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公开(公告)号：CN109597138B
公开(公告)日：2024-09-17
申请号：CN201910009043.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明公开了一种物品检测装置，包括：门式框架，包括位于顶部的横臂，和位于所述横臂两侧并与所述横臂连接的两个竖臂，所述门式框架通过所述横臂和所述两个竖臂所围成的区域构成检测通道；回转支撑装置，分别连接在所述两个竖臂的上端，用于支撑所述横臂，并能够通过自身的旋转运动使所述两个竖臂分别绕自身竖直轴线旋转；以及基于辐射成像的物品检测组件，至少部分地设置于所述门式框架，用于对通过所述门式框架的物品进行检测；其中，所述横臂包括伸缩装置，能够通过自身的伸缩运动改变所述横臂的长度。本发明实施例通过所述伸缩装置的伸缩运动改变所述横臂的长度，从而提升对不同待检测物品的检测效率。
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公开(公告)号：CN109407163B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN201910009050.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本公开提供一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和/或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。
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公开(公告)号：CN118091776A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410225429.4
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明涉及一种扫描检查系统和扫描检查方法，其中扫描检查系统，包括：检测装置，用于检测被检物(2；2′)的防护属性；扫描装置(1)，可动地设置，用于在运动的过程中发射扫描射线以对所述被检物(2；2′)进行扫描检查，其具有至少两个工作模式，每个所述工作模式对应的扫描射线的剂量与其他所述工作模式对应的扫描射线的剂量不同；和控制装置，用于根据所述检测装置所检测的所述被检物(2；2′)的防护属性调节所述扫描装置(1)的工作模式。本发明可以根据被检物的防护属性实现针对性检查，有效保护需要避让的被检物，同时避免漏检；可以适应倒车以及混编等复杂情况。
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公开(公告)号：CN109932755A
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201910108201.6
申请日：2019-02-03
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开涉及一种可行走式检查设备及控制方法。可行走式检查设备包括：第一车体(10)和设置在第一车体(10)中的射线源(40)；第二车体(20)和设置在第二车体(20)上的防护墙；臂架(30)和设置在所述臂架(30)上的多个探测器(50)，所述臂架(30)分别与所述第一车体(10)和所述第二车体(20)可转动地连接；至少两个独立驱动和独立转向的第一驱动轮(60)，设置在所述第一车体(10)上，用于实现所述第一车体(10)的行走和转向；和至少两个独立驱动和独立转向的第二驱动轮(70)，设置在所述第二车体(20)上，用于实现所述第二车体(20)的行走和转向。本公开实施例能够满足更加灵活的工作需求。
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公开(公告)号：CN109407163A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201910009050.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开提供一种辐射检查系统和辐射检查方法。辐射检查系统包括多个辐射检查通道，用于通过被检物；辐射源，设于多个辐射检查通道围成的区域内，用于向多个辐射检查通道发射辐射检查射线以对通过多个辐射检查通道内的被检物进行辐射检查；探测装置，用于探测多个辐射检查通道内被辐射检查射线照射的待检物的透射射线和/或背散射射线。该辐射检查系统具有多个辐射检查通道，可以同时对多个被检物进行辐射检查，同时可以有效利用辐射源发出的多个角度的辐射检查射线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109633767A
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201910009025.0
申请日：2019-01-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00
CPC classification number: G01V5/0016
Abstract: 本发明涉及一种检查装置及基于该检查装置的转场方法，其中检查装置包括：臂架(1)，设有多个探测器，并用于形成检查通道(5)；第一舱体(2)，设有射线源，并与臂架连接；防护墙(3)，与第一舱体或臂架连接，用于对待防护对象进行射线防护；和移动组件，用于使臂架、第一舱体和防护墙相对于地面(7)发生移动；其中，臂架、第一舱体和防护墙被设置为在连接状态下一起运输。本发明设有移动组件，可使臂架、第一舱体和防护墙相对于地面发生移动；可以解决现有检查系统需要在检查现场重新安装和调试的问题；防护墙也与臂架和第一舱体在连接状态下一起运输，可避免在检查现场重新搭建防护墙和进行防护墙土建工作，提高转场效率。
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公开(公告)号：CN109597138A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201910009043.9
申请日：2019-01-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/00
Abstract: 本发明公开了一种物品检测装置，包括：门式框架，包括位于顶部的横臂，和位于所述横臂两侧并与所述横臂连接的两个竖臂，所述门式框架通过所述横臂和所述两个竖臂所围成的区域构成检测通道；回转支撑装置，分别连接在所述两个竖臂的上端，用于支撑所述横臂，并能够通过自身的旋转运动使所述两个竖臂分别绕自身竖直轴线旋转；以及基于辐射成像的物品检测组件，至少部分地设置于所述门式框架，用于对通过所述门式框架的物品进行检测；其中，所述横臂包括伸缩装置，能够通过自身的伸缩运动改变所述横臂的长度。本发明实施例通过所述伸缩装置的伸缩运动改变所述横臂的长度，从而提升对不同待检测物品的检测效率。
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公开(公告)号：CN109521480A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201910008952.0
申请日：2019-01-04
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V5/00
Abstract: 本公开提供了一种辐射检查设备和辐射检查方法。辐射检查设备包括：辐射探测装置，包括射线源和与射线源配合以对被检物进行扫描检查的探测器，辐射探测装置具有用于被检物在接受扫描检查时通过的检查通道；和行走轮，设置于辐射探测装置的底部，用于辐射检查设备沿检查通道的延伸方向行走，其中，行走轮设置为可旋转90°以使辐射检查设备沿垂直于检查通道的延伸方向的方向行走。基于本公开提供的辐射检查设备和辐射检查方法，可以实现对多排被检物的连续扫描检查，提高辐射检查设备的使用效率。
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公开(公告)号：CN109682934A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201910108228.5
申请日：2019-02-03
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
CPC classification number: G01N33/0009 , G01B11/00 , G01B11/24
Abstract: 本公开涉及一种电子鼻定位装置及定位方法。电子鼻定位装置包括：载体(10)；电子鼻(20)，设置在所述载体(10)上；调整机构(30)，用于调整所述电子鼻(20)的采集位置；和激光传感单元(40)，设置在所述载体(10)、所述电子鼻(20)或者所述调整机构(30)上，用于对待检对象(60)进行扫描，以确定所述待检对象(60)的气味采集部位(61)的位置。本公开实施例能够简化电子鼻的检查流程。
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公开(公告)号：CN109521481B
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN201910009046.2
申请日：2019-01-04
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学 , 同方威视科技(北京)有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本公开涉及一种检查装置，包括：第一车体(100)和设置在第一车体(100)中的射线源；第二车体(200)和设置在第二车体(200)上的防护墙；和臂架(400)和设置在所述臂架(400)上的多个探测器；其中，所述臂架(400)分别与所述第一车体(100)和所述第二车体(200)可转动地连接，用于与所述第一车体(100)和所述第二车体(200)共同形成检查通道。本公开实施例能够提高适应性。
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