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公开(公告)号：CN119354825A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411458481.0
申请日：2024-10-17
Applicant: 湖南大学 , 江苏优普纳科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种包覆燃料颗粒光学各向异性检测方法、装置及计算设备，方法包括：遍历采集覆盖整个金相样品的多个第一视野金相截面图像，以确定各个包覆燃料颗粒的图像位置信息，并进行坐标拼接得到全局坐标地图；基于全局坐标地图逐一采集每个包覆燃料颗粒的第二视野金相截面图像；利用语义分割模型对第二视野金相截面图像进行涂层界定，进而对包覆燃料颗粒进行可测性分析，以筛选出多个目标包覆燃料颗粒；基于图层界定图像从目标包覆燃料颗粒的第二视野金相截面图像中提取致密热解炭层区域，从中选取待测区域对其进行反射率测量，以确定目标包覆燃料颗粒的光学各向异性。本发明能实现对包覆燃料颗粒光学各向异性检测流程的自动化和智能化。
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公开(公告)号：CN116824064B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202310868643.7
申请日：2023-07-14
Applicant: 湖南大学
IPC: G06T17/00 , G06T5/70 , G06T7/80 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种点云数据模型生成方法、装置、计算设备及存储介质，方法包括：获取目标物体的点云输入数据；将所述点云输入数据输入点云上采样网络模型进行处理，以生成点云数据模型，以便根据所述点云数据模型抓取所述目标物体；其中，所述点云上采样网络模型包括依次耦接的特征提取模块、上采样模块和坐标重建模块，所述上采样模块包中包括自注意力机制模块。根据本发明的技术方案，生成的点云数据模型异常值更少、模型轮廓特征更明显。
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公开(公告)号：CN116823626A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310819469.7
申请日：2023-07-05
Applicant: 江苏优普纳科技有限公司 , 湖南大学
Abstract: 本申请公开了基于模板匹配的LED芯片角度修正方法及芯片角度修正装置。其中基于模板匹配的LED芯片角度修正方法，包括：获取待修正图像，待修正图像通过对LED芯片晶圆盘进行图像采集得到，LED芯片晶圆盘上包含多个LED芯片；利用芯片模板图像，检测待修正图像中各LED芯片的角度；基于各LED芯片的角度，确定可修正合格的LED芯片的最大集合；根据最大集合中各LED芯片的角度，确定出倾斜角度均值；按照倾斜角度均值旋转所述LED芯片晶圆盘，以实现晶圆盘中LED芯片的角度修正。
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公开(公告)号：CN116690581A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310868774.5
申请日：2023-07-14
Applicant: 湖南大学
Abstract: 本发明公开了一种抓取控制方法、软体抓手、计算设备及存储介质，方法在计算设备中执行以控制软体抓手抓取目标物体，所述方法包括：获取目标物体的点云输入数据；将所述点云输入数据输入点云上采样网络模型进行处理，以生成点云数据模型；根据所述点云数据模型确定目标抓取点和抓取参数，并根据所述目标抓取点和抓取参数控制所述软体抓手抓取目标物体。根据本发明的技术方案，能实现更加精准、高效地控制软体抓手对目标物体进行适应性抓取。
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公开(公告)号：CN115829945A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211440854.2
申请日：2022-11-17
Applicant: 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 湖南大学
Abstract: 本发明公开了一种图像中包覆燃料颗粒的检测方法，包括：获取包含包覆燃料颗粒的切片的输入图像；将输入图像输入到结合特征金字塔结构的主干网络中进行特征提取，得到第一特征图；将第一特征图输入锚框生成网络，得到锚框，并通过锚框对第一特征图进行修正，得到修正后的第二特征图；将锚框和第二特征图输入到建议提案网络中，得到建议区域；对建议区域在第二特征图上的映射进行感兴趣区域对齐操作，得到固定尺寸的第三特征图；将第三特征图输入到全卷积网络中，得到输入图像中包覆燃料颗粒的类别和位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104850721A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201510299191.0
申请日：2015-06-03
Applicant: 湖南大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于概率和区间的混合进行外声场预测的方法。所述方法包括：对壳结构进行有限元分析，建立结构域的有限元模型；对壳结构的外声场进行边界元分析，建立声场域的边界元模型；基于有限元模型和边界元模型，并考虑声场域与结构域在边界处的耦合作用，建立外声场分析的有限元/边界元耦合模型；根据耦合模型确定声压频率响应公式，并将公式中的外声场变量划分为随机变量和区间变量；结合概率分析方法和区间分析方法求解声压频率响应公式，得到声压频率响应的期望上下界和方差上下界。本发明还公开了一种与所述基于概率和区间的混合进行外声场预测的方法对应的基于概率和区间的混合进行外声场预测的装置和包括该装置的计算设备。
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公开(公告)号：CN117197101A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311203492.X
申请日：2023-09-18
Applicant: 湖南大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/73 , G06V10/764
Abstract: 本发明公开了一种缺陷检测方法、计算设备以及存储介质，缺陷检测方法在计算设备中执行，该方法包括：将环形工件图像中的环形区域，转换为矩形，得到矩形图像；基于矩形图像，生成至少一个样本图像；将各样本图像分别输入缺陷确定模型中进行处理，以对应输出检测结果并生成对应的类激活热力图组，检测结果包括各样本图像是否包含缺陷；针对各类激活热力图组，确定包含缺陷的初始目标区域并生成自参考模板，其中，自参考模板指示该样本图像中不包含缺陷的区域；将各初始目标区域与相应自参考模板进行匹配，确定出缺陷区域的像素位置。该方法利用缺陷确定模型与无缺陷模板相结合，可以更高效、更准确地检测缺陷，此外有利于降低构建坡口缺陷数据集的成本。
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公开(公告)号：CN115409787A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210983492.5
申请日：2022-08-16
Applicant: 湖南大学 , 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/25
Abstract: 本发明公开了一种小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法，包括：获取光模块底座的图像；对光模块底座的图像进行预处理；根据光模块底座的缺陷分布位置，从预处理后的图像提取出至少一个感兴趣区域；将提取到的感兴趣区域作为检测块进行缺陷检测，得到检测块的缺陷类型；采用与缺陷类型相应的算法提取检测块的特征向量；将特征向量输入训练好的分类模型中，判断检测块中是否存在缺陷类型对应的缺陷。本发明的技术方案提升了小型可插拔收发光模块底座缺陷检测的准确率。
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公开(公告)号：CN110428916A
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201910621193.5
申请日：2019-07-10
Applicant: 湖南大学
Abstract: 本发明公开了一种包覆颗粒的厚度检测方法，适于在计算设备中执行，所述包覆颗粒包括内核层和至少一个包覆层，该方法包括步骤：获取包括待测包覆颗粒的全局剖面图像，并从全局剖面图像中提取待测颗粒图像；从待测颗粒图像中确定各层的种子点，并基于各层的种子点进行种子区域生长，得到各层的区域范围；基于各层的区域范围计算各层的轮廓线，并确定内核层的中心点；以及根据内核层的中心点和各层的轮廓线计算各层的厚度。本发明一并公开了相应的包覆颗粒的厚度检测装置和计算设备。
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