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公开(公告)号：CN101349631A
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200810134130.9
申请日：2008-07-17
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 一种粒径分布测定装置，对粒子群的粒径分布进行测定，装置本体(2)具有将光照射在所述粒子群上的光源(21)、对通过该光照射所发生的衍射或/及散射光强度进行进行检测的光检测器(22)，相对于该装置本体(2)，将从喷嘴喷射出的粒子群即喷雾粒子群引导到所述光源(21)与所述光检测器之间的喷雾测定系统(3)、以及将收容所述喷雾粒子群以外的粒子群即普通粒子群的测定容器(41)配置在所述光源(21)与所述光检测器(22)之间的普通测定系统(4)构成为可更换。采用本发明，可利用以往的粒径分布测定装置(1)，可安全地测定喷嘴喷射的喷雾粒子。
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公开(公告)号：CN105738641A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201510971175.1
申请日：2015-12-22
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N35/10
Abstract: 本发明提供分析装置，除去附着在过滤器部件(40)上的灰尘，并可靠地清扫过滤器部件(40)。分析装置(100)具备：收容试样的试样收容部(10)；从在所述试样收容部(10)内被加热了的试样产生的气体通过的过滤器部件(40)；以及把通过了过滤器部件(40)的气体向分析仪引导的气体流道(L1)，过滤器部件(40)呈筒状，在其一端部形成有与气体流道(L1)连接的气体导出口(40a)，气体从外侧向内侧通过过滤器部件(40)的侧壁部(401)后，从气体导出口(40a)流向气体流道(L1)。
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公开(公告)号：CN102323191A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110137134.4
申请日：2009-09-25
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N21/21 , G01N21/53 , G01N2015/0294 , G01N2015/03
Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量装置，该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构，但可以确保测量精度，而且可以尽可能减少光学元件的数量，从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25)，并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34)，在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23)，控制利用减光部件(23)的减光率，使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。
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公开(公告)号：CN105683747B
公开(公告)日：2017-12-12
申请号：CN201480058824.2
申请日：2014-10-29
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N1/34 , F27D2019/0012 , G01N1/44 , G01N31/12 , G01N33/0016 , G01N2001/227
Abstract: 本发明提供分析装置，其用于可靠地排出在试样收容部(10)内产生的粉尘，其具备：粉尘导入部(30)，具有沿铅垂方向贯通形成的贯通孔(3a)，向该贯通孔(3a)导入在所述试样收容部(10)内产生的粉尘；粉尘收容部(43)，收容从所述贯通孔(3a)排出的粉尘；以及粉尘排出通道(41a)，一端与所述粉尘导入部(30)连接并与所述贯通孔(3a)连通，另一端与所述粉尘收容部(43)连接，所述粉尘排出通道(41a)从所述一端到所述另一端，沿铅垂方向形成为直线状。
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公开(公告)号：CN102323191B
公开(公告)日：2013-11-06
申请号：CN201110137134.4
申请日：2009-09-25
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N15/02
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N21/21 , G01N21/53 , G01N2015/0294 , G01N2015/03
Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量装置，该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构，但可以确保测量精度，而且可以尽可能减少光学元件的数量，从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25)，并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34)，在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23)，控制利用减光部件(23)的减光率，使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101349631B
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：CN200810134130.9
申请日：2008-07-17
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 一种粒径分布测定装置，对粒子群的粒径分布进行测定，装置本体(2)具有将光照射在所述粒子群上的光源(21)、对通过该光照射所发生的衍射或/及散射光强度进行进行检测的光检测器(22)，相对于该装置本体(2)，将从喷嘴喷射出的粒子群即喷雾粒子群引导到所述光源(21)与所述光检测器之间的喷雾测定系统(3)、以及将收容所述喷雾粒子群以外的粒子群即普通粒子群的测定容器(41)配置在所述光源(21)与所述光检测器(22)之间的普通测定系统(4)构成为可更换。采用本发明，可利用以往的粒径分布测定装置(1)，可安全地测定喷嘴喷射的喷雾粒子。
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公开(公告)号：CN102042991A
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN201010502167.X
申请日：2010-09-28
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N23/223
CPC classification number: G01N23/223 , G01N2223/076 , G01N2223/307
Abstract: 本发明提供一种荧光X射线分析用试样室和试样室组装用具。试样室收容有液体燃料等试样，并且用X射线透射片密封，在内部压力上升的情况下，在作为窗口部的X射线透射片膨胀之前，试样杯端面变形，使得试样室内的容积增大。通过把膜状材料折叠形成试样杯端面，在试样室内的压力上升的情况下，试样杯端面向试样室外侧扩展，试样室内的容积增大。因容积增大可以缓解压力的上升，从而可以防止X射线透射片的膨胀。
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公开(公告)号：CN105738641B
公开(公告)日：2020-04-07
申请号：CN201510971175.1
申请日：2015-12-22
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01N35/10
Abstract: 本发明提供分析装置，除去附着在过滤器部件(40)上的灰尘，并可靠地清扫过滤器部件(40)。分析装置(100)具备：收容试样的试样收容部(10)；从在所述试样收容部(10)内被加热了的试样产生的气体通过的过滤器部件(40)；以及把通过了过滤器部件(40)的气体向分析仪引导的气体流道(L1)，过滤器部件(40)呈筒状，在其一端部形成有与气体流道(L1)连接的气体导出口(40a)，气体从外侧向内侧通过过滤器部件(40)的侧壁部(401)后，从气体导出口(40a)流向气体流道(L1)。
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公开(公告)号：CN105683747A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201480058824.2
申请日：2014-10-29
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N1/34 , F27D2019/0012 , G01N1/44 , G01N31/12 , G01N33/0016 , G01N2001/227
Abstract: 本发明提供分析装置，其用于可靠地排出在试样收容部(10)内产生的粉尘，其具备：粉尘导入部(30)，具有沿铅垂方向贯通形成的贯通孔(3a)，向该贯通孔(3a)导入在所述试样收容部(10)内产生的粉尘；粉尘收容部(43)，收容从所述贯通孔(3a)排出的粉尘；以及粉尘排出通道(41a)，一端与所述粉尘导入部(30)连接并与所述贯通孔(3a)连通，另一端与所述粉尘收容部(43)连接，所述粉尘排出通道(41a)从所述一端到所述另一端，沿铅垂方向形成为直线状。
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公开(公告)号：CN102159934A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200980137028.7
申请日：2009-09-25
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N21/21 , G01N21/53 , G01N2015/0294 , G01N2015/03
Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量装置，该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构，但可以确保测量精度，而且可以尽可能减少光学元件的数量，从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25)，并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1/4波片(33)和出射一侧的偏振镜(34)，在光路上设置不会使偏振光状态改变的减光部件(23)，控制利用减光部件(23)的减光率，使得在各测量位置的检测光强度在光检测部件(31)的测量范围内。
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