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公开(公告)号：CN109964144B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN201780071317.6
申请日：2017-11-17
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Inventor： C·席尔德克内希特 , C·朗根施密德 , I·布鲁德 , M·艾伯斯派克 , P·费耶斯 , R·森德 , S·瓦鲁施 , T·奥莫尔 , W·赫尔梅斯 , S·恒恩 , C·伦纳茨
Abstract: 提议了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110)。所述检测器(110)包括：至少两个光学传感器(118,120,176)，每个光学传感器(118,120,176)具有光敏区域(122,124)，其中每个光敏区域(122,124)具有几何中心(182,184)，其中所述光学传感器(118,120,176)的所述几何中心(182,184)通过不同的空间偏移与所述检测器(110)的光轴(126)间隔开，其中每个光学传感器(118,120,176)被配置为响应于从所述对象(112)传播到所述检测器(110)的光束(116)对其相应的光敏区域(122,124)的照射而产生传感器信号；以及至少一个评估装置(132)，被配置用于通过组合至少两个传感器信号来确定所述对象(112)的至少一个纵向坐标z。
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公开(公告)号：CN111465827B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN201880080479.0
申请日：2018-12-12
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Abstract: 公开了一种光谱仪系统(110)和一种光谱仪设备(112)，其适合于研究或监控目的，特别是在红外(IR)光谱区域中，并且适于检测热、火焰、火或烟。本文中，光谱仪设备(112)包括：光学元件(122)，其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)传输到长度可变滤波器(118)，其中，光学元件(122)包括光学聚光器设备(124)，其中，光学聚光器设备(124)在反方向(126)操作，其中，光学聚光器设备(124)包括非圆锥形状(128)；长度可变滤波器(118)，其被指定用于将入射光(114)分离成组成波长信号的光谱；以及具有多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120)，其中，每个像素化传感器(144)适于接收组成波长信号之一的至少一部分，其中，每个组成波长信号与每个组成波长的强度有关。光谱仪设备(112)允许捕获来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)以特别高的聚光效率传输到长度可变滤波器(118)。除了光谱仪设备(112)之外，光谱仪系统(110)还包括评估单元(150)，评估单元(150)被指定用于通过评估由光谱仪设备(112)提供的检测器信号(204、204'、204”)来确定与对象(116)的光谱有关的信息。
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公开(公告)号：CN114556061A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202080071051.7
申请日：2020-10-08
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
IPC: G01J1/44
Abstract: 提出了一种装置(111)。装置(111)包括：‑至少一个光导体(114)，该至少一个光导体(114)被配置用于展现出取决于光导体(114)的光敏区域(118)的照射(116)的电阻Rphoto；‑至少一个光导体读出电路(112)，其中，光导体读出电路(114)被配置用于确定光导体(114)的电阻Rphoto，其中，光导体读出电路(112)包括至少一个偏置电压源(152)，该至少一个偏置电压源(152)被配置用于将至少一个调制偏置电压施加到光导体(114)。
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公开(公告)号：CN114144643A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202080051480.8
申请日：2020-07-17
