公开(公告)号：CN102187364A

公开(公告)日：2011-09-14

申请号：CN200980141524.X

申请日：2009-10-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 鹤田浩辅 ,  石见太郎 ,  稻叶广典 ,  大谷贤

IPC: G06Q50/00 ,  H02J3/00

CPC classification number: H02J3/00 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/06 ,  G06Q50/06 ,  H02J2003/007 ,  Y02E60/76 ,  Y02P80/11 ,  Y04S40/22

Abstract: 改善余地量计算装置计算对象设备的耗电量中可改善的耗电量，即改善余地量。所述改善余地量计算装置的周期利用部(42)使用耗电量的测量值(E′)及测量时刻(t′)、周期性地变动的耗电量变动周期(αcycle)。周期利用部(42)具备：相位决定部(62)，决定与1个周期相对应的测量时刻(t′)的所处相位(l)；表格制作部(63)，对于多个测量时刻(t′)中的作为某相位(l)的多个测量时刻(t′)，把与该些多个测量时刻(t′)相对应的多个测量值(E′)的平均值作为标准值，并制作各相位与标准值的对照表(65)；减算部(64)，从与某个测量时刻(t′)相对应的测量值(E′)中减去通过相位决定部(62)及对照表(65)而获得的与该测量时刻(t′)相对应的标准值，且将减算结果作为该测量时刻(t′)的改善余地量(ΔEc)。

公开(公告)号：CN102187364B

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN200980141524.X

申请日：2009-10-19

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 鹤田浩辅 ,  石见太郎 ,  稻叶广典 ,  大谷贤

IPC: G06F17/00

CPC classification number: H02J3/00 ,  G06Q10/04 ,  G06Q10/06 ,  G06Q50/06 ,  H02J2003/007 ,  Y02E60/76 ,  Y02P80/11 ,  Y04S40/22

Abstract: 改善余地量计算装置计算对象设备的耗电量中可改善的耗电量，即改善余地量。所述改善余地量计算装置的周期利用部(42)使用耗电量的测量值(E′)及测量时刻(t′)、周期性地变动的耗电量变动周期(αcycle)。周期利用部(42)具备：相位决定部(62)，决定与1个周期相对应的测量时刻(t′)的所处相位(l)；表格制作部(63)，对于多个测量时刻(t′)中的作为某相位(l)的多个测量时刻(t′)，把与该些多个测量时刻(t′)相对应的多个测量值(E′)的平均值作为标准值，并制作各相位与标准值的对照表(65)；减算部(64)，从与某个测量时刻(t′)相对应的测量值(E′)中减去通过相位决定部(62)及对照表(65)而获得的与该测量时刻(t′)相对应的标准值，且将减算结果作为该测量时刻(t′)的改善余地量(ΔEc)。

公开(公告)号：CN1758034A

公开(公告)日：2006-04-12

申请号：CN200510108606.8

申请日：2005-10-08

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 稻叶广典 ,  糀谷和人 ,  平山裕司

IPC: G01H17/00 ,  G01M19/00

CPC classification number: G06F11/2257 ,  G07C5/0808

Abstract: 本发明提供一种可以容易对适于判断检查/诊断装置中的检查对象物的正常/异常的判别知识进行搜索/确定的装置。该装置具有：对运算特征量的参数集进行搜索的参数搜索部(12)；特征量运算部(11)，其对于所赋予的包含正常数据和异常数据的学习用数据，基于所述搜索部所搜索出的参数集，运算多个特征量；一次评价部(12)，其根据由该特征量运算部求出的特征量的运算结果输出参数集的优良程度作为评价值；最优解候选输出单元(14)，其把在该一次评价部所求出的一次评价的结果中得到较高的一次评价值的参数集搜索结果作为最优解候选而输出；判别知识作成部(15)，其基于从该最优解候选数据单元输出的多个最优解候选作成判别知识；二次评价部(16)，其对该判别知识作成部所作成的多个判别知识进行评价；以及最优解输出部(17)，其基于该二次评价的结果输出评价值较高的判别知识作为最优解。