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    用于至少一个对象的光学检测的检测器
    1.
    发明授权
    用于至少一个对象的光学检测的检测器 有权

    公开(公告)号：CN107438775B

    公开(公告)日：2022-01-21

    申请号：CN201680019688.5

    申请日：2016-01-28

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： S·瓦鲁施 ,  I·布鲁德 ,  R·森德 ,  C·朗根施密德 ,  W·赫尔梅斯 ,  E·蒂尔 ,  S·伊尔勒

    IPC分类号： G01S7/481 ,  H01L27/146 ,  H01L27/30

    摘要： 提出了一种用于至少一个对象(112)的光学检测的检测器(110)。该检测器(110)包括：‑至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计成以取决于由光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定照射的相同总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中传感器区域(130)包括至少一种光导材料(134)，其中给定照射的相同总功率，光导材料(134)的电导率取决于传感器区域(130)中光束(132)的束横截面(174)，其中纵向传感器信号取决于电导率；以及‑至少一个评估装置(140)，其中评估装置(140)被设计成通过评估纵向光学传感器(114)的纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。由此，提供了用于准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单且仍然有效的检测器(110)。

    用于光学检测至少一个对象的检测器
    2.
    发明公开
    用于光学检测至少一个对象的检测器 无效

    公开(公告)号：CN109564286A

    公开(公告)日：2019-04-02

    申请号：CN201780047340.1

    申请日：2017-07-27

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： W·赫尔梅斯 ,  C·朗根施密德 ,  S·瓦鲁施 ,  R·森德 ,  I·布鲁德

    IPC分类号： G01S17/06

    摘要： 公开了用于光学检测至少一个对象(112)的检测器(110)，其中检测器(110)包括：至少一个纵向光学传感器(114)，其中纵向光学传感器(114)具有至少一个传感器区域(130)，其中纵向光学传感器(114)被设计为以依赖于光束(132)对传感器区域(130)的照射的方式生成至少一个纵向传感器信号，其中给定相同的照射总功率，纵向传感器信号取决于传感器区域(130)中的光束(132)的束横截面(158)，其中传感器区域(130)是或包括至少一个温差电单元(134)，其中温差电单元(134)被设计为在光束(132)照射传感器区域(130)或其一部分时，由于温差电单元(134)中的温度的空间变化或时间变化中的至少一者生成纵向传感器信号；以及至少一个评估装置(142)，其中评估装置(142)被设计为通过评估纵向传感器信号来生成关于对象(112)的纵向位置的至少一个信息项。从而，提供了通过使用从紫外到远红外光谱范围的宽光谱范围，特别是中红外光谱范围内的光束(132)准确地确定空间中的至少一个对象(112)的位置的简单但有效的检测器(110)。

    用于光学检测至少一个对象的检测器
    3.
    发明公开
    用于光学检测至少一个对象的检测器 无效

    公开(公告)号：CN108292175A

    公开(公告)日：2018-07-17

    申请号：CN201680069340.7

    申请日：2016-11-25

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： R·森德 ,  I·布鲁德 ,  C·朗根施密德

    IPC分类号： G06F3/03 ,  G01S17/46 ,  G01S5/16 ,  G06F3/042

    CPC分类号： G01S5/16 ,  G01S7/4816 ,  G01S17/46 ,  G01S17/66 ,  G06F3/0304 ,  G06F3/0308 ,  G06F3/042

    摘要： 公开了一种用于确定至少一个对象(162)的位置的检测器(110)。该检测器(110)包括：至少一个纵向光学传感器(155)，其用于确定从对象(162)传播到检测器(110)的至少一个光束(174)的纵向位置；至少一个横向光学传感器(112)，其用于确定从对象(162)传播到检测器(110)的至少一个光束(174)的至少一个横向位置，该横向光学传感器(112)包括：至少一个荧光波导片(114)，其包含至少一种荧光材料(122)，该荧光材料(122)适于响应于光束(174)的照射而产生荧光，至少两个光敏元件(124、126、128、130)，其位于荧光波导片(114)的至少两个边缘(132、134、136、138)处，能够产生横向传感器信号；以及至少一个评估装置(140)，其被配置为确定对象(162)的至少一个纵向坐标和至少一个横向坐标。此外，还公开了包括检测器(110)的相机(156)、检测器系统(158)、人机接口(164)、娱乐装置(166)、跟踪系统(168)和扫描系统(170)。

    用于确定至少一个存储单元中的填充水平的方法和装置
    6.
    发明公开
    用于确定至少一个存储单元中的填充水平的方法和装置 有权

    公开(公告)号：CN112384951A

    公开(公告)日：2021-02-19

    申请号：CN201980045768.1

    申请日：2019-05-08

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： C·邦西诺 ,  C·席尔德克内希特 ,  P·希伦 ,  P·辛德勒 ,  E·马特沃斯詹 ,  C·朗根施密德 ,  R·森德 ,  I·布鲁德

    IPC分类号： G06T7/586 ,  G06T7/62

    摘要： 提出了一种用于确定至少一个存储单元(112)中的填充水平的方法。该方法包括以下步骤：a)采用包括多个照射特征(118)的至少一个照射图案(116)照射存储单元(112)，并确定存储单元(112)的至少一个反射图像；b)选择反射图像中的至少一个第一反射特征和至少一个第二反射特征；c)对于第一反射特征，响应于第一反射特征对具有光学传感器(124)矩阵的至少一个传感器元件(120)的照射而生成至少两个第一传感器信号，并且对于第二反射特征，响应于第二反射特征对传感器元件(120)的照射而生成至少两个第二传感器信号，光学传感器(124)各自具有光敏区域；d)评估在步骤c)中生成的两个第一传感器信号，从而确定第一反射特征的至少一个第一纵向坐标z1，并评估在步骤c)中生成的两个第二传感器信号，从而确定第二反射特征的至少一个第二纵向坐标z2；e)在反射图像中确定第一反射特征的至少一个位置(x1，y1)和第二反射特征的至少一个位置(x2，y2)并确定第一反射特征的至少一个第一矢量(x1，y1，z1)和第二反射特征的至少一个第二矢量(x2，y2，z2)；f)根据第一矢量和第二矢量确定至少一个高度图，并由此确定存储单元中的填充水平。

