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公开(公告)号：CN101196528B
公开(公告)日：2014-02-05
申请号：CN200710196780.1
申请日：2007-12-06
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: G01N33/84 , G01N33/487
CPC classification number: G01N27/333 , G01N33/4915 , G01N33/492
Abstract: 本发明提供一种离子传感器、离子传感器模块及离子传感器的制造方法，该离子传感器具备：具有被检试样用的流路和与所述流路连接的开口部的传感器主体部；填充于所述开口部中，有选择地感应特定离子的感应部；具有圆环形状，配置成所述圆环的中心轴与所述流路的中心轴大致正交，检测所述感应的电极；和输出端，与所述电极一起由一块金属板形成，具有销形状，保持在所述传感器主体部中，使其轴心沿着与所述流路的中心轴和所述圆环的中心轴大致正交的方向。
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公开(公告)号：CN101013139B
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN200710007911.7
申请日：2007-01-30
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
CPC classification number: G01N35/1004 , G01N35/00594
Abstract: 通过探头(8a、8b)对检测体(4)依次采样，根据基于探头(8a、8b)的检测体(4)的采样次数或检测体(4)的采样量中至少一方，变更清洗探头(8a、8b)时的清洗次数或清洗时间中的至少一方。
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公开(公告)号：CN102192997A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201110053298.9
申请日：2011-03-04
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: G01N35/10
CPC classification number: G01N35/10 , G01N35/1004 , G01N35/1011 , G01N2035/1025 , Y10T436/2575
Abstract: 提供在不使清洗槽的构成变得复杂的情况下能够利用比较短的时间使液体不易附着在探头的阶梯部自动分析装置。下降控制部使上述探头从使上述阶梯部位于液体的液面位置的上方的规定位置，下降至使阶梯部位于液面位置的下方以便进行行对液体的吸取或者利用液体的清洗的各工作的工作位置。从工作位置至阶梯部刚要到达液面位置时的位置，上升控制部使探头以高速上升，然后直至阶梯部通过液面位置为止，使探头以比高速慢的低速上升，从阶梯部刚通过了液面位置至至规定位置，使探头以比低速快的高速上升。
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公开(公告)号：CN101196528A
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200710196780.1
申请日：2007-12-06
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: G01N33/84 , G01N33/487
CPC classification number: G01N27/333 , G01N33/4915 , G01N33/492
Abstract: 本发明提供一种离子传感器、离子传感器模块及离子传感器的制造方法，该离子传感器具备：具有被检试样用的流路和与所述流路连接的开口部的传感器主体部；填充于所述开口部中，有选择地感应特定离子的感应部；具有圆环形状，配置成所述圆环的中心轴与所述流路的中心轴大致正交，检测所述感应的电极；和输出端，与所述电极一起由一块金属板形成，具有销形状，保持在所述传感器主体部中，使其轴心沿着与所述流路的中心轴和所述圆环的中心轴大致正交的方向。
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公开(公告)号：CN102288773B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201110119037.2
申请日：2011-05-10
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: G01N35/00
CPC classification number: G01N35/1004
Abstract: 本发明提供一种自动分析装置，具备：采样分注探头(16)，进行从容纳试样的试样容器(17)吸引试样、并吐出到反应容器3内的分注；试样检测器(16b)，通过该试样和采样分注探头(16)的一端部D的接触来检测试样容器(17)内的试样；清洗槽(71)，清洗采样分注探头(16)的与试样接触的一端部D以及大范围W的外表面；以及供给部(73)，向该清洗槽(71)供给清洗液，其中，让采样分注探头(16)进入第2清洗管(714)内，清洗大范围W的外表面，第2清洗管内通过供给部(73)的供给使清洗液贯穿流经，并矗立设置在清洗槽(71)中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101310188B
公开(公告)日：2012-06-13
申请号：CN200780000137.5
申请日：2007-01-25
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
Inventor： 大沼武彦
IPC: G01N35/10
CPC classification number: G01N35/1011 , G01N35/1009 , G01N35/1016 , G01N2035/00277 , G01N2035/1025
Abstract: 自动分析装置具备：测定收容在反应容器中的被检测样本和试剂的反应液的测定部(20)；用于从样本容器中吸引被检测样本，排出到反应容器中的样本探头(9)；针对样本容器使样本探头升降的探头升降机构(10)；为了使用于被检测样本的第n次(n≥2)吸引的样本探头向被检测样本的液面的冲进速度比用于被检测样本的第1次吸引的样本探头向被检测样本的液面的冲进速度还慢，控制上述探头升降机构的控制部(32)。
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公开(公告)号：CN102192997B
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201110053298.9
申请日：2011-03-04
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
IPC: G01N35/10
CPC classification number: G01N35/10 , G01N35/1004 , G01N35/1011 , G01N2035/1025 , Y10T436/2575
Abstract: 提供在不使清洗槽的构成变得复杂的情况下能够利用比较短的时间使液体不易附着在探头的阶梯部自动分析装置。下降控制部使上述探头从使上述阶梯部位于液体的液面位置的上方的规定位置，下降至使阶梯部位于液面位置的下方以便进行行对液体的吸取或者利用液体的清洗的各工作的工作位置。从工作位置至阶梯部刚要到达液面位置时的位置，上升控制部使探头以高速上升，然后直至阶梯部通过液面位置为止，使探头以比高速慢的低速上升，从阶梯部刚通过了液面位置至至规定位置，使探头以比低速快的高速上升。
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公开(公告)号：CN101310188A
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200780000137.5
申请日：2007-01-25
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
Inventor： 大沼武彦
IPC: G01N35/10
CPC classification number: G01N35/1011 , G01N35/1009 , G01N35/1016 , G01N2035/00277 , G01N2035/1025
Abstract: 自动分析装置具备：测定收容在反应容器中的被检测样本和试剂的反应液的测定部(20)；用于从样本容器中吸引被检测样本，排出到反应容器中的样本探头(9)；针对样本容器使样本探头升降的探头升降机构(10)；为了使用于被检测样本的第n次(n≥2)吸引的样本探头向被检测样本的液面的冲进速度比用于被检测样本的第1次吸引的样本探头向被检测样本的液面的冲进速度还慢，控制上述探头升降机构的控制部(32)。
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公开(公告)号：CN101013139A
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200710007911.7
申请日：2007-01-30
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
CPC classification number: G01N35/1004 , G01N35/00594
Abstract: 通过探头(8a、8b)对检测体(4)依次采样，根据基于探头(8a、8b)的检测体(4)的采样次数或检测体(4)的采样量中至少一方，变更清洗探头(8a、8b)时的清洗次数或清洗时间中的至少一方。
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公开(公告)号：CN1900721A
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200610105749.8
申请日：2006-07-21
Applicant: 株式会社东芝 , 东芝医疗系统株式会社
Inventor： 大沼武彦
CPC classification number: G01N35/1009
Abstract: 本发明提供了一种自动分析装置，根据被收容在反应容器中的被检试样和试剂的混合液的性质来分析被检试样，具有：分别对应于多个测定通道的多个反应容器；移动单元，在每个分析周期中使所述多个反应容器移动后停止；分注单元，从试样容器中吸引被检试样，向被所述移动单元停止的所述多个反应容器中的第1反应容器喷出被检试样；和控制单元，控制所述分注单元，以便在所述反应容器的移动过程中吸引所述被检试样，并在所述反应容器停止后，向所述多个反应容器中的一个喷出所述被检试样，在此后的所述反应容器停止的期间中，重复进行所述被检试样的吸引、以及向所述多个反应容器中的所述第1反应容器以外的一个或多个反应容器的所述被检试样的喷出。
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