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公开(公告)号：CN110599470B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN201910817272.3
申请日：2019-08-30
Applicant: 武汉科技大学
Abstract: 本发明涉及一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法，涉及磁瓦表面缺陷检测领。该系统包括：图像采集装置和计算机系统；图像采集装置用于采集磁瓦表面图像，所述计算机系统对所述磁瓦表面图像进行可疑区判断和并将所述可疑区分割出来，得到可疑区图像，提取所述可疑区图像的几何特征、灰度特征和纹理特征，所述计算机系统将所述几何特征、所述灰度特征和所述纹理特征输入到预先训练完成的分类器中，获得磁瓦表面缺陷的检测结果，通过分类识别算法实现高精度分类识别磁瓦缺陷，并实现了自动化检测磁瓦缺陷，减少了人力成本、提高了效率和识别准确率。
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公开(公告)号：CN110599470A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910817272.3
申请日：2019-08-30
Applicant: 武汉科技大学
Abstract: 本发明涉及一种磁瓦表面缺陷检测系统和方法，涉及磁瓦表面缺陷检测领。该系统包括：图像采集装置和计算机系统；图像采集装置用于采集磁瓦表面图像，所述计算机系统对所述磁瓦表面图像进行可疑区判断和并将所述可疑区分割出来，得到可疑区图像，提取所述可疑区图像的几何特征、灰度特征和纹理特征，所述计算机系统将所述几何特征、所述灰度特征和所述纹理特征输入到预先训练完成的分类器中，获得磁瓦表面缺陷的检测结果，通过分类识别算法实现高精度分类识别磁瓦缺陷，并实现了自动化检测磁瓦缺陷，减少了人力成本、提高了效率和识别准确率。
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