    用于至少一个对象的光学检测的检测器
    8.
    发明公开
    用于至少一个对象的光学检测的检测器 无效

    公开(公告)号：CN109564952A

    公开(公告)日：2019-04-02

    申请号：CN201780029760.7

    申请日：2017-04-03

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： S·瓦鲁施 ,  C·朗根施密德 ,  W·赫尔梅斯 ,  R·森德 ,  I·布鲁德

    IPC分类号： H01L31/101 ,  H01L31/0368 ,  H01L31/0376 ,  G01S7/481 ,  H01L51/42

    摘要： 提供了一种用于精确确定至少一个对象(112)在空间中的位置的简单且仍然可靠的检测器。该检测器包括具有布置在至少两个电极(132，132')之间的至少两个单独的pin二极管(130，130')的堆叠的纵向光学传感器(114)。根据由入射光束(136)对传感器区域的照射，生成纵向传感器信号。给定相同的照射总功率，纵向传感器信号取决于光束(136)的束横截面(188)。该至少两个单独的pin二极管(130，130')具有不同的光谱灵敏度，以便使得能够通过不同光谱范围内的光束(例如，通过在可见光谱范围内和在红外光谱范围内的光束)确定对象和检测器之间的距离。

    用于光学检测至少一个对象的检测器
    9.
    发明公开
    用于光学检测至少一个对象的检测器 无效

    公开(公告)号：CN109219891A

    公开(公告)日：2019-01-15

    申请号：CN201780034397.8

    申请日：2017-04-03

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： R·森德 ,  I·布鲁德 ,  C·朗根施密德 ,  W·赫尔梅斯 ,  S·瓦鲁施

    IPC分类号： H01L31/02 ,  H01L31/101 ,  H01L31/105 ,  G01S17/46 ,  G01S7/481

    摘要： 公开了一种用于确定至少一个对象的位置，特别用于3D感测概念的检测器。该检测器包括：纵向光学传感器(110)，用于通过从对象行进到检测器的光束确定对象的纵向位置；以及横向光学传感器(112)，其可设计为成像装置或位置敏感检测器。纵向光学传感器(110)具有至少两个PN结构或PIN结构(138，140)。PN结构或PIN结构中的每一个结构位于两个电极层(144)之间，从而形成各自具有纵向传感器区域(148)的光电二极管(146)。给定相同的照射总功率，来自光电二极管(146)的纵向传感器信号取决于纵向传感器区域(148)中光束的束横截面。作为替代，并非横向光学传感器(112)，纵向光学传感器(110)的光电二极管(146)可以适于各自作为一维位置敏感检测器来操作，用于分别确定横向x坐标和横向y坐标。

    通信系统、监视系统及相关方法
    10.
    发明公开
    通信系统、监视系统及相关方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN115380518A

    公开(公告)日：2022-11-22

    申请号：CN202180021729.5

    申请日：2021-03-17

    申请人： 特里纳米克斯股份有限公司

    发明人： C·朗根施密德 ,  F·施密特 ,  R·洛夫林契奇 ,  M·V·克特纳 ,  D·克尔布莱因 ,  J·布里尔 ,  T·罗森克兰茨

    IPC分类号： H04L67/12 ,  H04L67/10

    摘要： 本发明涉及一种通信系统(140)，涉及一种用于现场监视至少一种物质(112)的监视系统(110)，其中，监视系统(110)包括通信系统(140)，以及涉及相关方法(310、312)。监视系统(110)可以经由通信系统(140)用于监视至少一种物质(112)并提供处理数据以处理至少一种物质(112)。在此，通信系统(140)包括云服务器(144)、第一服务器(146)、至少一个第二服务器(148、148')以及至少一个第三服务器(150、150')；其中，第一服务器(146)进一步具有第一通信接口(156)，该第一通信接口(156)被配置为涉及至少一个参考样本的参考光谱信息和参考分析数据提供给云服务器(144)；其中，每个第二服务器(148、148')具有第二通信接口(158、158')，该第二通信接口(158、158')被配置为将与至少一种物质(112)相关的光谱信息提供给云服务器(144)；其中，云服务器(144)被配置为*通过使用由第一服务器(146)提供的涉及至少一个参考样本的参考光谱信息和参考分析数据生成校准模型，其中，校准模型包括至少一个参数；*将校准模型应用于由第二服务器(148、148')提供的与至少一种物质(112)相关的光谱信息，从而提取至少一个参数的至少一个值；*将至少一个参数的至少一个值经由第一通信接口(156)提供给第一服务器(146)；其中，第一服务器(146)进一步被配置为通过使用由云服务器(144)提供的至少一个参数的至少一个值来确定处理数据，其中，处理数据包括与至少一种物质(112)的建议处理相关的至少一条数据；其中，第一服务器(146)进一步具有至少一个第三通信接口(160、160')，其中，每个第三通信接口(160、160')被配置为将处理数据提供给至少一个第三服务器(150、150')。