测量装置和测量方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110887820B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN201910847273.2

    申请日:2019-09-09

    Abstract: 测量装置(1A)具备干涉图像取得部(2)、荧光图像取得部(3)、运算部(4)和时序控制电路(5)。运算部(4)基于由干涉图像取得部(2)取得的干涉图像来制作光学厚度图像,并且制作表示由荧光图像取得部(3)取得的荧光图像中的像素值大于阈值的区域的掩模图像,并且在由光学厚度图像中的掩模图像表示的区域中求得光学厚度的积分值。由此,实现了能够精确测量样品中的对象物的量的装置和方法。

    观察装置和观察方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118339494A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202280078837.0

    申请日:2022-09-29

    Abstract: 本发明的观察装置(1A)具备:光源(11)、反射镜(22)、聚光透镜(24)、物镜(25)、分束器(41)、拍摄部(43)以及解析部(60)。解析部(60)具备:干涉强度图像获取部(61)、第一复振幅图像生成部(62)、第二复振幅图像生成部(63)、相位共轭运算部(64)、二维相位图像生成部(65)、三维相位图像生成部(66)、以及折射率分布计算部(67)。解析部(60),通过使反射镜(22)的反射面的方位变化而对观察对象物(S)沿着多个光照射方向的各个照射光,针对多个光照射方向的各个从拍摄部(43)获取基准位置的干涉强度图像,通过基于这些干涉强度图像进行所需的处理二求出观察对象物的三维相位图像。由此,实现能够降低多重散射光的影响而对观察对象物进行观察的观察装置。

    细胞判定方法、细胞判定装置及细胞判定程序

    公开(公告)号:CN108026563B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201680053584.6

    申请日:2016-06-22

    Abstract: 本发明涉及一种细胞判定方法,所述细胞判定方法根据细胞内的糖原的含量判定细胞种类,并且具备:取得步骤,测定细胞的光路长度,取得光路长度数据;计算步骤,根据得到的光路长度数据,计算出与细胞的光路长度相关的光路长度指标;比较步骤,将计算出的光路长度指标与阈值进行比较;和判定步骤,根据比较的结果,判定细胞是细胞内的糖原含量多的细胞种类或者是细胞内的糖原含量少的细胞种类。

    干涉图像取得装置和干涉图像取得方法

    公开(公告)号:CN111556951A

    公开(公告)日:2020-08-18

    申请号:CN201880085772.6

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 干涉图像取得装置(1)包括光源(11)、分光镜(12)、物镜(13)、物镜(14)、第2反射镜(15)、镜筒透镜(16)、分光镜(17)、摄像器(18)和第1反射镜(20)。在透明件(容器(70)的底部)的一侧配置有细胞(73),在该透明件的另一侧配置有第1反射镜(20)。在双光束干涉计中,由第1反射镜(20)反射的第1光束的光程与由第2反射镜(15)反射的第2光束的光程之间的光程差为从光源(11)输出的光的相干长度以下。摄像器(18)在摄像面与第1反射镜(20)之间的第1光学系统中相对于摄像面共轭的位置配置有细胞(73)的状态下取得干涉图像。由此,能够实现在反射镜与对象物彼此隔开间隔时能够取得鲜明的干涉图像的装置和方法。

    荧光测定装置及荧光测定方法

    公开(公告)号:CN111542749A

    公开(公告)日:2020-08-14

    申请号:CN201880085110.9

    申请日:2018-10-30

    Abstract: 荧光测定装置(1A)具备取得包含对象物的荧光图像的荧光图像取得部(3)、取得包含对象物的干涉图像的干涉图像取得部(2)及运算部(4)。运算部(4)基于由干涉图像取得部取得的干涉图像,求出光学厚度图像,在共同地设定于由荧光图像取得部取得的荧光图像及光学厚度图像的双方的关注区域中,基于荧光图像的荧光强度的积分值和光学厚度图像的光学厚度的积分值,求出对象物的荧光表达率。由此,可实现能够正确地求出关注区域内的对象物的荧光表达率的荧光测定装置及荧光测定方法。

    测量装置和测量方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110887820A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201910847273.2

    申请日:2019-09-09

    Abstract: 测量装置(1A)具备干涉图像取得部(2)、荧光图像取得部(3)、运算部(4)和时序控制电路(5)。运算部(4)基于由干涉图像取得部(2)取得的干涉图像来制作光学厚度图像,并且制作表示由荧光图像取得部(3)取得的荧光图像中的像素值大于阈值的区域的掩模图像,并且在由光学厚度图像中的掩模图像表示的区域中求得光学厚度的积分值。由此,实现了能够精确测量样品中的对象物的量的装置和方法。

    观察装置和观察方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118451312A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202280078907.2

    申请日:2022-09-29

    Abstract: 观察装置(1A)具备光源(10)、分束器(21)、镜(22)、镜(23)、柱面透镜(24)、透镜(25)、柱面透镜(26)、分束器(27)、透镜(28)、移频器(30)、拍摄部(40)和解析部(50)。解析部(50)基于从拍摄部(40)输出的干涉强度图像的时间序列数据,生成物光的多个光照射方向各自的复振幅图像,基于这些多个光照射方向各自的复振幅图像,生成观察对象物(S)的三维复微分干涉图像。解析部(50)基于三维复微分干涉图像求取观察对象物(S)的三维相位图像。由此,实现了一种观察装置,其即使在移动的观察对象物为多重散射体的情况下,也能够降低多重散射光的影响地对观察对象物进行观察。

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