曝光装置及曝光方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102043349A

    公开(公告)日:2011-05-04

    申请号:CN201010521849.5

    申请日:2010-10-18

    Abstract: 提供一种构造简单的,能够高精度地使掩模图案在基板表面上曝光的曝光装置及曝光方法。具有支撑形成有掩模图案的掩模(4)的掩模支撑部(5)、支撑成为曝光对象的基板(2)的基板支撑部(3)、使所述掩模(4)的下表面和所述基板(2)的上表面之间形成密闭空间(7)的密封构件(6)、以及向所述密闭空间(7)供给气体或从所述密闭空间(7)排出气体的给排部(8)。调整掩模支撑部(5)和/或基板支撑部(3)的温度的同时,通过从光源(9)照射的光使掩模图案在基板(2)的表面上曝光。

    曝光装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105474104B

    公开(公告)日:2017-10-10

    申请号:CN201480046673.9

    申请日:2014-08-18

    Abstract: 提供一种曝光装置,即便是设于工件的背面的对准标记,也能可靠地使其与掩模对准标记对位,并能高精度地将掩模图案曝光于工件上。本发明的曝光装置包括:掩模(13),该掩模(13)设有掩模对准标记(131);掩模保持件(12),该掩模保持件(12)对掩模(13)进行保持;平台(15),该平台(15)对工件(14)进行装设并加以固定,该工件(14)在面(145)上具有工件对准标记(141),该面(145)是设有掩模对准标记(131)的面(135)所面对的面的相反一侧的面。平台(15)包括光学零件,当对装设的工件(14)的工件对准标记(141)进行摄像时,该光学零件使光在内部奇数次反射,以在比工件(14)的尺寸靠外侧的位置形成像,平台驱动装置根据通过该光学零件形成的像将掩模对准标记(131)和工件对准标记(141)对位。

    直写型曝光装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106575086B

    公开(公告)日:2018-05-18

    申请号:CN201580039965.4

    申请日:2015-07-14

    CPC classification number: B41C1/00 G03F7/20 H05K3/00

    Abstract: 直写型曝光装置(100)通过对由基材(B)保持的膜状的感光性树脂(PP)直接照射曝光光线(1b)来进行图案曝光,包括:输出曝光光线(1b)的光源(1);基台(2);能支承基材(B)的下表面周缘区域,且进行动作使基材(B)在曝光光线(1b)的光轴方向上移位的移位机构(4a~4d);以及能支承基材(B)的下表面中央区域的支承构件(7)。支承构件(7)配设在基台(2)的上方,以利用移位机构(4a~4d)使基材(B)移位,在支承构件(7)的上表面与基材(B)的下表面中央区域抵接的状态下,曝光光线(1b)的光轴与支承构件(7)的上表面垂直。

    曝光装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107077080A

    公开(公告)日:2017-08-18

    申请号:CN201680003247.6

    申请日:2016-01-05

    CPC classification number: G03F7/20 G03F9/00 H05K3/00

    Abstract: 本发明提供在对带状的工件实施曝光处理的情况下,无需复杂的工序就能够精度良好地实施曝光处理的曝光装置。曝光装置具备:工件输送机构(20),其输送带状的工件(1);曝光光源(30),其产生曝光光;光掩模(40),其具有在与工件(1)的宽度方向的端部(1a、1b)对置的位置配置的透射窗(42a~42c);拍摄机构(60a~60c),其拍摄透射窗(42a~42c);以及位置调整机构(51、52),其调整工件(1)与光掩模(40)的位置关系,所述曝光装置构成为:能够根据由拍摄机构(60a~60c)拍摄得到的、透射窗(42a~42c)的位置与从透射窗(42a~42c)识别到的工件(1)的端部(1a、1b)的位置之间的关系,调整工件(1)与光掩模(40)的位置关系,以使工件(1)与光掩模(40)的位置关系成为目标的位置关系。

    曝光装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107077080B

    公开(公告)日:2019-04-26

    申请号:CN201680003247.6

    申请日:2016-01-05

    Abstract: 本发明提供在对带状的工件实施曝光处理的情况下,无需复杂的工序就能够精度良好地实施曝光处理的曝光装置。曝光装置具备:工件输送机构(20),其输送带状的工件(1);曝光光源(30),其产生曝光光;光掩模(40),其具有在与工件(1)的宽度方向的端部(1a、1b)对置的位置配置的透射窗(42a~42c);拍摄机构(60a~60c),其拍摄透射窗(42a~42c);以及位置调整机构(51、52),其调整工件(1)与光掩模(40)的位置关系,所述曝光装置构成为:能够根据由拍摄机构(60a~60c)拍摄得到的、透射窗(42a~42c)的位置与从透射窗(42a~42c)识别到的工件(1)的端部(1a、1b)的位置之间的关系,调整工件(1)与光掩模(40)的位置关系,以使工件(1)与光掩模(40)的位置关系成为目标的位置关系。

