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公开(公告)号:CN106475681A
公开(公告)日:2017-03-08
申请号:CN201610735236.9
申请日:2016-08-25
Applicant: 株式会社理光
IPC: B23K26/082 , B23K26/0622 , B23K26/067 , B23K26/08 , B23K26/70 , B23K26/16 , B23K26/362 , B23K26/402
CPC classification number: B23K26/082 , B23K26/0622 , B23K26/067 , B23K26/083 , B23K26/16 , B23K26/362 , B23K26/402 , B23K26/702
Abstract: 本发明涉及光加工装置和光加工物的生产方法,其目的在于方便利用以光扫描装置来使得加工对象物的光扫描位置发生移动的光加工装置对较大的加工对象物实施加工处理。本发明的光加工装置具有光源(11)、用于扫描光源光的光扫描装置(21)、以及用于将受到所述光扫描部扫描的光会聚到加工对象物(35)上的聚光部(22),其特征在于,该聚光部(11)搭载于相对于加工对象物(35)移动的移动部(25),而所述光源未搭载于该移动部(25)。
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公开(公告)号:CN106914703B
公开(公告)日:2019-06-28
申请号:CN201611186186.X
申请日:2016-12-20
Applicant: 株式会社理光
IPC: B23K26/362 , B23K26/082 , B23K26/064 , B23K26/70
Abstract: 本发明涉及光加工装置,其目的在于改善输送部间歇性输送加工对象物时发生的停止位置偏离造成的加工位置偏离。本发明的光加工装置具有向加工区域(36)照射加工光(L)的光源(11)、向输送方向(B)间歇输送加工对象物(35)而使加工对象物上的被加工部分依次送入加工区域的输送部(32)、以及在被加工部分停止在加工区域上的状态下根据加工数据控制工光加工被加工部分的加工控制部(40),进一步具有在被加工部分停止在加工区域上时检测加工对象物上的检测用标记(37)的位置的位置检测部(33、34),加工控制部(40)根据位置检测部的检测结果,补偿输送部输送的加工对象物的停止位置偏离造成的加工位置偏离。
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公开(公告)号:CN106475681B
公开(公告)日:2019-03-15
申请号:CN201610735236.9
申请日:2016-08-25
Applicant: 株式会社理光
IPC: B23K26/082 , B23K26/0622 , B23K26/067 , B23K26/08 , B23K26/70 , B23K26/16 , B23K26/362 , B23K26/402
Abstract: 本发明涉及光加工装置和光加工物的生产方法,其目的在于方便利用以光扫描装置来使得加工对象物的光扫描位置发生移动的光加工装置对较大的加工对象物实施加工处理。本发明的光加工装置具有光源(11)、用于扫描光源光的光扫描装置(21)、以及用于将受到所述光扫描部扫描的光会聚到加工对象物(35)上的聚光部(22),其特征在于,该聚光部(11)搭载于相对于加工对象物(35)移动的移动部(25),而所述光源未搭载于该移动部(25)。
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公开(公告)号:CN106914703A
公开(公告)日:2017-07-04
申请号:CN201611186186.X
申请日:2016-12-20
Applicant: 株式会社理光
IPC: B23K26/362 , B23K26/082 , B23K26/064 , B23K26/70
CPC classification number: B23K26/064 , B23K26/0643 , B23K26/082 , B23K26/361 , B23K26/702
Abstract: 本发明涉及光加工装置,其目的在于改善输送部间歇性输送加工对象物时发生的停止位置偏离造成的加工位置偏离。本发明的光加工装置具有向加工区域(36)照射加工光(L)的光源(11)、向输送方向(B)间歇输送加工对象物(35)而使加工对象物上的被加工部分依次送入加工区域的输送部(32)、以及在被加工部分停止在加工区域上的状态下根据加工数据控制工光加工被加工部分的加工控制部(40),进一步具有在被加工部分停止在加工区域上时检测加工对象物上的检测用标记(37)的位置的位置检测部(33、34),加工控制部(40)根据位置检测部的检测结果,补偿输送部输送的加工对象物的停止位置偏离造成的加工位置偏离。
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公开(公告)号:CN106914698A
公开(公告)日:2017-07-04
申请号:CN201611194659.0
申请日:2016-12-21
Applicant: 株式会社理光
IPC: B23K26/00 , B23K26/064 , B23K26/082 , B23K26/38
CPC classification number: B23K26/00 , B23K26/0643 , B23K26/0648 , B23K26/082 , B23K26/38
Abstract: 本发明涉及光加工装置,其目的在于有效利用通过光扫描装置来使得加工对象物的光照射位置发生移动的光加工装置对大型加工对象物进行加工处理。本发明的光加工装置具备发射加工光的光源(11)以及扫描光源发射的加工光的光扫描部(21),进一步具备:移动部(22),用于移动将受到所述光扫描部扫描的加工光射到加工对象物(35)的被加工面上的加工光射出部(22);以及,加工控制部(40),用于在对加工对象物(35)的被加工面上的多个被加工部分分别实施加工的各个停止位置上,停止移动部(22)移动的状态下,控制用加工光射出部(22)射出的加工光,对加工对象物(35)上的各个被加工面的被加工部分实施加工。
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公开(公告)号:CN206519655U
公开(公告)日:2017-09-26
申请号:CN201621403006.4
申请日:2016-12-20
Applicant: 株式会社理光
IPC: B23K26/362 , B23K26/082 , B23K26/064 , B23K26/70
Abstract: 本实用新型涉及光加工装置,其目的在于改善输送部间歇性输送加工对象物时发生的停止位置偏离造成的加工位置偏离。本实用新型的光加工装置具有向加工区域(36)照射加工光(L)的光源(11)、向输送方向(B)间歇输送加工对象物(35)而使加工对象物上的被加工部分依次送入加工区域的输送部(32)、进一步具有位置检测部(33、34),该位置检测部被设置在与输送方向(B)相垂直的宽度方向上的一端端部一方,用于在加工对象物(35)上的被加工部分停止在加工区域(36)上时,检测该加工对象物上的检测用标记(37)的位置。
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公开(公告)号:CN206335247U
公开(公告)日:2017-07-18
申请号:CN201620968411.4
申请日:2016-08-25
Applicant: 株式会社理光
IPC: B23K26/082 , B23K26/0622 , B23K26/067 , B23K26/08 , B23K26/70 , B23K26/16 , B23K26/362 , B23K26/402
Abstract: 本实用新型涉及光加工装置,其目的在于方便利用以光扫描装置来使得加工对象物的光扫描位置发生移动的光加工装置对较大的加工对象物实施加工处理。本实用新型的光加工装置具有光源(11)、设于光源(11)发射的光的行进方向且用于扫描该光源发射的光的光扫描装置(21)、以及设于受到所述光扫描部扫描的光的行进方向上且用于将受到光扫描部(21)扫描的光会聚到加工对象物(35)上的聚光部(22),其特征在于,该聚光部(11)搭载于相对于加工对象物(35)移动的移动部(25),而所述光源未搭载于该移动部(25)。
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