公开(公告)号：CN116501561A

公开(公告)日：2023-07-28

申请号：CN202310488882.X

申请日：2023-04-27

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司 ,  北京智芯半导体科技有限公司 ,  北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 王海宁 ,  王大伟 ,  刘建军 ,  易玲 ,  周杨凡 ,  何贤赚 ,  黄苏芳 ,  刘晓露 ,  崔国宇

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/26

Abstract: 本发明提出了一种多核同步调试工具，包括：线性稳压电源模块、USB扩展模块、第一微控制器、第二微控制器以及USB转串口模块。使用所述工具调试的方法，包括：步骤1，使用USB数据线将所述工具连接到调试电脑；步骤2，使用数据线连接待调试芯片中的两个微控制器；步骤3，发出命令使两个微控制器进入调试模式并全速运行；步骤4，同步停止两个微控制器；步骤5，调试电脑收集调试信息；步骤6，同步启动两个微控制器；步骤7，重复步骤4‑6，直至调试完成。

公开(公告)号：CN119179497A

公开(公告)日：2024-12-24

申请号：CN202411316237.0

申请日：2024-09-20

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司

Inventor： 刘晓露 ,  黄苏芳 ,  林玲 ,  王海宁

IPC: G06F8/61

Abstract: 本发明公开了一种带功耗测量的芯片烧写器及对应的烧写方法。其中带功耗测量的芯片烧写器，其特征在于，包括烧写器主板和子板，所述烧写器主板进一步包括电源模块、信息存储模块、显示模块、控制模块、烧写模块、烧写接口和功耗测量模块，所述烧写接口与子板进行连接；所述控制模块用于控制烧写过程和功耗测量操作；所述电源模块用于为烧写器供电；所述烧写模块用于实现芯片的烧写功能；所述功耗测量模块用于测量芯片的运行功耗；所述显示模块用于实时显示功耗测量结果；所述信息存储模块用于存储芯片ID号和功耗测试结果。

公开(公告)号：CN116361096A

公开(公告)日：2023-06-30

申请号：CN202111624299.4

申请日：2021-12-28

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司

Inventor： 王海宁 ,  周杨凡 ,  何贤赚 ,  黄苏芳

IPC: G06F11/25 ,  G06F11/22 ,  G06F13/38 ,  G06F13/42

Abstract: 本发明提出了一种多通道数字信号控制系统，包括多通道数字信号控制设备、通信芯片、电源芯片和电脑，所述电脑，通过USB数据线和所述通信芯片连接，所述通信芯片和所述多通道数字信号控制设备连接；电脑通过USB数据线发送控制命令，USB协议的控制命令通过通信芯片转换为串口通信协议；所述多通道数字信号控制设备通过串口接收到控制命令并解析，通过识别不同的控制命令来执行相应的控制逻辑，并将控制逻辑执行结果返回至电脑；所述电脑还通过USB数据线和电源芯片连接，所述电源芯片与所述多通道数字信号控制设备连接，为其提供电源。该系统可以简化测试流程减少测试人员工作量，协助测试人员远程完成大部分数字逻辑测试工作。

公开(公告)号：CN113311314A

公开(公告)日：2021-08-27

申请号：CN202110583310.0

申请日：2021-05-27

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司

Inventor： 何贤赚 ,  付超 ,  周杨凡 ,  王海宁 ,  李婷 ,  刘晓露

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种IC时序验证方法及装置，用户可以根据待测IC的不同类型及用户需求向处理装置发送不同的波形生成指令，使处理装置生成与波形生成指令对应的测试时序波形，然后判断待测IC基于测试时序波形生成的待测时序波形与期望时序波形是否相同，以判断待测IC是否满足用户的设计需求。由于处理装置生成测试时序波形时不受电路结构的限制，可以生成任意类型的测试时序波形，以满足不同的检验需求，在研发设计师研发出新的待测IC时，可以直接生成与待测IC对应的测试时序波形以对待测IC进行测试，不需要开发一个配套的与待测IC对应的检测装置，提高了对待测IC进行验证的效率。

