公开(公告)号：CN102667503B

公开(公告)日：2014-09-03

申请号：CN201080053115.7

申请日：2010-12-27

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 石见太郎 ,  鹤田浩辅 ,  大谷贤 ,  高野宣行 ,  上田和章 ,  小薮竜也

IPC: G01R22/00

CPC classification number: G06Q50/06 ,  H01J13/00

Abstract: 设备上安装的传感器测量第一状态数据（S 11）。然后，对测量的设备的状态数据附加分配给设备的ID（S12）。传感器将测量的设备的状态数据和测量的设备的ID通知给数据估计装置，数据估计装置如果取得第一状态数据和ID（S13），则存储取得的第一状态数据和ID（S14）。然后，数据估计装置确定没有安装传感器的设备即第二对象物（S15）。然后，根据在存储部中预先存储的ID的层次信息来生成算式，从而估计第二状态数据（S16）。

公开(公告)号：CN102187364B

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN200980141524.X

申请日：2009-10-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 鹤田浩辅 ,  石见太郎 ,  稻叶广典 ,  大谷贤

IPC: G06F17/00

CPC classification number: H02J3/00 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/06 ,  G06Q50/06 ,  H02J2003/007 ,  Y02E60/76 ,  Y02P80/11 ,  Y04S40/22

Abstract: 改善余地量计算装置计算对象设备的耗电量中可改善的耗电量，即改善余地量。所述改善余地量计算装置的周期利用部(42)使用耗电量的测量值(E′)及测量时刻(t′)、周期性地变动的耗电量变动周期(αcycle)。周期利用部(42)具备：相位决定部(62)，决定与1个周期相对应的测量时刻(t′)的所处相位(l)；表格制作部(63)，对于多个测量时刻(t′)中的作为某相位(l)的多个测量时刻(t′)，把与该些多个测量时刻(t′)相对应的多个测量值(E′)的平均值作为标准值，并制作各相位与标准值的对照表(65)；减算部(64)，从与某个测量时刻(t′)相对应的测量值(E′)中减去通过相位决定部(62)及对照表(65)而获得的与该测量时刻(t′)相对应的标准值，且将减算结果作为该测量时刻(t′)的改善余地量(ΔEc)。

公开(公告)号：CN102667503A

公开(公告)日：2012-09-12

申请号：CN201080053115.7

申请日：2010-12-27

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 石见太郎 ,  鹤田浩辅 ,  大谷贤 ,  高野宣行 ,  上田和章 ,  小薮竜也

IPC: G01R22/00

CPC classification number: G06Q50/06 ,  H01J13/00

Abstract: 设备上安装的传感器测量第一状态数据（S 11）。然后，对测量的设备的状态数据附加分配给设备的ID（S12）。传感器将测量的设备的状态数据和测量的设备的ID通知给数据估计装置，数据估计装置如果取得第一状态数据和ID（S13），则存储取得的第一状态数据和ID（S14）。然后，数据估计装置确定没有安装传感器的设备即第二对象物（S15）。然后，根据在存储部中预先存储的ID的层次信息来生成算式，从而估计第二状态数据（S16）。

公开(公告)号：CN102187364A

公开(公告)日：2011-09-14

申请号：CN200980141524.X

申请日：2009-10-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 鹤田浩辅 ,  石见太郎 ,  稻叶广典 ,  大谷贤

IPC: G06Q50/00 ,  H02J3/00

CPC classification number: H02J3/00 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/06 ,  G06Q50/06 ,  H02J2003/007 ,  Y02E60/76 ,  Y02P80/11 ,  Y04S40/22

Abstract: 改善余地量计算装置计算对象设备的耗电量中可改善的耗电量，即改善余地量。所述改善余地量计算装置的周期利用部(42)使用耗电量的测量值(E′)及测量时刻(t′)、周期性地变动的耗电量变动周期(αcycle)。周期利用部(42)具备：相位决定部(62)，决定与1个周期相对应的测量时刻(t′)的所处相位(l)；表格制作部(63)，对于多个测量时刻(t′)中的作为某相位(l)的多个测量时刻(t′)，把与该些多个测量时刻(t′)相对应的多个测量值(E′)的平均值作为标准值，并制作各相位与标准值的对照表(65)；减算部(64)，从与某个测量时刻(t′)相对应的测量值(E′)中减去通过相位决定部(62)及对照表(65)而获得的与该测量时刻(t′)相对应的标准值，且将减算结果作为该测量时刻(t′)的改善余地量(ΔEc)。

公开(公告)号：CN101414186A

公开(公告)日：2009-04-22

申请号：CN200810082930.0

申请日：2008-03-07

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 田崎博 ,  长谷川好史 ,  糀谷和人 ,  大谷贤 ,  川井拓摩

IPC: G05B23/02 ,  G06Q10/00

Abstract: 本发明提供一种要因估计支持装置及其控制方法，容易实现异常要因的估计。要因估计支持装置(10)支持根据在生产系统中产生的结果来估计要因。在要因估计支持装置(10)中，在存储部(21)中存储有从生产系统获取的材料/环境历史数据(40)和检查历史数据(41)、及表示多个变量之间的因果关系的因果结构数据(42)，在通过最终质量异常检测部(32)判定为最终质量特性异常时，通过变量异常检测部(33)判定最终质量特性以外的各个变量是否异常，判定结果反映在通过可视化图像生成部(34)将因果结构数据(42)可视化的可视化图像中。