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公开(公告)号：CN101802613B
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN200880107654.7
申请日：2008-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/543 , G01N21/78 , G01N33/53
CPC classification number: G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/54386 , G01N33/558 , G01N2201/1242
Abstract: 通过在使液体试样在色谱试验片(1)中展开的状态下，测定规定的两点间的亮度差、或规定的区域处的亮度变化量，并与预先设定好的规定值进行比较，从而在色谱检验中，由于可自动地检测出液体不透过性片材(8)的下部的亲水性下降等劣化，所以能进行准确的检验。
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公开(公告)号：CN104969058B
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201380072189.9
申请日：2013-12-04
Applicant: SP3H公司
IPC: G01N21/3577 , G01N21/27
CPC classification number: G01N21/3577 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2021/3181 , G01N2201/062 , G01N2201/0624 , G01N2201/121 , G01N2201/1211 , G01N2201/124 , G01N2201/1242 , G01N2201/1247 , G01N2201/127 , G01N2201/12723
Abstract: 本发明涉及一种控制产品分析光谱仪的方法，所述光谱仪包括包含多个发光二极管(LD1‑LD4)的光源(LS)，所述发光二极管(LD1‑LD4)具有结合分析波长带的相应发射光谱覆盖，所述方法包括以下步骤：向所述发光二极管中的至少一个提供供电电流(I1‑I4)以使其发光；通过测量所述发光二极管中保持未发光的至少另一个发光二极管的端子处的电流来测量所述光源发出的发光强度(LFL1‑LFL4)；根据每个发光强度测量，确定发光的每个二极管的所述供电电流的设定点值(LC1‑LC4)；以及调节发光的每个二极管的所述供电电流，使得所述供电电流与所述设定点值对应。
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公开(公告)号：CN101008616A
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200710004297.9
申请日：2007-01-22
Applicant: 株式会社日立高新技术
CPC classification number: G01N21/253 , G01N21/272 , G01N35/00603 , G01N2201/0415 , G01N2201/1242 , G01N2201/1245
Abstract: 本发明提供具备了不需要检测板的反应容器位置的检测功能和消除由反应容器中的异物引起的对吸光度的影响的功能的自动分析装置。本发明的自动分析装置具有：贮存反应液的反应容器；发出透射所述反应液的透射光的光源；对所述透射光进行测光的分光检测器；存储用所述分光检测器测出的测光数据的存储器；以及对储存在所述存储器内的测光数据进行光度运算的CPU，其特征在于，利用所述分光检测器的测光，在横跨所述反应容器的一端到另一端的全部区间内对滞留有所述反应液的部位进行检测，将所测出的测光数据存储在所述存储器内，并从储存在所述存储器内的测光数据中求出所述反应液所存在的区间的数据后进行所述光度运算。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104280562B
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201410317474.9
申请日：2014-07-04
Applicant: 东芝医疗系统株式会社
CPC classification number: G01N35/0098 , G01N21/253 , G01N35/00693 , G01N35/025 , G01N2035/00702 , G01N2201/1242
Abstract: 在搭载有对反应管施加磁场的磁场产生体的自动分析装置中，提高测定结果的可靠性。磁场产生体在收容于反应管的反应液中通过磁性粒子进行磁性分离。测光机构具有产生光的测光用光源、和检测从测光用光源产生并透过了收容于反应管的反应液的光，产生与检测到的光对应的测光信号的测光用检测器。测定项目计算部根据来自测光用检测器的输出信号测量测定项目。信号处理部根据基于磁场产生体的磁性分离的空间上的不均匀性，确定测定项目的测量所利用的测光信号的利用范围。
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公开(公告)号：CN104969058A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201380072189.9
申请日：2013-12-04
Applicant: SP3H公司
IPC: G01N21/3577 , G01N21/27
CPC classification number: G01N21/3577 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2021/3181 , G01N2201/062 , G01N2201/0624 , G01N2201/121 , G01N2201/1211 , G01N2201/124 , G01N2201/1242 , G01N2201/1247 , G01N2201/127 , G01N2201/12723
Abstract: 本发明涉及一种控制产品分析光谱仪的方法，所述光谱仪包括包含多个发光二极管(LD1-LD4)的光源(LS)，所述发光二极管(LD1-LD4)具有结合分析波长带的相应发射光谱覆盖，所述方法包括以下步骤：向所述发光二极管中的至少一个提供供电电流(I1-I4)以使其发光；通过测量所述发光二极管中保持未发光的至少另一个发光二极管的端子处的电流来测量所述光源发出的发光强度(LFL1-LFL4)；根据每个发光强度测量，确定发光的每个二极管的所述供电电流的设定点值(LC1-LC4)；以及调节发光的每个二极管的所述供电电流，使得所述供电电流与所述设定点值对应。
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公开(公告)号：CN104969059A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201380072190.1
申请日：2013-12-04
Applicant: SP3H公司
IPC: G01N21/3577 , G01N21/359 , G01N21/27
CPC classification number: G01N21/3577 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2021/3181 , G01N2201/062 , G01N2201/0624 , G01N2201/121 , G01N2201/1211 , G01N2201/124 , G01N2201/1242 , G01N2201/1247 , G01N2201/127 , G01N2201/12723
Abstract: 本发明涉及一种控制产品分析光谱仪的方法，所述方法包括以下步骤：获得表示光源(LS)的操作的测量(LFL、TPL)，根据所述测量，确定所述光源的供电电流值(LCx)，和/或传感器(OPS)的光敏单元(y)的积分持续时间值(ITy)，所述光敏单元(y)布置在由所述光源发出的光束(LB)的路径上并且所述光束与待分析产品相互作用，并且如果所述积分持续时间值和/或供电电流值在阈值之间，则向所述光源提供与所确定的供电电流值对应的供电电流，将光敏单元的所述积分持续时间调整到所确定的积分持续时间值，以及获得由所述传感器提供的发光强度测量(MSy)，从而使能形成光谱。
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公开(公告)号：CN104280562A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410317474.9
申请日：2014-07-04
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
CPC classification number: G01N35/0098 , G01N21/253 , G01N35/00693 , G01N35/025 , G01N2035/00702 , G01N2201/1242
Abstract: 在搭载有对反应管施加磁场的磁场产生体的自动分析装置中，提高测定结果的可靠性。磁场产生体在收容于反应管的反应液中通过磁性粒子进行磁性分离。测光机构具有产生光的测光用光源、和检测从测光用光源产生并透过了收容于反应管的反应液的光，产生与检测到的光对应的测光信号的测光用检测器。测定项目计算部根据来自测光用检测器的输出信号测量测定项目。信号处理部根据基于磁场产生体的磁性分离的空间上的不均匀性，确定测定项目的测量所利用的测光信号的利用范围。
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公开(公告)号：CN101802613A
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200880107654.7
申请日：2008-10-14
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/543 , G01N21/78 , G01N33/53
CPC classification number: G01N21/8483 , G01N30/95 , G01N33/54386 , G01N33/558 , G01N2201/1242
Abstract: 通过在使液体试样在色谱试验片(1)中展开的状态下，测定规定的两点间的亮度差、或规定的区域处的亮度变化量，并与预先设定好的规定值进行比较，从而在色谱检验中，由于可自动地检测出液体不透过性片材(8)的下部的亲水性下降等劣化，所以能进行准确的检验。
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