传感器封装体
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107250747A

    公开(公告)日:2017-10-13

    申请号:CN201680010297.7

    申请日:2016-02-24

    CPC classification number: G01K7/028

    Abstract: 用于对测量对象物的内部温度进行测量的传感器封装体。传感器封装体包括:封装部,其包括有底筒状的框体和贯通所述框体且彼此大致平行的多根引线;以及MEMS芯片,其具备测量预定方向的温度差的一个热电堆;所述MEMS芯片以热电堆的温度差的测量方向与封装部的各根引线的长度方向大致正交的姿势,配置在封装部的框体的内底面上。

    内部温度测定装置以及传感器封装体

    公开(公告)号:CN107250748B

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201680010298.1

    申请日:2016-02-25

    Abstract: 内部温度测定装置1包括:传感器封装体10,在带底筒状的封装部11内配置有MEMS芯片20和温度传感器,所述MEMS芯片20包括用于测定通过封装部11底部的一部分区域的热通量的一个或多个热电堆,所述温度传感器用于测定作为MEMS芯片20的规定部分的温度使用的基准温度;印刷电路板30,基于传感器封装体10的输出来计算测定对象物的内部温度;传感器封装体10的外底面具有通过设置于印刷电路板30的贯通孔从印刷电路板30的板面凸出的结构。

    内部温度测量方法以及内部温度测量装置

    公开(公告)号:CN106104233B

    公开(公告)日:2018-10-02

    申请号:CN201580012964.0

    申请日:2015-02-19

    Abstract: 本发明提供一种与以往相比,能够更准确地测量非发热体的热阻值未知的测量对象的内部温度的内部温度测量方法。内部温度测量方法包括:测量步骤,利用第一热电堆(22)测量从测量对象的表面的一部分到第一热流出部的第一热传导路径上的第一温度差,第一温度差是第一热流入部与第一热流出部之间的温度差;利用第二热电堆(22)测量从测量对象的表面的另一部分到第二热流出部的第二热传导路径上的第二温度差,该第二热传导路径的热阻值与第一热传导路径的热阻值不同,第二温度差是第二热流入部与第二热流出部之间的温度差,利用温度传感器(18)测量第一热传导路径或者第二热传导路径上的作为规定位置的温度使用的基准温度;以及计算步骤,根据测量出的第一温度差、第二温度差、基准温度以及预先设定的一个以上的值,计算测量对象的内部温度,一个以上的值为不包含位于测量对象的表面侧的非发热体的属性值的值。

    传感器封装体
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107250747B

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201680010297.7

    申请日:2016-02-24

    Abstract: 用于对测量对象物的内部温度进行测量的传感器封装体。传感器封装体包括:封装部,其包括有底筒状的框体和贯通所述框体且彼此大致平行的多根引线;以及MEMS芯片,其具备测量预定方向的温度差的一个热电堆;所述MEMS芯片以热电堆的温度差的测量方向与封装部的各根引线的长度方向大致正交的姿势,配置在封装部的框体的内底面上。

    内部温度测量装置
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106605132B

    公开(公告)日:2019-01-22

    申请号:CN201580048094.2

    申请日:2015-10-19

    Abstract: 提供内部温度测量装置,能够比以往更准确地响应性良好地测量在表面侧存在的非发热体的热阻值未知的测量目标物体的内部温度。内部温度测量装置(10)包括MEMS芯片(12),MEMS芯片(12)包括用于计算非发热体的热阻值未知的测量目标物体的内部温度的2个热通量的2个单元(20a、20b),以及用于增大热通量差的单元(20c)。

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