    曝光装置以及曝光方法
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105474102B

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201480047009.6

    申请日:2014-08-18

    Inventor: 松冈尚弥

    CPC classification number: H05K3/184 H05K2203/0557 H05K2203/1527

    Abstract: 本发明提供了在掩膜尺寸较大的情况下也能适当地矫正掩膜的弯曲,能以高精度进行曝光的曝光装置以及曝光方法。本发明涉及的曝光装置(1)包括:光源(100);设置有掩膜图案的光学板(11);以及保持光学板(11),在光学板(11)的光源(100)一侧形成气密空间(12)的掩膜支架掩膜图案曝光在工件(10)上。具有调整气密空间(12)内的压力的压力调整机构(20),以及使掩膜支架(13)倾斜为规定的角度的倾斜机构(21),在利用倾斜机构(21)使掩膜支架(13)倾斜了规定的角度的状态下,利用压力调整机构(20)调整气密空间(12)内的压力之后,使掩膜支架(13)恢复至原先的角度,进行曝光。(13)。来自光源(100)的光照射至光学板(11),使

    曝光装置以及曝光方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105474102A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201480047009.6

    申请日:2014-08-18

    Inventor: 松冈尚弥

    CPC classification number: H05K3/184 H05K2203/0557 H05K2203/1527

    Abstract: 本发明提供了在掩膜尺寸较大的情况下也能适当地矫正掩膜的弯曲,能以高精度进行曝光的曝光装置以及曝光方法。本发明涉及的曝光装置(1)包括:光源(100);设置有掩膜图案的光学板(11);以及保持光学板(11),在光学板(11)的光源(100)一侧形成气密空间(12)的掩膜支架(13)。来自光源(100)的光照射至光学板(11),使掩膜图案曝光在工件(10)上。具有调整气密空间(12)内的压力的压力调整机构(20),以及使掩膜支架(13)倾斜为规定的角度的倾斜机构(21),在利用倾斜机构(21)使掩膜支架(13)倾斜了规定的角度的状态下,利用压力调整机构(20)调整气密空间(12)内的压力之后,使掩膜支架(13)恢复至原先的角度,进行曝光。

    直写型曝光装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106575086A

    公开(公告)日:2017-04-19

    申请号:CN201580039965.4

    申请日:2015-07-14

    CPC classification number: B41C1/00 G03F7/20 H05K3/00

    Abstract: 直写型曝光装置(100)通过对由基材(B)保持的膜状的感光性树脂(PP)直接照射曝光光线(1b)来进行图案曝光,包括:输出曝光光线(1b)的光源(1);基台(2);能支承基材(B)的下表面周缘区域,且进行动作使基材(B)在曝光光线(1b)的光轴方向上移位的移位机构(4a~4d);以及能支承基材(B)的下表面中央区域的支承构件(7)。支承构件(7)配设在基台(2)的上方,以利用移位机构(4a~4d)使基材(B)移位,在支承构件(7)的上表面与基材(B)的下表面中央区域抵接的状态下,曝光光线(1b)的光轴与支承构件(7)的上表面垂直。

    曝光装置
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105474104A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201480046673.9

    申请日:2014-08-18

    Abstract: 提供一种曝光装置,即便是设于工件的背面的对准标记,也能可靠地使其与掩模对准标记对位,并能高精度地将掩模图案曝光于工件上。本发明的曝光装置包括:掩模(13),该掩模(13)设有掩模对准标记(131);掩模保持件(12),该掩模保持件(12)对掩模(13)进行保持;平台(15),该平台(15)对工件(14)进行装设并加以固定,该工件(14)在面(145)上具有工件对准标记(141),该面(145)是设有掩模对准标记(131)的面(135)所面对的面的相反一侧的面。平台(15)包括光学零件,当对装设的工件(14)的工件对准标记(141)进行摄像时,该光学零件使光在内部奇数次反射,以在比工件(14)的尺寸靠外侧的位置形成像,平台驱动装置根据通过该光学零件形成的像将掩模对准标记(131)和工件对准标记(141)对位。

    曝光装置及曝光方法
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102043349B

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201010521849.5

    申请日:2010-10-18

    Abstract: 提供一种构造简单的,能够高精度地使掩模图案在基板表面上曝光的曝光装置及曝光方法。具有支撑形成有掩模图案的掩模(4)的掩模支撑部(5)、支撑成为曝光对象的基板(2)的基板支撑部(3)、使所述掩模(4)的下表面和所述基板(2)的上表面之间形成密闭空间(7)的密封构件(6)、以及向所述密闭空间(7)供给气体或从所述密闭空间(7)排出气体的给排部(8)。调整掩模支撑部(5)和/或基板支撑部(3)的温度的同时,通过从光源(9)照射的光使掩模图案在基板(2)的表面上曝光。

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