基于实时控制性能评估的闭环阶跃测试方法和测试装置

    公开(公告)号:CN115079577B

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202210866322.9

    申请日:2022-07-22

    IPC分类号: G05B13/04

    摘要: 本发明涉及一种基于实时控制性能评估的闭环阶跃测试方法和测试装置,该闭环阶跃测试方法包括:基于数据经验的控制性能实时评估方法对目标控制系统进行性能评估,得到目标控制系统的当前性能评估值;其中,目标控制系统包括PID控制系统和APC控制系统;在确定当前性能评估值小于等于预设性能值的情况下,生成阶跃测试信号;其中,预设性能值是根据目标控制系统的历史基准性能值和第一预设系数进行确定的;利用阶跃测试信号,对目标控制系统进行阶跃测试。借助于上述技术方案,本申请实施例使得闭环测试技术方案完全自动化,实用性更强,应用范围也更广。

    基于实时控制性能评估的闭环阶跃测试方法和测试装置

    公开(公告)号:CN115079577A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210866322.9

    申请日:2022-07-22

    IPC分类号: G05B13/04

    摘要: 本发明涉及一种基于实时控制性能评估的闭环阶跃测试方法和测试装置,该闭环阶跃测试方法包括:基于数据经验的控制性能实时评估方法对目标控制系统进行性能评估,得到目标控制系统的当前性能评估值;其中,目标控制系统包括PID控制系统和APC控制系统;在确定当前性能评估值小于等于预设性能值的情况下,生成阶跃测试信号;其中,预设性能值是根据目标控制系统的历史基准性能值和第一预设系数进行确定的;利用阶跃测试信号,对目标控制系统进行阶跃测试。借助于上述技术方案,本申请实施例使得闭环测试技术方案完全自动化,实用性更强,应用范围也更广。