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公开(公告)号：CN101349631B
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：CN200810134130.9
申请日：2008-07-17
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 一种粒径分布测定装置，对粒子群的粒径分布进行测定，装置本体(2)具有将光照射在所述粒子群上的光源(21)、对通过该光照射所发生的衍射或/及散射光强度进行进行检测的光检测器(22)，相对于该装置本体(2)，将从喷嘴喷射出的粒子群即喷雾粒子群引导到所述光源(21)与所述光检测器之间的喷雾测定系统(3)、以及将收容所述喷雾粒子群以外的粒子群即普通粒子群的测定容器(41)配置在所述光源(21)与所述光检测器(22)之间的普通测定系统(4)构成为可更换。采用本发明，可利用以往的粒径分布测定装置(1)，可安全地测定喷嘴喷射的喷雾粒子。
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公开(公告)号：CN1924554B
公开(公告)日：2010-09-08
申请号：CN200610151709.7
申请日：2006-08-29
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N2021/8592
Abstract: 信息处理机构(4)包括：积分部(43)，其以互相不同的2个时间对从光检测器(24)输出的光强度信号表示的光强度进行积分并分别输出各积分值，而所述光检测器(24)用于分别对光照射在试料粉粒体(S)上生成的散射光及透过光的强度进行检测；致动器控制部(44)，其为了使从积分部(43)输出的一个光强度积分值接近预定的设定值，生成并输出对于使试料收容体的试料粉粒体(S)落下的振动致动器(32)的控制信号；和粒径分布计算部(45)，其基于从积分部(43)输出的另一个光强度积分值计算出试料粉粒体(S)的粒径分布。
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公开(公告)号：CN101349631A
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200810134130.9
申请日：2008-07-17
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N15/0205
Abstract: 一种粒径分布测定装置，对粒子群的粒径分布进行测定，装置本体(2)具有将光照射在所述粒子群上的光源(21)、对通过该光照射所发生的衍射或/及散射光强度进行进行检测的光检测器(22)，相对于该装置本体(2)，将从喷嘴喷射出的粒子群即喷雾粒子群引导到所述光源(21)与所述光检测器之间的喷雾测定系统(3)、以及将收容所述喷雾粒子群以外的粒子群即普通粒子群的测定容器(41)配置在所述光源(21)与所述光检测器(22)之间的普通测定系统(4)构成为可更换。采用本发明，可利用以往的粒径分布测定装置(1)，可安全地测定喷嘴喷射的喷雾粒子。
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公开(公告)号：CN1924554A
公开(公告)日：2007-03-07
申请号：CN200610151709.7
申请日：2006-08-29
Applicant: 株式会社堀场制作所
CPC classification number: G01N15/0205 , G01N2021/8592
Abstract: 信息处理机构(4)包括：积分部(43)，其以互相不同的2个时间对从光检测器(24)输出的光强度信号表示的光强度进行积分并分别输出各积分值，而所述光检测器(24)用于分别对光照射在试料粉粒体(S)上生成的散射光及透过光的强度进行检测；致动器控制部(44)，其为了使从积分部(43)输出的一个光强度积分值接近预定的设定值，生成并输出对于使试料收容体的试料粉粒体(S)落下的振动致动器(32)的控制信号；和粒径分布计算部(45)，其基于从积分部(43)输出的另一个光强度积分值计算出试料粉粒体(S)的粒径分布。
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