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种用于监测由热辐射源的辐射发射元件在可见光谱范围和红外光谱范围内发射的辐射(112)，具体地用于确定热辐射源的发射光谱的方法和设备(110)。在本文中，该方法包括以下步骤：a)提供包括辐射发射元件的热辐射源，其中，辐射发射元件发射待监测的辐射(112)，其中，辐射发射元件包括白炽灯(116)的灯丝(114)或热红外发射器的辐射发射表面；b)提供至少一个辐射敏感元件(124)，其中，辐射敏感元件(124)被指定用于测量由辐射发射元件发射的辐射(112)；c)测量由辐射发射元件发射的辐射(112)在至少两个单独波长处的光谱辐射度；以及d)通过提供辐射(112)在至少两个单独波长处的光谱辐射度的测量值的比率来确定辐射发射元件的发射温度，其中，通过使用1000K至4000K的温度范围内的二阶多项式函数(158)来近似针对单独波长中的两个波长的光谱辐射度的测量值的比率，作为温度的函数。该方法和装置(110)可用于监测热辐射源的操作模式，特别是在热辐射源用作照明源的可见光谱范围和红外光谱范围内的光谱应用中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113632242A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202080021045.0
申请日：2020-03-13
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Inventor： W·赫尔梅斯 , S·瓦鲁施 , S·穆勒 , R·赫 , H·贝克特尔 , T·阿尔腾贝克 , F·迪特曼 , B·福伊尔施泰因 , T·胡普福尔 , A·汉德瑞克 , R·古斯特 , P·P·卡莱塔 , R·森德 , H·魏因多克 , I·亨尼格 , S·古里亚诺瓦
IPC: H01L31/09 , H01L31/032 , H01L31/0216 , H01L21/66
Abstract: 本发明涉及一种包括堆叠(125)的光学传感器(110)。所述堆叠(125)具有：衬底(124)，应用到所述衬底(124)的至少一个光电导材料(114)的层(112)，以及覆盖所述光电导材料(114)的可及表面的盖(116)，以及接触所述光电导材料(114)的层(112)的至少两个电接触(136，136')。所述光学传感器在所述堆叠的准静态纳米压痕仪测量中，展现出杨氏模量·在100nm的穿透深度处为75GPa至107GPa·在300nm的穿透深度处为47GPa至127GPa·在1000nm的穿透深度处为49GPa至119GPa，以及硬度·在100nm的穿透深度处为1.20GPa至4.70GPa，·在300nm的穿透深度处为1.60GPa至4.60GPa，以及·在1000nm的穿透深度处为1.60GPa至8.00GPa，所述光学传感器(110)在长时间内展现出高性能和稳定性。所述光学传感器(110)特别地被设计用于作为安全相关设备的应用，诸如气体传感器、火花传感器、或火焰传感器，以及在安全技术领域中。
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公开(公告)号：CN112534305A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201980051703.8
申请日：2019-08-06
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Abstract: 提出了一种用于光学监视至少一个区域(112)的装置(110)。装置(110)包括发送器单元(114)和接收器单元(116)。发送器单元(114)具有至少一个照射源(118)。照射源(118)被设计为生成具有束轮廓的至少一个光束(122)。每个光束(122)被指定用于传播到接收器单元(116)，从而穿越至少一个监视区域(124)。接收器单元(116)包括‑至少一个转移装置(134)，其中，转移装置(134)具有响应于从照射源(118)传播到至少两个光学传感器(138)的至少一个入射光束(122)的至少一个焦距，其中，转移装置(134)具有光轴(136)，其中，转移装置(134)构成坐标系，其中，纵坐标l是沿光轴的坐标，以及其中，d是距光轴(136)的空间偏移，‑至少两个光学传感器(138)，其中，每个光学传感器(138)具有至少一个光敏区域(140)，其中，每个光学传感器(138)被设计为响应于由光束(122)对其相应的光敏区域(140)的照射而生成至少一个传感器信号，其中，光学传感器(138)中的两个光学传感器被布置为使得两个光学传感器(138)的光敏区域(140)在以下至少一项上不同：它们的纵坐标、它们的空间偏移或它们的表面区域；以及‑至少一个评估装置(150)，其中，评估装置(150)被配置用于通过监视以下至少一个来生成输出：首先通过评估所述传感器信号，监视至少一个光束(122)在穿越至少一个监视区域(124)时的束轮廓的变化，以及进一步地，监视发送器单元(114)的位置的至少一个分量的变化，其中，通过评估来自传感器信号的组合信号Q来相对于转移装置(134)的坐标系确定分量。
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公开(公告)号：CN112384951A
