公开(公告)号：CN1784609A

公开(公告)日：2006-06-07

申请号：CN200480009690.1

申请日：2004-02-16

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 克里沙瓦米·瑞马克德兰 ,  辛区·赫杉吉尔 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈良力 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC分类号： G01R31/319 ,  G01R31/3183 ,  G06F11/263

CPC分类号： G01R31/31907 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/318342

摘要： 本发明描述了一种用于例如自动测试装置(ATE)等的使用面向对象结构的半导体测试系统的测试程序。本发明提供一种以通用面向对象结构(例如，C++对象和类)来描述测试系统资源、测试系统配置、模块配置测试序列、测试计划、测试条件、测试模式和计时信息的方法。特定而言，程序开发的模块性适用于开发开放式架构半导体测试系统的测试程序。

公开(公告)号：CN1784609B

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：CN200480009690.1

申请日：2004-02-16

申请人： 爱德万测试株式会社

发明人： 克里沙瓦米·瑞马克德兰 ,  辛区·赫杉吉尔 ,  安肯·拉马尼克 ,  马克·艾尔斯顿 ,  陈良力 ,  足立敏明 ,  田原善文

IPC分类号： G01R31/319 ,  G01R31/3183 ,  G06F11/263

CPC分类号： G01R31/31907 ,  G01R31/318307 ,  G01R31/318342

摘要： 本发明描述了一种用于例如自动测试装置(ATE)等的使用面向对象结构的半导体测试系统的测试程序。本发明提供一种以通用面向对象结构(例如，C++对象和类)来描述测试系统资源、测试系统配置、模块配置测试序列、测试计划、测试条件、测试模式和计时信息的方法。特定而言，程序开发的模块性适用于开发开放式架构半导体测试系统的测试程序。