-
公开(公告)号:CN110578170B
公开(公告)日:2021-01-22
申请号:CN201910438215.4
申请日:2019-05-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明涉及一种ScAlMgO4单晶及器件,以提供高品质的ScAlMgO4单晶及器件为课题。ScAlMgO4单晶含有Sc、Al、Mg和O,由电感耦合等离子体发射光谱分析法测定的Mg和Al的原子百分率之比即Mg/Al(原子%/原子%)为大于1且小于1.1。
-
公开(公告)号:CN110578170A
公开(公告)日:2019-12-17
申请号:CN201910438215.4
申请日:2019-05-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明涉及一种ScAlMgO4单晶及器件,以提供高品质的ScAlMgO4单晶及器件为课题。ScAlMgO4单晶含有Sc、Al、Mg和O,由电感耦合等离子体发射光谱分析法测定的Mg和Al的原子百分率之比即Mg/Al(原子%/原子%)为大于1且小于1.1。
-
公开(公告)号:CN110284183B
公开(公告)日:2021-07-02
申请号:CN201910197077.5
申请日:2019-03-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供一种ScAlMgO4单晶基板及其制造方法,其能够减少晶向的错乱。提供一种ScAlMgO4单晶基板,将基板的中心设为坐标(0,0),且将测定光束的宽度设为1mm×7mm,在用X射线衍射法分别对在x轴方向上以1mm的间隔从(x‑m,0)到(xm,0)和在y轴方向上以1mm的间隔从(0,y‑n)到(0,yn)的坐标位置进行分析时,各所述坐标位置处的摇摆曲线的半峰全宽的最差值小于20秒,其中,m及n是使所述测定光束收敛在不超出基板的范围内的整数。
-
公开(公告)号:CN110284183A
公开(公告)日:2019-09-27
申请号:CN201910197077.5
申请日:2019-03-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 本发明提供一种ScAlMgO4单晶基板及其制造方法,其能够减少晶向的错乱。提供一种ScAlMgO4单晶基板,将基板的中心设为坐标(0,0),且将测定光束的宽度设为1mm×7mm,在用X射线衍射法分别对在x轴方向上以1mm的间隔从(x-m,0)到(xm,0)和在y轴方向上以1mm的间隔从(0,y-n)到(0,yn)的坐标位置进行分析时,各所述坐标位置处的摇摆曲线的半峰全宽的最差值小于20秒,其中,m及n是使所述测定光束收敛在不超出基板的范围内的整数。
-
-
-