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公开(公告)号:CN113838964B
公开(公告)日:2023-11-24
申请号:CN202111080289.9
申请日:2021-09-15
Applicant: 北京量子信息科学研究院 , 清华大学
Abstract: 本发明涉及异质结技术领域,具体而言,涉及一种超导‑半导体纳米线异质结,包括衬底,以及生长在所述衬底上的半导体纳米线和超导体层,所述超导体层至少一部分与所述半导体纳米线直接接触;其中,所述半导体纳米线的材料为化合物半导体PbTe,所述超导体层的材料为元素超导体Pb,所述衬底的材料为化合物半导体
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公开(公告)号:CN117199121A
公开(公告)日:2023-12-08
申请号:CN202311132003.6
申请日:2023-09-04
Applicant: 清华大学
IPC: H01L29/775 , H01L29/06 , H01L21/335
Abstract: 本申请涉及量子计算技术领域,特别是涉及一种超导‑半导体纳米线异质结及其衬底、制备方法和器件。可以满足超导‑半导体纳米线异质结对衬底的高平整性、绝缘和耐高温需求。一种超导‑半导体纳米线异质结的衬底,包括:衬底本体,以及设置于所述衬底本体沿其厚度方向一侧的缓冲层;其中,所述缓冲层包括:掺铕碲化铅晶体薄膜。
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公开(公告)号:CN113889564A
公开(公告)日:2022-01-04
申请号:CN202111081892.9
申请日:2021-09-15
Applicant: 北京量子信息科学研究院 , 清华大学
IPC: H01L39/24
Abstract: 本发明涉及异质结制备技术领域,具体而言,涉及一种复合材料异质结的制备方法。该制备方法包括以下步骤:在衬底上镀掩模,在掩模上甩预设厚度的HSQ Fox‑系列电子束光刻胶,经曝光显影后在掩模上形成光刻胶三维图形。在掩模及光刻胶三维图形上甩正性电子束光刻胶,经电子束曝光显影后在掩模上形成凹槽,刻蚀除去凹槽中的掩模,除去正性电子束光刻胶。利用分子束外延技术在所述凹槽中的衬底上生长第一相材料,使光刻胶三维图形相对第二相材料束流方向倾斜预设角度,使光刻胶三维图形的投影部分遮挡部分第一相材料,在未遮挡部分原位生长第二相材料以形成异质结;第一相材料为半导体纳米线。该方法能够进行选区生长半导体纳米线。
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公开(公告)号:CN113838964A
公开(公告)日:2021-12-24
申请号:CN202111080289.9
申请日:2021-09-15
Applicant: 北京量子信息科学研究院 , 清华大学
Abstract: 本发明涉及异质结技术领域,具体而言,涉及一种超导‑半导体纳米线异质结,包括衬底,以及生长在所述衬底上的半导体纳米线和超导体层,所述超导体层至少一部分与所述半导体纳米线直接接触;其中,所述半导体纳米线的材料为化合物半导体PbTe,所述超导体层的材料为元素超导体Pb,所述衬底的材料为化合物半导体CdTe。本发明还涉及所述超导‑半导体纳米线异质结的制备方法。本发明进一步涉及一种包含所述超导‑半导体纳米线异质结的器件。
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