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公开(公告)号:CN102194934A
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN201010275570.3
申请日:2010-09-08
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H01L33/06 , H01L33/007 , H01L33/32
Abstract: 本发明涉及半导体发光器件、晶片、用于制造半导体发光器件的方法和用于制造晶片的方法。根据一个实施例,一种半导体发光器件包括第一层、第二层以及发光部。第一层包含n型GaN和n型AlGaN中的至少一种。第二层包含p型AlGaN。发光部具有单量子阱结构。单量子阱结构包括第一势垒层、第二势垒层以及阱层。第一势垒层被设置在第一层与第二层之间并包含Alx1Ga1-x1-y1Iny1N(0<x1,0≤y1,x1+y1<1)。第二势垒层被设置在第一势垒层与第二层之间并包含Alx2Ga1-x2-y2Iny2N(0<x2,0≤y2,x2+y2<1)。阱层被设置在第一势垒层与第二势垒层之间,包含Alx0Ga1-x0-y0Iny0N(0≤x0,0<y0,x0+y0<1,y1<y0,y2<y0)并被配置为发射近紫外光。
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公开(公告)号:CN1449061A
公开(公告)日:2003-10-15
申请号:CN03108388.9
申请日:2003-03-28
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 利用GaAs衬底,提供一种低成本和高性能的长波长光学半导体元件。该光学半导体元件包括:有相对的第一表面和第二表面的GaAs衬底;衬底第一表面上形成的InjGa1-jAs1-kNk缓冲层(0≤j≤1,0.002≤k≤0.05);缓冲层上形成的第一导电型包层;形成在第一导电型包层上并包含InzGa1-zAs(0≤z≤1)阱层的激活层,阱层的带隙小于第一导电型包层的带隙,激活层的厚度大于该衬底基于平衡理论的临界厚度;和激活层上形成的第二导电型包层,其带隙大于阱层的带隙。
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公开(公告)号:CN115732535A
公开(公告)日:2023-03-03
申请号:CN202210123253.2
申请日:2022-02-10
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L29/06 , H01L29/739 , H01L29/78 , H01L29/861 , H01L29/872 , H01L21/329 , H01L21/331 , H01L21/336
Abstract: 提供能够提高特性的晶圆、半导体装置及其制造方法。根据实施方式,晶圆包括基板以及结晶层。所述基板包括包含SiC的多个SiC区域和设置于所述多个SiC区域之间且包含Si的SiC间区域。所述结晶层包括包含SiC的第一层和在第一方向上设置于所述基板与所述第一层之间且包含SiC的第一中间层。所述第一层以第一层浓度包含氮。所述第一中间层中的氮的第一中间层浓度比所述第一浓度高。
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公开(公告)号:CN102194934B
公开(公告)日:2013-11-13
申请号:CN201010275570.3
申请日:2010-09-08
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H01L33/06 , H01L33/007 , H01L33/32
Abstract: 本发明涉及半导体发光器件、晶片、用于制造半导体发光器件的方法和用于制造晶片的方法。根据一个实施例,一种半导体发光器件包括第一层、第二层以及发光部。第一层包含n型GaN和n型AlGaN中的至少一种。第二层包含p型AlGaN。发光部具有单量子阱结构。单量子阱结构包括第一势垒层、第二势垒层以及阱层。第一势垒层被设置在第一层与第二层之间并包含Alx1Ga1-x1-y1Iny1N(0<x1,0≤y1,x1+y1<1)。第二势垒层被设置在第一势垒层与第二层之间并包含Alx2Ga1-x2-y2Iny2N(0<x2,0≤y2,x2+y2<1)。阱层被设置在第一势垒层与第二势垒层之间,包含Alx0Ga1-x0-y0Iny0N(0≤x0,0<y0,x0+y0<1,y1<y0,y2<y0)并被配置为发射近紫外光。
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公开(公告)号:CN1319182C
公开(公告)日:2007-05-30
申请号:CN03108388.9
申请日:2003-03-28
Applicant: 株式会社东芝
Abstract: 利用GaAs衬底,提供一种低成本和高性能的长波长光学半导体元件。该光学半导体元件包括:有相对的第一表面和第二表面的GaAs衬底;衬底第一表面上形成的InjGa1-jAs1-kNk缓冲层(0≤j≤1,0.002≤k≤0.05);缓冲层上形成的第一导电型包层;形成在第一导电型包层上并包含InzGa1-zAs(0≤z≤1)阱层的激活层,阱层的带隙小于第一导电型包层的带隙,激活层的厚度大于该衬底基于平衡理论的临界厚度;和激活层上形成的第二导电型包层,其带隙大于阱层的带隙。
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