自动分析装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102288773B

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201110119037.2

    申请日:2011-05-10

    CPC classification number: G01N35/1004

    Abstract: 本发明提供一种自动分析装置,具备:采样分注探头(16),进行从容纳试样的试样容器(17)吸引试样、并吐出到反应容器3内的分注;试样检测器(16b),通过该试样和采样分注探头(16)的一端部D的接触来检测试样容器(17)内的试样;清洗槽(71),清洗采样分注探头(16)的与试样接触的一端部D以及大范围W的外表面;以及供给部(73),向该清洗槽(71)供给清洗液,其中,让采样分注探头(16)进入第2清洗管(714)内,清洗大范围W的外表面,第2清洗管内通过供给部(73)的供给使清洗液贯穿流经,并矗立设置在清洗槽(71)中。

    自动分析装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102288773A

    公开(公告)日:2011-12-21

    申请号:CN201110119037.2

    申请日:2011-05-10

    CPC classification number: G01N35/1004

    Abstract: 本发明提供一种自动分析装置,具备:采样分注探头(16),进行从容纳试样的试样容器(17)吸引试样、并吐出到反应容器3内的分注;试样检测器(16b),通过该试样和采样分注探头(16)的一端部D的接触来检测试样容器(17)内的试样;清洗槽(71),清洗采样分注探头(16)的与试样接触的一端部D以及大范围W的外表面;以及供给部(73),向该清洗槽(71)供给清洗液,其中,让采样分注探头(16)进入第2清洗管(714)内,清洗大范围W的外表面,第2清洗管内通过供给部(73)的供给使清洗液贯穿流经,并矗立设置在清洗槽(71)中。

    自动分析装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104280562B

    公开(公告)日:2018-03-23

    申请号:CN201410317474.9

    申请日:2014-07-04

    Abstract: 在搭载有对反应管施加磁场的磁场产生体的自动分析装置中,提高测定结果的可靠性。磁场产生体在收容于反应管的反应液中通过磁性粒子进行磁性分离。测光机构具有产生光的测光用光源、和检测从测光用光源产生并透过了收容于反应管的反应液的光,产生与检测到的光对应的测光信号的测光用检测器。测定项目计算部根据来自测光用检测器的输出信号测量测定项目。信号处理部根据基于磁场产生体的磁性分离的空间上的不均匀性,确定测定项目的测量所利用的测光信号的利用范围。

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