公开(公告)号：CN102072912A

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：CN201010535977.5

申请日：2010-11-03

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 大泽澄人

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明提供一种浓度测量方法和荧光X射线分析装置。在本发明中，对含有硫等对象成分的液体燃料等试样进行荧光X射线分析。从通过荧光X射线分析获得的光谱求出的对象成分的荧光X射线强度，减去与散射X射线及系统峰有关的背景噪声。对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行与试样的组成对应的修正。预先确定表示对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行修正后的值与对象成分浓度的关系的标准曲线。根据标准曲线计算试样中的对象成分浓度。

公开(公告)号：CN102072912B

公开(公告)日：2014-08-20

申请号：CN201010535977.5

申请日：2010-11-03

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 大泽澄人

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明提供一种浓度测量方法和荧光X射线分析装置。在本发明中，对含有硫等对象成分的液体燃料等试样进行荧光X射线分析。从通过荧光X射线分析获得的光谱求出的对象成分的荧光X射线强度，减去与散射X射线及系统峰有关的背景噪声。对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行与试样的组成对应的修正。预先确定表示对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行修正后的值与对象成分浓度的关系的标准曲线。根据标准曲线计算试样中的对象成分浓度。

公开(公告)号：CN101390172A

公开(公告)日：2009-03-18

申请号：CN200780006165.8

申请日：2007-02-08

Applicant: 株式会社堀场制作所 ,  独立行政法人物质·材料研究机构

Inventor： 中泽弘基 ,  吉川英树 ,  米哈伊·沃莱库·奥莱勒 ,  大堀谦一 ,  驹谷慎太郎 ,  大泽澄人

IPC: G21K1/02 ,  H05G1/00 ,  G21K1/06

CPC classification number: G21K1/06 ,  G21K2201/064

Abstract: 一种X射线聚焦元件及具有该X射线聚焦元件的X射线照射装置，能延长从射出侧开口端至被检查体的作动距离，而且，不论被检查体的大小如何都能对被检查体进行分析即荧光X射线分析和X射线衍射分析。X射线屏蔽构件(23)从与射入侧开口端的口径(毛细管(20)外径)大致相同口径的环形构件(232)向环形构件(23)中心设置支承X射线屏蔽构件的三根支承构件(233)，将环形构件(232)固定于毛细管(20)。环形构件(232)、支承构件(233)、X射线屏蔽构件(23)用钽、钨、钼等对X射线进行屏蔽的金属通过一体成形而形成。X射线屏蔽构件(23)的轴向尺寸(厚度)设定成足以屏蔽X射线的尺寸。

公开(公告)号：CN101390172B

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN200780006165.8

申请日：2007-02-08

Applicant: 株式会社堀场制作所 ,  独立行政法人物质·材料研究机构

Inventor： 中泽弘基 ,  吉川英树 ,  米哈伊·沃莱库·奥莱勒 ,  大堀谦一 ,  驹谷慎太郎 ,  大泽澄人

IPC: G21K1/02 ,  H05G1/00 ,  G21K1/06

CPC classification number: G21K1/06 ,  G21K2201/064

Abstract: 一种X射线聚焦元件及具有该X射线聚焦元件的X射线照射装置，能延长从射出侧开口端至被检查体的作动距离，而且，不论被检查体的大小如何都能对被检查体进行分析即荧光X射线分析和X射线衍射分析。X射线屏蔽构件(23)从与射入侧开口端的口径(毛细管(20)外径)大致相同口径的环形构件(232)向环形构件(23)中心设置支承X射线屏蔽构件的三根支承构件(233)，将环形构件(232)固定于毛细管(20)。环形构件(232)、支承构件(233)、X射线屏蔽构件(23)用钽、钨、钼等对X射线进行屏蔽的金属通过一体成形而形成。X射线屏蔽构件(23)的轴向尺寸(厚度)设定成足以屏蔽X射线的尺寸。

公开(公告)号：CN102042991A

公开(公告)日：2011-05-04

申请号：CN201010502167.X

申请日：2010-09-28

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 岸田真由子 ,  驹谷慎太郎 ,  大泽澄人 ,  黑住拓司 ,  后藤智 ,  金马崇 ,  有本公彦

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/307

Abstract: 本发明提供一种荧光X射线分析用试样室和试样室组装用具。试样室收容有液体燃料等试样，并且用X射线透射片密封，在内部压力上升的情况下，在作为窗口部的X射线透射片膨胀之前，试样杯端面变形，使得试样室内的容积增大。通过把膜状材料折叠形成试样杯端面，在试样室内的压力上升的情况下，试样杯端面向试样室外侧扩展，试样室内的容积增大。因容积增大可以缓解压力的上升，从而可以防止X射线透射片的膨胀。