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公开(公告)号：CN118498512A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410688594.3
申请日：2024-05-30
Applicant: 中国建筑第八工程局有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明涉及一种约束格构式复材变截面构件的节点，包括节点内芯、用于将复材杆件箍设于该节点内芯外周的两块半箍板，两块该半箍板的两端相互对接连接，该节点内芯的外周面上沿轴向通长开设有第一通槽，该半箍板的内周面上沿轴向通长开设有第二通槽，该第一通槽与该第二通槽相对设置，该第一通槽与该第二通槽围设形成供该复材杆件容置的容置空间。本发明在复材杆件进行生产时不采用拉挤工艺，而是在安装加工时根据实际需求采用适合容置宽度的节点内芯与半箍板进行安装组合，从而改变复材杆件的组合数量，解决了现有技术中的复材杆件难以在加工过程中实现变截面的技术问题。本发明为装配式结构，尺寸小，自重小，便于运输和安装。
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公开(公告)号：CN1731135A
公开(公告)日：2006-02-08
申请号：CN200510086228.8
申请日：2005-08-15
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种扫描显微环境下的薄膜拉伸加载装置与薄膜变形测量方法，属显微扫描无损检测和精密机械领域。该发明是通过设计能进行三维位置和角度调整的机械结构、压电陶瓷驱动系统、力缓冲系统等在原子力扫描显微镜和电子束扫描显微镜检测平台上完成薄膜变形测量，可对微尺度薄膜的全域或局部区域的变形场进行定量检测，被测薄膜厚度从数微米到亚微米厚度，装置可以多次使用，适合不同厚度和尺度的薄膜材料和结构的变形检测，可结合双曝光数字散斑技术、图像相关技术或微标记技术实现高空间分辨镜原子力扫描显微镜或电子束扫描显微镜环境下的薄膜原位、在线检测。
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公开(公告)号：CN118601157A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410688608.1
申请日：2024-05-30
Applicant: 中国建筑第八工程局有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明涉及两种格构式复材构件的基座，一种是固定式的，一种是滑动式的。固定式的基座包括安装座，所述安装座包括筒体以及用于固定在地面上的基座板，所述基座板固定于所述筒体的底部，所述筒体上开设有供复材杆件安装的安装孔，所述筒体的轴线呈目标角度设置。滑动式的基座包括用于滑动安装在地面上且供复材杆件安装的安装座、用于设置在地面与该安装座之间的多根圆滚棒、用于固定在地面上且用于限位安装座的水平移位和竖向移位的限位组件，安装座的轴线呈目标角度设置，多根圆滚棒水平排列设置，且该圆滚棒与安装座水平移位方向垂直，限位组件包括相对设于安装座的两侧且呈L型的第一限位块和第二限位块。本发明通过呈角度设置且可进行水平滑动的安装座供复材杆件进行安装，解决了现有技术中的基座结构无法满足约束格构式复材构件两端释放位移并具有一定转角的安装的技术问题，通过安装座能够部分释放构件一端的水平位移，通过力检测器实时测量构件端部的水平反力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100405040C
公开(公告)日：2008-07-23
申请号：CN200510086228.8
申请日：2005-08-15
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种扫描显微环境下的薄膜拉伸加载装置与薄膜变形测量方法，属显微扫描无损检测和精密机械领域。该发明是通过设计能进行三维位置和角度调整的机械结构、压电陶瓷驱动系统、力缓冲系统等在原子力扫描显微镜和电子束扫描显微镜检测平台上完成薄膜变形测量，可对微尺度薄膜的全域或局部区域的变形场进行定量检测，被测薄膜厚度从数微米到亚微米厚度，装置可以多次使用，适合不同厚度和尺度的薄膜材料和结构的变形检测，可结合双曝光数字散斑技术、图像相关技术或微标记技术实现高空间分辨镜原子力扫描显微镜或电子束扫描显微镜环境下的薄膜原位、在线检测。
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公开(公告)号：CN112806964A
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN202110115247.8
申请日：2021-01-28
Applicant: 清华大学
Abstract: 本发明公开了一种舌象分析方法和系统，包括：在开放环境下，采集包含舌头部分的二维图像和三维图像；从二维图像中提取出二维舌象；对二维舌象进行颜色校正，以将二维舌象矫正到处于预设标准环境中的颜色；对经过颜色校正后的二维舌象进行瘀斑瘀点识别、苔质分离、舌质颜色标定、舌苔特征标定，以获得舌头部分的瘀斑瘀点信息、舌质颜色信息和舌苔特征信息；从三维图像中提取出三维舌象；从三维舌象中提取出关于舌体的物理尺寸信息。本发明满足了多种光照环境下的舌象采集的需求和医务人员对舌象分析的需求。同时，本发明实现了舌象的二维数据和三维数据的同时采集，给舌象的对比、诊断提供了便利。
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公开(公告)号：CN1537704A
公开(公告)日：2004-10-20
申请号：CN200310101677.6
申请日：2003-10-24
Applicant: 清华大学
IPC: B25J9/08
Abstract: 一种二维转动一维移动并联机器人机构，属于工业机器人和机械制造领域。本发明包括定平台、动平台以及连接定平台和动平台的三个分支，三个分支中两个分支结构相同，各包含一个作为驱动副的单自由度运动副，分别通过两个虎克铰与定平台和动平台连接，另一个分支是直线驱动的可伸缩连杆，一端与定平台固连，另一端通过虎克铰与所述动平台相连；定平台与三个分支相交于不在一条直线上A、B、C三点，动平台与三个分支相交于不在一条直线上的与定平台相对应的A′、B′、C′三点，定平台上虎克铰轴线相互平行，动平台上虎克铰轴线相互平行。本发明具有高精度、低运动质量、高动态性能、运动学正反解简单、运动方式明确、结构简单的优点。
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公开(公告)号：CN2867337Y
公开(公告)日：2007-02-07
申请号：CN200520023172.7
申请日：2005-08-15
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种扫描显微环境下的薄膜拉伸加载装置，属显微扫描无损检测和精密机械领域。该实用新型是通过设计能进行三维位置和角度调整的机械结构、压电陶瓷驱动系统、力缓冲系统等在原子力扫描显微镜和电子束扫描显微镜检测平台上完成薄膜变形测量，可对微尺度薄膜的全域或局部区域的变形场进行定量检测，被测薄膜厚度从数微米到亚微米厚度，装置可以多次使用，适合不同厚度和尺度的薄膜材料和结构的变形检测，可结合双曝光数字散斑技术、图像相关技术或微标记技术实现高空间分辨镜原子力扫描显微镜或电子束扫描显微镜环境下的薄膜原位、在线检测。
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公开(公告)号：CN2695959Y
公开(公告)日：2005-04-27
申请号：CN200420048281.X
申请日：2004-04-14
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/45
Abstract: 本实用新型公开了属于光电无损检测和精密机械领域的一体化双视场实时薄膜微变形测量装置及方法。检测装置的激光器、光分束器、扩束镜、成像透镜、固体摄像机及全反镜等组成面内、离面ESPI检测单元按光路连接分别安置在一光学隔振平台上；单轴拉伸与弯曲微力加载单元MFU置于双视场光路中。本方法是按薄膜单轴变形与轴向拉伸微力测量同时进行，利用面内ESPI干涉单元和离面ESPI干涉单元分别对被测膜表面和测力弹性梁弯曲面的散斑图进行记录和处理，按通用计算方法计算出被测膜的各种力学参数。适用微米到亚微米厚度薄膜力学性能检测与分析。
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