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公开(公告)号:CN1173409C
公开(公告)日:2004-10-27
申请号:CN00126800.7
申请日:2000-12-22
Applicant: 现代电子产业株式会社
IPC: H01L27/115 , H01L21/8247
CPC classification number: G11C11/5621 , G11C11/5628 , G11C16/0425 , G11C2211/5611
Abstract: 一种多级EEPROM单元及其制造方法。EEPROM单元包括:一个浮动栅极,通过下面的隧道氧化层与硅衬底电隔离;第一电介质层,形成于浮动栅极的顶部;第一控制栅极,形成在浮动栅极上,并且通过第一电介质层与浮动栅极电隔离;第二电介质层,形成在第一控制栅极的侧壁和顶部上;第二控制栅极,形成在第一控制栅极的侧壁和顶部上,并且通过第二电介质层与第一控制栅极电隔离;以及源极和漏极,它们形成在衬底中,并且与第二控制栅极两边自对准。
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公开(公告)号:CN1301043A
公开(公告)日:2001-06-27
申请号:CN00126800.7
申请日:2000-12-22
Applicant: 现代电子产业株式会社
IPC: H01L27/115 , H01L21/8247
CPC classification number: G11C11/5621 , G11C11/5628 , G11C16/0425 , G11C2211/5611
Abstract: 一种多级EEPROM单元及其制造方法。EEPROM单元包括:一个浮动栅极,通过下面的隧道氧化层与硅衬底电隔离;第一电介质层,形成于浮动栅极的顶部;第一控制栅极,形成在浮动栅极上,并且通过第一电介质层与浮动栅极电隔离;第二电介质层,形成在第一控制栅极的侧壁和顶部上;第二控制栅极,形成在第一控制栅极的侧壁和顶部上,并且通过第二电介质层与第一控制栅极电隔离;以及源极和漏极,它们形成在衬底中,并且与第二控制栅极两边自对准。
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