具有内嵌流体导管的半导体制造装置及形成所述导管的方法

    公开(公告)号:CN107530775B

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201680023030.1

    申请日:2016-04-18

    Abstract: 本文提供使用增材制造工艺(例如,3‑D打印)形成内嵌于半导体制造装置(例如,离子植入机)的组件内的导管的方式,其中所述导管被配置成将流体递送经过整个组件以对其提供加热、冷却及气体分配。在一种方式中,导管包括形成于所述导管的内表面上的一组凸起表面特征,以改变导管内的流体流动特性。在另一方式中,导管可以螺旋构形形成。在另一方式中,导管形成有多边形横截面。在另一方式中,离子植入机的组件包括以下中的至少一者:离子源、淹没式等离子体枪、冷却板、台板和/或弧室基座。

    离子植入箔片组合件
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111902904A

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201980021860.4

    申请日:2019-02-21

    Abstract: 公开一种包括多个箔层的箔衬垫。所述箔层可各自为堆叠在彼此顶部的导电材料。相邻箔层之间的间隔可生成热梯度,使得等离子体的温度比离子源室的温度热。在其他实施例中,可组装箔层以吸收来自等离子体的热量,使得等离子体比离子源室的温度冷。在一些实施例中,在一个或多个箔层上设置间隙或突起以影响热梯度。在某些实施例中,一个或多个箔层可由绝缘材料构成以进一步影响热梯度。箔衬垫可易于在离子源室内组装、安装及更换。

    离子源及箔衬垫
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111902904B

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN201980021860.4

    申请日:2019-02-21

    Abstract: 公开一种包括多个箔层的箔衬垫及离子源。所述箔层可各自为堆叠在彼此顶部的导电材料。相邻箔层之间的间隔可生成热梯度,使得等离子体的温度比离子源室的温度热。在其他实施例中,可组装箔层以吸收来自等离子体的热量,使得等离子体比离子源室的温度冷。在一些实施例中,在一个或多个箔层上设置间隙或突起以影响热梯度。在某些实施例中,一个或多个箔层可由绝缘材料构成以进一步影响热梯度。箔衬垫可易于在离子源室内组装、安装及更换。

    具有内嵌流体导管的半导体制造装置

    公开(公告)号:CN107530775A

    公开(公告)日:2018-01-02

    申请号:CN201680023030.1

    申请日:2016-04-18

    Abstract: 本文提供使用增材制造工艺(例如,3‑D打印)形成内嵌于半导体制造装置(例如,离子植入机)的组件内的导管的方式,其中所述导管被配置成将流体递送经过整个组件以对其提供加热、冷却及气体分配。在一种方式中,导管包括形成于所述导管的内表面上的一组凸起表面特征,以改变导管内的流体流动特性。在另一方式中,导管可以螺旋构形形成。在另一方式中,导管形成有多边形横截面。在另一方式中,离子植入机的组件包括以下中的至少一者:离子源、淹没式等离子体枪、冷却板、台板和/或弧室基座。

Patent Agency Ranking