物理量传感器及其制造方法

    公开(公告)号:CN108885150A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201780020618.6

    申请日:2017-04-06

    Abstract: 通过在形成于树脂壳体(31)的第1开口部(31c)内配置模制部件(20)并填充填充材(40)而进行一体化,而并非将模制部件(20)嵌入成型于树脂壳体(31)而一体化。由此,能够抑制由冷热循环引起的模制部件(20)与树脂壳体(31)之间的剥离,并能够抑制测量介质通过模制部件(20)与树脂壳体(31)之间的间隙而泄露到外部。

    半导体封装、半导体装置及半导体封装的制造方法

    公开(公告)号:CN112018063A

    公开(公告)日:2020-12-01

    申请号:CN202010453828.8

    申请日:2020-05-26

    Inventor: 平泽宪也

    Abstract: 半导体封装(P1,P2)包括引线框架(1)、半导体芯片(2)、多个三维布线(6)和成型树脂(7)。半导体芯片安装在引线框架上。所述多个三维布线中的每一个都包括基部、支脚和端子。所述基部经由接合材料连接到所述引线框架。所述支脚在与基部的连接到引线框架的底面相反的一侧从基部延伸出。所述端子连接到所述支脚并与基部平行设置。所述成型树脂覆盖引线框架的一部分、半导体芯片以及所述多个三维布线中每一个的一部分。所述多个三维布线的数量至少为三个。所述端子从成型树脂的与引线框架相反一侧的上表面(7a)暴露。

    物理量传感器及其制造方法

    公开(公告)号:CN108885150B

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN201780020618.6

    申请日:2017-04-06

    Abstract: 通过在形成于树脂壳体(31)的第1开口部(31c)内配置模制部件(20)并填充填充材(40)而进行一体化,而并非将模制部件(20)嵌入成型于树脂壳体(31)而一体化。由此,能够抑制由冷热循环引起的模制部件(20)与树脂壳体(31)之间的剥离,并能够抑制测量介质通过模制部件(20)与树脂壳体(31)之间的间隙而泄露到外部。

    半导体封装、半导体装置及半导体封装的制造方法

    公开(公告)号:CN112018063B

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202010453828.8

    申请日:2020-05-26

    Inventor: 平泽宪也

    Abstract: 半导体封装(P1,P2)包括引线框架(1)、半导体芯片(2)、多个三维布线(6)和成型树脂(7)。半导体芯片安装在引线框架上。所述多个三维布线中的每一个都包括基部、支脚和端子。所述基部经由接合材料连接到所述引线框架。所述支脚在与基部的连接到引线框架的底面相反的一侧从基部延伸出。所述端子连接到所述支脚并与基部平行设置。所述成型树脂覆盖引线框架的一部分、半导体芯片以及所述多个三维布线中每一个的一部分。所述多个三维布线的数量至少为三个。所述端子从成型树脂的与引线框架相反一侧的上表面(7a)暴露。

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