电子显微镜及试样的观察方法

    公开(公告)号:CN106663584B

    公开(公告)日:2018-10-30

    申请号:CN201580035457.9

    申请日:2015-06-08

    Abstract: 本发明提供一种不论试样、晶体取向的种类为何,即使不是熟练者,也能够处理量良好且高精度地对准晶体取向并观察试样的装置及方法。本发明中,基于显示在显示部(13)上的电子束衍射图案(22b)中的衍射斑点的亮度分布,设定以主斑点(23)位于圆周上的方式重叠显示的拟合用圆形图案(26),并设定显示为以该显示的圆形图案(26)的中心位置(27)为起点且以位于圆形图案(26)的圆周上的主斑点(23)的位置为终点的矢量(28),基于该显示的矢量(28)的方向及大小,执行晶体取向对准。由此,不论试样、晶体取向的种类为何,即使不是熟练者,也能够处理量良好且高精度地对准晶体取向并观察试样。

    电子显微镜及试样的观察方法

    公开(公告)号:CN106663584A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201580035457.9

    申请日:2015-06-08

    Abstract: 本发明提供一种不论试样、晶体取向的种类为何,即使不是熟练者,也能够处理量良好且高精度地对准晶体取向并观察试样的装置及方法。本发明中,基于显示在显示部(13)上的电子束衍射图案(22b)中的衍射斑点的亮度分布,设定以主斑点(23)位于圆周上的方式重叠显示的拟合用圆形图案(26),并设定显示为以该显示的圆形图案(26)的中心位置(27)为起点且以位于圆形图案(26)的圆周上的主斑点(23)的位置为终点的矢量(28),基于该显示的矢量(28)的方向及大小,执行晶体取向对准。由此,不论试样、晶体取向的种类为何,即使不是熟练者,也能够处理量良好且高精度地对准晶体取向并观察试样。

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