基于Modbus协议的数据并行加密通信方法和系统

    公开(公告)号:CN105515758A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201510846844.2

    申请日:2015-11-27

    CPC classification number: H04L9/0631

    Abstract: 本发明公开了一种基于Modbus协议的数据并行加密通信方法和系统,该通信系统包括:数据采集站点和中心监控系统。数据采集站点包括站点配置模块、数据采集模块、改进SM4并行加密模块和数据传输模块;中心监控系统包括数据接收模块、改进SM4并行解密模块和数据显示监控模块。采用本发明的通信系统,能够提高工业数据传输的安全性,提高实时工业数据的加密速度,从而降低加密处理延迟。并且,该系统具有断线重连机制,确保对设备进行不间断监控。

    基于Modbus协议的数据并行加密通信方法和系统

    公开(公告)号:CN105515758B

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201510846844.2

    申请日:2015-11-27

    Abstract: 本发明公开了一种基于Modbus协议的数据并行加密通信方法和系统,该通信系统包括:数据采集站点和中心监控系统。数据采集站点包括站点配置模块、数据采集模块、改进SM4并行加密模块和数据传输模块;中心监控系统包括数据接收模块、改进SM4并行解密模块和数据显示监控模块。采用本发明的通信系统,能够提高工业数据传输的安全性,提高实时工业数据的加密速度,从而降低加密处理延迟。并且,该系统具有断线重连机制,确保对设备进行不间断监控。

    一种非接触式表面轮廓仪加温模块及测量方法

    公开(公告)号:CN118442817A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410595167.0

    申请日:2024-05-14

    Abstract: 本发明涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种非接触式表面轮廓仪加温模块及测量方法,包括保温炉主体、玻璃门、内部导热层、中部加热层和支撑构件;玻璃门与保温炉主体连接,并位于保温炉主体的一侧,内部导热层设置在保温炉主体内部,中部加热层设置在保温炉主体靠近内部导热层的一侧,支撑构件位于保温炉主体的一侧,实现了能够通过配备先进的恒温加热装置,确保在精确测量芯片翘曲度的同时,消除温度波动对测量结果的影响,以及可以测量不同温度下不同的测量结果。

    基于GPU的改进SM4并行加解密通信方法

    公开(公告)号:CN105490802B

    公开(公告)日:2018-07-27

    申请号:CN201510844393.9

    申请日:2015-11-27

    Abstract: 本发明公开了种基于GPU的改进SM4并行加解密通信方法,该加解密方法包括:使用AES‑128密钥扩展算法生成SM4加密算法所需的扩展子密钥;改进SM4加密算法中的轮函数;利用GPU的并行计算能力,将改进SM4加密算法改进成并行加密的形式。采用本发明加解密通信方法,能够有效的提高安全性和实现的速度,能够对数据进行实时并行加密,提高了加密速度,从而保证数据流正常的传输,降低处理延迟。

    基于GPU的改进SM4并行加解密通信方法

    公开(公告)号:CN105490802A

    公开(公告)日:2016-04-13

    申请号:CN201510844393.9

    申请日:2015-11-27

    CPC classification number: H04L9/0631

    Abstract: 本发明公开了一种基于GPU的改进SM4并行加解密通信方法,该加解密方法包括:使用AES-128密钥扩展算法生成SM4加密算法所需的扩展子密钥;改进SM4加密算法中的轮函数;利用GPU的并行计算能力,将改进SM4加密算法改进成并行加密的形式。采用本发明加解密通信方法,能够有效的提高安全性和实现的速度,能够对数据进行实时并行加密,提高了加密速度,从而保证数据流正常的传输,降低处理延迟。

    一种非接触式表面轮廓仪加温模块

    公开(公告)号:CN222635168U

    公开(公告)日:2025-03-18

    申请号:CN202421042283.1

    申请日:2024-05-14

    Abstract: 本实用新型涉及半导体制造技术领域,具体涉及一种非接触式表面轮廓仪加温模块,包括保温炉主体、玻璃门、内部导热层、中部加热层和支撑构件;玻璃门与保温炉主体连接,并位于保温炉主体的一侧,内部导热层设置在保温炉主体内部,中部加热层设置在保温炉主体靠近内部导热层的一侧,支撑构件位于保温炉主体的一侧,实现了能够通过配备先进的恒温加热装置,确保在精确测量芯片翘曲度的同时,消除温度波动对测量结果的影响,以及可以测量不同温度下不同的测量结果。

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