公开(公告)日：2021-02-19
申请号：CN201980045768.1
申请日：2019-05-08
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Abstract: 提出了一种用于确定至少一个存储单元(112)中的填充水平的方法。该方法包括以下步骤：a)采用包括多个照射特征(118)的至少一个照射图案(116)照射存储单元(112)，并确定存储单元(112)的至少一个反射图像；b)选择反射图像中的至少一个第一反射特征和至少一个第二反射特征；c)对于第一反射特征，响应于第一反射特征对具有光学传感器(124)矩阵的至少一个传感器元件(120)的照射而生成至少两个第一传感器信号，并且对于第二反射特征，响应于第二反射特征对传感器元件(120)的照射而生成至少两个第二传感器信号，光学传感器(124)各自具有光敏区域；d)评估在步骤c)中生成的两个第一传感器信号，从而确定第一反射特征的至少一个第一纵向坐标z1，并评估在步骤c)中生成的两个第二传感器信号，从而确定第二反射特征的至少一个第二纵向坐标z2；e)在反射图像中确定第一反射特征的至少一个位置(x1，y1)和第二反射特征的至少一个位置(x2，y2)并确定第一反射特征的至少一个第一矢量(x1，y1，z1)和第二反射特征的至少一个第二矢量(x2，y2，z2)；f)根据第一矢量和第二矢量确定至少一个高度图，并由此确定存储单元中的填充水平。
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公开(公告)号：CN111465827A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201880080479.0
申请日：2018-12-12
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Abstract: 公开了一种光谱仪系统(110)和一种光谱仪设备(112)，其适合于研究或监控目的，特别是在红外(IR)光谱区域中，并且适于检测热、火焰、火或烟。本文中，光谱仪设备(112)包括：光学元件(122)，其被设计用于接收来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)传输到长度可变滤波器(118)，其中，光学元件(122)包括光学聚光器设备(124)，其中，光学聚光器设备(124)在反方向(126)操作，其中，光学聚光器设备(124)包括非圆锥形状(128)；长度可变滤波器(118)，其被指定用于将入射光(114)分离成组成波长信号的光谱；以及具有多个像素化传感器(144)的检测器阵列(120)，其中，每个像素化传感器(144)适于接收组成波长信号之一的至少一部分，其中，每个组成波长信号与每个组成波长的强度有关。光谱仪设备(112)允许捕获来自对象(116)的入射光(114)并将入射光(114)以特别高的聚光效率传输到长度可变滤波器(118)。除了光谱仪设备(112)之外，光谱仪系统(110)还包括评估单元(150)，评估单元(150)被指定用于通过评估由光谱仪设备(112)提供的检测器信号(204、204'、204”)来确定与对象(116)的光谱有关的信息。
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公开(公告)号：CN110178045A
公开(公告)日：2019-08-27
申请号：CN201780083725.3
申请日：2017-11-17
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Inventor： C·伦纳茨 , C·D·席尔德克内希特 , C·朗根施密德 , C·哈恩 , I·布鲁德 , M·埃伯斯帕奇 , C·M·奥古恩 , P·辛德勒 , P·费耶斯 , P·席伦 , R·森德 , S·瓦鲁施 , S·亨根 , T·奥默 , W·赫尔梅斯
Abstract: 提出了一种用于确定至少一个对象(112)的位置的检测器(110,1110,2110)。所述检测器(110,1110,2110)包括：至少一个传送装置(128,1128)，其中所述传送装置(128,1128)响应于从所述对象(112,1112)传播到所述检测器(110,1110,2110)的至少一个入射光束(116,1116)而具有至少一个焦距；至少两个光学传感器(113,1118,1120)，其中每个光学传感器(113,1118,1120)具有至少一个光敏区域(121,1122,1124)，其中每个光学传感器(113,1118,1120)被设计为响应于所述光束(116,1116)对其各自的光敏区域的照射而产生至少一个传感器信号；至少一个评估装置(132,1132)，被配置用于通过评估来自所述传感器信号的商信号Q来确定所述对象(112,1112)的至少一个纵向坐标z。所述检测器适于独立于对象平面中的对象尺寸在至少一个测量范围中确定所述对象的所述纵向坐标z。
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