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公开(公告)号:CN100485970C
公开(公告)日:2009-05-06
申请号:CN200410092645.9
申请日:2004-11-15
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L29/808 , H01L29/24 , H01L21/04
CPC classification number: H01L29/1608 , H01L29/66068 , H01L29/8083 , Y10S438/931
Abstract: 一种碳化硅半导体器件包括衬底(1、31)和结型场效应晶体管。所述晶体管包括:第一半导体层(2、32),其设置在衬底(1、31)上;第一栅极层(3、33),其设置在第一半导体层(2、32)的表面上;第一沟道层(7、36),其在衬底(1、31)上与第一栅极层(3、33)相邻;第一源极层(4、40),其电连接于第一沟道层(7、36);第二栅极层(8、37),其与第一沟道层(7、36)相邻以将第一沟道层(7、36)夹在中间;第二沟道层(9、38),其与第二栅极层(8、37)相邻以将第二栅极层(8、37)夹在中间;第三栅极层(10、39),其与第二沟道层(9、38)相邻以将第二沟道层(9、38)夹在中间;和第二源极层(11、40),其电连接于第二沟道层(9、38)。
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公开(公告)号:CN1617354A
公开(公告)日:2005-05-18
申请号:CN200410092645.9
申请日:2004-11-15
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L29/80 , H01L21/337
CPC classification number: H01L29/1608 , H01L29/66068 , H01L29/8083 , Y10S438/931
Abstract: 一种碳化硅半导体器件包括衬底(1、31)和结型场效应晶体管。所述晶体管包括:第一半导体层(2、32),其设置在衬底(1、31)上;第一栅极层(3、33),其设置在第一半导体层(2、32)的表面上;第一沟道层(7、36),其在衬底(1、31)上与第一栅极层(3、33)相邻;第一源极层(4、40),其电连接于第一沟道层(7、36);第二栅极层(8、37),其与第一沟道层(7、36)相邻以将第一沟道层(7、36)夹在中间;第二沟道层(9、38),其与第二栅极层(8、37)相邻以将第二栅极层(8、37)夹在中间;第三栅极层(10、39),其与第二沟道层(9、38)相邻以将第二沟道层(9、38)夹在中间;和第二源极层(11、40),其电连接于第二沟道层(9、38)。
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公开(公告)号:CN1481030A
公开(公告)日:2004-03-10
申请号:CN03152590.3
申请日:2003-08-05
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: H01L29/66068 , H01L29/045 , H01L29/1608 , H01L29/8083
Abstract: 一种碳化硅(SiC)衬底,设有偏取向{0001}表面,该偏取向{0001}表面的偏轴方向是 。沟槽形成在碳化硅上,以具有朝向 方向延伸的条形结构。在沟槽的内表面上形成碳化硅外延层。
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公开(公告)号:CN1327528C
公开(公告)日:2007-07-18
申请号:CN03152590.3
申请日:2003-08-05
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: H01L29/66068 , H01L29/045 , H01L29/1608 , H01L29/8083
Abstract: 一种碳化硅(SiC)衬底,设有偏转的{0001}表面,该偏转的{0001}表面的偏轴方向是 。沟槽形成在碳化硅上,以具有朝向 方向延伸的条形结构。在沟槽的内表面上形成碳化硅外延层。
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