-
公开(公告)号：CN1758034A
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN200510108606.8
申请日：2005-10-08
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G06F11/2257 , G07C5/0808
Abstract: 本发明提供一种可以容易对适于判断检查/诊断装置中的检查对象物的正常/异常的判别知识进行搜索/确定的装置。该装置具有：对运算特征量的参数集进行搜索的参数搜索部(12)；特征量运算部(11)，其对于所赋予的包含正常数据和异常数据的学习用数据，基于所述搜索部所搜索出的参数集，运算多个特征量；一次评价部(12)，其根据由该特征量运算部求出的特征量的运算结果输出参数集的优良程度作为评价值；最优解候选输出单元(14)，其把在该一次评价部所求出的一次评价的结果中得到较高的一次评价值的参数集搜索结果作为最优解候选而输出；判别知识作成部(15)，其基于从该最优解候选数据单元输出的多个最优解候选作成判别知识；二次评价部(16)，其对该判别知识作成部所作成的多个判别知识进行评价；以及最优解输出部(17)，其基于该二次评价的结果输出评价值较高的判别知识作为最优解。
-
公开(公告)号：CN101788504A
公开(公告)日：2010-07-28
申请号：CN201010103978.2
申请日：2010-01-27
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/956 , H05K13/08
CPC classification number: H05K13/083 , H05K13/0815
Abstract: 提供部件安装基板的质量管理用的信息显示系统以方法。可容易监视基板质量是否下降和确定质量下降原因。按照部件安装基板上各测定对象部位(焊盘)相关的结构要素(部件种类—单片—部件—电极)的识别信息排列分层结构数据，设定具有第一轴和第二轴的二维区域，第一轴使各测定对象部位与该排列对应，第二轴按照处理顺序对各基板赋予顺序，按照该顺序排列表示各基板的生产条件的信息(批、刮板的识别信息)，生成在二维区域对应位置以色彩来排列各基板的各测定对象部位的测定数据的彩色分布图像。各测定数据显示为，白色表示合格的数值范围，红色系列的色彩表示比合格的数值范围大的数值，蓝色系列的色彩表示比合格的树脂范围小的数值。
-
公开(公告)号：CN1862259B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200610080225.8
申请日：2006-05-12
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/32186 , G05B2219/32197 , H05K13/083 , Y02P90/22
Abstract: 检查基准设定装置及方法、以及工序检查装置。本发明的课题是提供用于适当地设定检查基准的技术，该检查基准用于在工序检查中检测缺陷征兆。作为解决手段，信息处理装置将对于工序检查的各检查项目提取出的特征量以及最终检查的判断结果存储于存储单元中，根据存储于存储单元中的多个产品的数据，针对每个检查项目或每个检查项目的组合，计算在最终检查中判断为良品的产品组的特征量的分布和在最终检查中判断为次品的产品组的特征量的分布之间的分离度，从检查项目或检查项目的组合中，根据该分离度的大小，选择应重新设定检查基准的检查项目，对于所选择出的检查项目，设定新的检查基准。
-
公开(公告)号：CN100551223C
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200710091611.1
申请日：2007-04-03
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: H05K13/08
CPC classification number: H05K13/08 , G05B23/024
Abstract: 提供一种不花费成本而能够进行适当的主要原因推断的主要原因推断装置。推理引擎决定输入的特征(S11)，并参照输入源定义表，决定使人进行特征的输入还是使传感器进行特征的输入(S12)。在使人输入时，在显示器上显示对用户提问的内容，并使其输入回答(S13、S14)。在使来自传感器的数据输入时，语言变换单元从传感器经由传感器数据输入单元取得信息，语言变换单元将来自传感器的数值数据变换成语言值(S15、S16)。根据任意一个的处理，基于输入的数据，推理引擎进行推理(S17)。将其进行到满足推理结束条件为止(在S18为“是”)，(GUI)对用户显示推理结果(S19)。
-
公开(公告)号：CN101788504B
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN201010103978.2
申请日：2010-01-27
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/956 , H05K13/08
CPC classification number: H05K13/083 , H05K13/0815
