-
公开(公告)号：CN114609050B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202210291866.7
申请日：2022-03-23
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于多偏振与照明模式的超分辨显微成像方法与装置，本发明基于多偏振光束的相干合成与大数值孔径物镜的聚焦实现了对聚焦光斑的三维偏振调控，与现有的偏振成像技术相比，多获取了1个维度的偏振信息，重构得到包含更丰富信息的超分辨图像。本发明在偏振转换的同时加入了照明模式的变换，照明模式的变换能克服光学衍射极限。本发明结合了三维偏振调控与照明模式变换，实现了超分辨显微成像。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114609050A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210291866.7
申请日：2022-03-23
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种基于多偏振与照明模式的超分辨显微成像方法与装置，本发明基于多偏振光束的相干合成与大数值孔径物镜的聚焦实现了对聚焦光斑的三维偏振调控，与现有的偏振成像技术相比，多获取了1个维度的偏振信息，重构得到包含更丰富信息的超分辨图像。本发明在偏振转换的同时加入了照明模式的变换，照明模式的变换能克服光学衍射极限。本发明结合了三维偏振调控与照明模式变换，实现了超分辨显微成像。
-
公开(公告)号：CN113281891B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202110547197.0
申请日：2021-05-19
Applicant: 浙江大学
IPC: G02B21/00
Abstract: 本发明公开了一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法与装置，该方法将激光器发出的激光光束的相位调制成0‑2nπ涡旋相位，其中n＞3；将调制后的光束与共聚焦扫描显微镜的物镜入瞳共轭，使得物镜的聚焦光斑为空心光斑，且空心光斑内环半径大于不进行相位调制时的实心光斑半径；使共聚焦扫描显微镜工作，实现暗场显微成像。本发明采用共聚焦设计，在探测器前放置一个小孔，小孔所在平面与物面共轭，阻挡了离焦信号进入探测器，这种设计提高了成像的信噪比和分辨率，使暗场显微成像具有良好的层析能力。
-
公开(公告)号：CN113281891A
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN202110547197.0
申请日：2021-05-19
Applicant: 浙江大学
IPC: G02B21/00
Abstract: 本发明公开了一种共聚焦扫描式暗场显微成像方法与装置，该方法将激光器发出的激光光束的相位调制成0‑2nπ涡旋相位，其中n＞3；将调制后的光束与共聚焦扫描显微镜的物镜入瞳共轭，使得物镜的聚焦光斑为空心光斑，且空心光斑内环半径大于不进行相位调制时的实心光斑半径；使共聚焦扫描显微镜工作，实现暗场显微成像。本发明采用共聚焦设计，在探测器前放置一个小孔，小孔所在平面与物面共轭，阻挡了离焦信号进入探测器，这种设计提高了成像的信噪比和分辨率，使暗场显微成像具有良好的层析能力。
-
公开(公告)号：CN113532271B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202110603303.2
申请日：2021-05-31
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开一种无标记三维超分辨显微方法，包括步骤：利用实心照明光束和空心照明光束对无标记样品同时进行二维扫描，得到由实心光斑调制得到的正共聚焦反射光强度图和由空心光斑调制得到的负共聚焦反射光强度图，并进行差分计算；采用差动测量扫描方法对样品进行扫描测量实现轴向超分辨，一个光电探测器置于焦平面的离焦距离‑uM处，另一个光电探测器置于焦平面的离焦距离+uM处，分别测得反映样品表面形貌变化大小的强度曲线，进行差动相减并进行归一化处理，后得到一个差分强度信号；根据强度曲线在零点附近AB线性测量范围内的光强大小，重构出样品表面形貌和微观尺度；并得到三维超分辨显微图像。
-
公开(公告)号：CN113532271A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110603303.2
申请日：2021-05-31
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开一种无标记三维超分辨显微方法，包括步骤：利用实心照明光束和空心照明光束对无标记样品同时进行二维扫描，得到由实心光斑调制得到的正共聚焦反射光强度图和由空心光斑调制得到的负共聚焦反射光强度图，并进行差分计算；采用差动测量扫描方法对样品进行扫描测量实现轴向超分辨，一个光电探测器置于焦平面的离焦距离‑uM处，另一个光电探测器置于焦平面的离焦距离+uM处，分别测得反映样品表面形貌变化大小的强度曲线，进行差动相减并进行归一化处理，后得到一个差分强度信号；根据强度曲线在零点附近AB线性测量范围内的光强大小，重构出样品表面形貌和微观尺度；并得到三维超分辨显微图像。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.047 seconds)
