索得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108344390B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201810116140.3
申请日：2018-02-06
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，提取从开始加热时刻至k范围温度变化斜率达到预设阈值K的时间点数量，结合对应的涂层厚度通过多项式拟合得到标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108398094B
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201810112680.4
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于k范围温度变化斜率曲线交点的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，提取得到k范围温度变化斜率曲线，以涂层厚度最小的标准试件的k范围温度变化斜率曲线为基准，计算其他k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，拟合得到相交时间点序号和涂层厚度的标定方程，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，获取被测试件的k范围温度变化斜率曲线与基准曲线的相交时间点序号，根据标定方程计算得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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公开(公告)号：CN108413882A
公开(公告)日：2018-08-17
申请号：CN201810112679.1
申请日：2018-02-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/0616
Abstract: 本发明公开了一种基于红外热成像的涂层厚度检测方法，收集一系列涂层厚度不同、基底厚度相同的标准试件，分别采用加热设备对每个标准试件涂层面进行持续加热，采集获得涂层面的红外热图像序列，从中提取出表面温度变化曲线，获取从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，结合对应的涂层厚度拟合得到时间-涂层厚度曲线，当需要对被测试件进行涂层厚度检测时，采用相同方法获取被测试件从开始加热至曲线斜率达到预设阈值K的时间，从时间-涂层厚度曲线搜索得到待测试件的涂层厚度。本发明简单易行，对测试对象和测试设备要求较低，检测时所需时间较少，检测准确率较高。
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