公开(公告)号：CN117423573A

公开(公告)日：2024-01-19

申请号：CN202311386314.5

申请日：2023-10-24

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司

Inventor： 王海宁 ,  刘晓露 ,  唐中 ,  何贤赚 ,  蒋海啸

IPC: H01H47/00

Abstract: 本发明公开了一种继电器闭环控制电路及方法，该电路包括MCU控制器、开关电路和待控继电器；待控继电器包括第一开关、第二开关和线圈；MCU控制器的I/O口与开关电路和第一开关的公共端连接；第一开关的常开端与电源端连接；线圈一端与开关电路连接，线圈另一端与电源端连接；第二开关用于连接负载回路；其中，MCU控制器用于根据预设的第一工作模式控制开关电路导通或断开，以使得待控继电器通电或断电；MCU控制器还用于根据预设的第二工作模式检测待控继电器的状态。本发明通过使用MCU控制器的一个I/O口实现对继电器的控制和状态查询，能够节省MCU控制器的I/O资源，且降低成本。

公开(公告)号：CN119804970A

公开(公告)日：2025-04-11

申请号：CN202510033941.3

申请日：2025-01-09

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司

Inventor： 王海宁 ,  刘晓露 ,  周杨凡

IPC: G01R21/06 ,  G01R23/02

Abstract: 本发明公开了一种高分辨率测量嵌入式系统的方法，应用于包括高分辨率测量嵌入式系统，高分辨率测量嵌入式系统包括测试流程控制单元、通信接口、测量单元、调试器单元、数据存储单元和供电单元，包括以下步骤：进行初始化，设置测试流程控制单元初始化各个模块，配置通信接口和测量单元；开始测试，通过通信接口接收控制指令，启动被测嵌入式系统中的MCU；逐条指令执行，调试器单元控制MCU逐条执行指令，在每条指令后暂停；进行实时测量，测量单元实时测量电流和电压，发送数据到数据存储单元；进行数据记录，将测量数据保存到数据存储单元，供后续分析使用；结束测试，测试完成后，测试流程控制单元发送结束信号，并通过通信接口将结果反馈至控制端。

公开(公告)号：CN114095024B

公开(公告)日：2024-08-20

申请号：CN202111504720.8

申请日：2021-12-10

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司

Inventor： 何贤赚 ,  王海宁 ,  周杨凡 ,  刘玉林 ,  黄苏芳

IPC: H03M1/10

Abstract: ADC在工作的过程中会产生大量的数据，对ADC进行性能优化、参数校正、问题排查往往需要获取大量的数据并进行计算分析。本发明公开了一种ADC数据分析系统。一种ADC数据分析系统，包括：数据采集接口模块、数据格式转换模块、数据缓存模块、信号同步模块、信号发生模块、同步时钟信号发生模块和数据处理模块。对数据和测试信号做时间上的关联，用于分析如信号响应时间、信号采样时延等指标；支持同步时钟输出；可以获取、存储全部数据；可以实时展示ADC的原始数据，方便发现异常；提高了ADC应用电路的优化效率和质量；支持电平转换和多种数据接口类型；原始ADC数据可以存储和加载，方便后期处理和分析。

公开(公告)号：CN114095024A

公开(公告)日：2022-02-25

申请号：CN202111504720.8

申请日：2021-12-10

Applicant: 杭州万高科技股份有限公司

Inventor： 何贤赚 ,  王海宁 ,  周杨凡 ,  刘玉林 ,  黄苏芳

IPC: H03M1/10

Abstract: ADC在工作的过程中会产生大量的数据，对ADC进行性能优化、参数校正、问题排查往往需要获取大量的数据并进行计算分析。本发明公开了一种ADC数据分析系统。一种ADC数据分析系统，包括：数据采集接口模块、数据格式转换模块、数据缓存模块、信号同步模块、信号发生模块、同步时钟信号发生模块和数据处理模块。对数据和测试信号做时间上的关联，用于分析如信号响应时间、信号采样时延等指标；支持同步时钟输出；可以获取、存储全部数据；可以实时展示ADC的原始数据，方便发现异常；提高了ADC应用电路的优化效率和质量；支持电平转换和多种数据接口类型；原始ADC数据可以存储和加载，方便后期处理和分析。