Abstract: 提供部件安装基板的质量管理用的信息显示系统以方法。可容易监视基板质量是否下降和确定质量下降原因。按照部件安装基板上各测定对象部位(焊盘)相关的结构要素(部件种类—单片—部件—电极)的识别信息排列分层结构数据，设定具有第一轴和第二轴的二维区域，第一轴使各测定对象部位与该排列对应，第二轴按照处理顺序对各基板赋予顺序，按照该顺序排列表示各基板的生产条件的信息(批、刮板的识别信息)，生成在二维区域对应位置以色彩来排列各基板的各测定对象部位的测定数据的彩色分布图像。各测定数据显示为，白色表示合格的数值范围，红色系列的色彩表示比合格的数值范围大的数值，蓝色系列的色彩表示比合格的树脂范围小的数值。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100523746C
公开(公告)日：2009-08-05
申请号：CN200710102273.7
申请日：2007-05-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种检查装置及检查方法。其课题在于，确定判别函数使得在非参量一类判别中使用的判别函数形成单一的合格品区域。作为解决手段，在检查装置的判别函数确定部(20)中，合格品区域数量判定部(26)判定在非参量一类判别中使用的判别函数是否在标绘了样本的输入空间中形成单一的合格品区域。如果合格品区域不是一个，则参数设定部(24)设定区域参数，使得该判别函数在标绘了样本的输入空间中形成单一的合格品区域，其中，该区域参数规定判别函数、并规定作为密度函数的基础的基函数的区域大小。
-
公开(公告)号：CN101414186A
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200810082930.0
申请日：2008-03-07
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种要因估计支持装置及其控制方法，容易实现异常要因的估计。要因估计支持装置(10)支持根据在生产系统中产生的结果来估计要因。在要因估计支持装置(10)中，在存储部(21)中存储有从生产系统获取的材料/环境历史数据(40)和检查历史数据(41)、及表示多个变量之间的因果关系的因果结构数据(42)，在通过最终质量异常检测部(32)判定为最终质量特性异常时，通过变量异常检测部(33)判定最终质量特性以外的各个变量是否异常，判定结果反映在通过可视化图像生成部(34)将因果结构数据(42)可视化的可视化图像中。
-
公开(公告)号：CN101071076A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200710102273.7
申请日：2007-05-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种检查装置及检查方法。其课题在于，确定判别函数使得在非参量一类判别中使用的判别函数形成单一的合格品区域。作为解决手段，在检查装置的判别函数确定部(20)中，合格品区域数量判定部(26)判定在非参量一类判别中使用的判别函数是否在标绘了样本的输入空间中形成单一的合格品区域。如果合格品区域不是一个，则参数设定部(24)设定区域参数，使得该判别函数在标绘了样本的输入空间中形成单一的合格品区域，其中，该区域参数规定判别函数、并规定作为密度函数的基础的基函数的区域大小。
-
公开(公告)号：CN101052294A
公开(公告)日：2007-10-10
申请号：CN200710091611.1
申请日：2007-04-03
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: H05K13/08
CPC classification number: H05K13/08 , G05B23/024
Abstract: 提供一种不花费成本而能够进行适当的主要原因推断的主要原因推断装置。推理引擎决定输入的特征(S11)，并参照输入源定义表，决定使人进行特征的输入还是使传感器进行特征的输入(S12)。在使人输入时，在显示器上显示对用户提问的内容，并使其输入回答(S13、S14)。在使来自传感器的数据输入时，语言变换单元从传感器经由传感器数据输入单元取得信息，语言变换单元将来自传感器的数值数据变换成语言值(S15、S16)。根据任意一个的处理，基于输入的数据，推理引擎进行推理(S17)。将其进行到满足推理结束条件为止(在S18为“是”)，(GUI)对用户显示推理结果(S19)。
-
公开(公告)号：CN1862259A
公开(公告)日：2006-11-15
申请号：CN200610080225.8
申请日：2006-05-12
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G05B19/41875 , G05B2219/32186 , G05B2219/32197 , H05K13/083 , Y02P90/22
Abstract: 检查基准设定装置及方法、以及工序检查装置。本发明的课题是提供用于适当地设定检查基准的技术，该检查基准用于在工序检查中检测缺陷征兆。作为解决手段，信息处理装置将对于工序检查的各检查项目提取出的特征量以及最终检查的判断结果存储于存储单元中，根据存储于存储单元中的多个产品的数据，针对每个检查项目或每个检查项目的组合，计算在最终检查中判断为良品的产品组的特征量的分布和在最终检查中判断为次品的产品组的特征量的分布之间的分离度，从检查项目或检查项目的组合中，根据该分离度的大小，选择应重新设定检查基准的检查项目，对于所选择出的检查项目，设定新的检查基准。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
11
records
(took 0.022 seconds)
