公开(公告)号：CN117589299A

公开(公告)日：2024-02-23

申请号：CN202310379218.1

申请日：2023-03-31

Applicant: 深圳中科飞测科技股份有限公司

Inventor： 陈鲁 ,  张晨雨 ,  王南朔 ,  马砚忠 ,  张嵩

IPC: G01J3/28 ,  G01N21/27 ,  G01B11/02 ,  G01B11/06 ,  G01B11/26

Abstract: 本发明实施例公开了一种校准方法、装置、系统及可读介质，校准方法包括：通过探测元件获取第二检测光波照射下形成的第二测量光谱信息；基于第二测量光谱信息以及参考信息确定校准参数，校准参数用于对探测元件的测量光谱信息进行校准；其中，参考信息为第二检测光波的入射光谱信息；或，校准方法还包括第一测量光谱获取步骤；第一测量光谱获取步骤包括：通过探测元件在第一检测光波下对第一基准样品进行检测获取第一测量光谱信息，参考信息包括第一测量光谱信息和第一基准样品的第一出光率信息，第一出光率信息为第一检测光波经过第一基准样品到达探测元件的出光效率。本发明实施例公开的校准方法能获得校准参数对进行校准，校准精度更高。

公开(公告)号：CN116793230A

公开(公告)日：2023-09-22

申请号：CN202210254782.6

申请日：2022-03-15

Applicant: 深圳中科飞测科技股份有限公司

Inventor： 陈鲁 ,  王南朔 ,  张晨雨 ,  马砚忠 ,  张嵩

IPC: G01B11/06

Abstract: 本发明提供一种检测方法及检测系统，其中检测方法包括：通过第一检测光获取第一信号光，第一检测光包括第一波长范围及第二波长范围；通过第二检测光获取第二信号光，第二检测光包括第二波长范围且不包含第一波长范围；对第一补偿处理之后的第一检出信息与第二检出信息进行第一差值处理，获取第一波长范围内各波长的第一信号光的光学特征与第二信号光的光学特征的第一差值与波长的对应关系，得到第一波长范围的第一差值检出信息；根据第一差值检出信息获取组合检出信息；根据组合检出信息获取待测物的待测信息。本发明能够消除第二波长范围的检测光对第一波长范围检测光的串扰，进而得到不具有串扰时第二波长范围的检出信息，进而能提高检测精度。