测量装置和测量方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110887820B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN201910847273.2

    申请日:2019-09-09

    Abstract: 测量装置(1A)具备干涉图像取得部(2)、荧光图像取得部(3)、运算部(4)和时序控制电路(5)。运算部(4)基于由干涉图像取得部(2)取得的干涉图像来制作光学厚度图像,并且制作表示由荧光图像取得部(3)取得的荧光图像中的像素值大于阈值的区域的掩模图像,并且在由光学厚度图像中的掩模图像表示的区域中求得光学厚度的积分值。由此,实现了能够精确测量样品中的对象物的量的装置和方法。

    观察装置和观察方法
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115398304A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202180026046.9

    申请日:2021-03-03

    Abstract: 观察装置(1A)包括光源(11)、透镜(12)、偏振器(13)、第1棱镜(14)、聚光透镜(15)、物镜(21)、第2棱镜(22)、1/4波长板(23)、透镜(24)、偏振摄像机(26)和分析部(40)。第1棱镜(14)和第2棱镜(22)例如是沃拉斯顿棱镜或者诺马斯基棱镜。1/4波长板(23)输入从第2棱镜(22)输出的光,输出旋转方向相互不同的两个圆偏振光的光束。偏振摄像机(26)输入通过1/4波长板(23)而成为相互不同的旋转方向的圆偏振光的两个光束,针对3个以上的偏振光成分分别取得摄像面上的干涉图像。由此,实现光学系统的调整容易且能够在短时间内得到改善了定量性的复振幅图像的观察装置。

    观察装置和观察方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118339494A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202280078837.0

    申请日:2022-09-29

    Abstract: 本发明的观察装置(1A)具备:光源(11)、反射镜(22)、聚光透镜(24)、物镜(25)、分束器(41)、拍摄部(43)以及解析部(60)。解析部(60)具备:干涉强度图像获取部(61)、第一复振幅图像生成部(62)、第二复振幅图像生成部(63)、相位共轭运算部(64)、二维相位图像生成部(65)、三维相位图像生成部(66)、以及折射率分布计算部(67)。解析部(60),通过使反射镜(22)的反射面的方位变化而对观察对象物(S)沿着多个光照射方向的各个照射光,针对多个光照射方向的各个从拍摄部(43)获取基准位置的干涉强度图像,通过基于这些干涉强度图像进行所需的处理二求出观察对象物的三维相位图像。由此,实现能够降低多重散射光的影响而对观察对象物进行观察的观察装置。

    图像处理装置、图像处理方法、图像处理程序和记录介质

    公开(公告)号:CN115769248A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202180045788.6

    申请日:2021-05-24

    Abstract: 在噪声推算步骤S2中,推算包含沿着第1方向延伸的线状的噪声的对象图像中包含的噪声图像。此时,使用包含表示对对象图像进行了第2方向的微分处理和第1方向的低频分量提取处理的结果与对噪声图像进行了第2方向的微分处理和第1方向的低频分量提取处理的结果之差的第1项的评价函数,求出评价函数的值成为最小的噪声图像。在噪声降低步骤S3中,根据对象图像和噪声图像,从对象图像生成噪声降低后的图像。由此,实现能够对包含沿着一个方向延伸的线状的噪声的对象图像进行处理,生成维持了对象图像所具有的定量性的噪声降低处理后的图像的图像处理方法等。

    细胞评估方法和细胞评估装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118901010A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202380028539.5

    申请日:2023-03-16

    Abstract: 该细胞评估方法包括标记步骤S1、折射率分布获取步骤S2和分析步骤S3。在标记步骤S1,利用在第一波长和第二波长各波长下的折射率互不相同的标记物质,标记作为评估对象的细胞的特定部位。在折射率分布获取步骤S2,在第一波长和第二波长分别获取在标记步骤S1被标记了特定部位的细胞的折射率分布。在分析步骤S3,通过对第一波长和第二波长各波长下的折射率分布进行比较来评估细胞中的特定部位的分布。由此实现即使是对未知的细胞也能够容易地评估该细胞的方法。

    测量装置和测量方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110887820A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201910847273.2

    申请日:2019-09-09

    Abstract: 测量装置(1A)具备干涉图像取得部(2)、荧光图像取得部(3)、运算部(4)和时序控制电路(5)。运算部(4)基于由干涉图像取得部(2)取得的干涉图像来制作光学厚度图像,并且制作表示由荧光图像取得部(3)取得的荧光图像中的像素值大于阈值的区域的掩模图像,并且在由光学厚度图像中的掩模图像表示的区域中求得光学厚度的积分值。由此,实现了能够精确测量样品中的对象物的量的装置和方法。

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