一种氧化镓薄膜及其制备方法与紫外探测器件

    公开(公告)号:CN119314865B

    公开(公告)日:2025-03-18

    申请号:CN202411834712.3

    申请日:2024-12-13

    Abstract: 本发明涉及一种氧化镓薄膜及其制备方法与紫外探测器件,所述制备方法包括:在衬底上生长氧化镓缓冲层;在所述氧化镓缓冲层远离所述衬底的表面形成镓空位氧化镓层;在所述镓空位氧化镓层远离所述衬底的表面生长氧化镓层;得到所述氧化镓薄膜;所述形成镓空位氧化镓层的过程中,间歇性通入氧源并退火处理。本发明的制备方法通过间歇性通入氧源,得到富含镓空位的镓空位氧化镓层,降低了氧化镓薄膜的位错密度,应用于紫外探测器件时,提高了器件的性能与可靠性。

    一种氧化镓薄膜及其制备方法与紫外探测器件

    公开(公告)号:CN119314865A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411834712.3

    申请日:2024-12-13

    Abstract: 本发明涉及一种氧化镓薄膜及其制备方法与紫外探测器件,所述制备方法包括:在衬底上生长氧化镓缓冲层;在所述氧化镓缓冲层远离所述衬底的表面形成镓空位氧化镓层;在所述镓空位氧化镓层远离所述衬底的表面生长氧化镓层;得到所述氧化镓薄膜;所述形成镓空位氧化镓层的过程中,间歇性通入氧源并退火处理。本发明的制备方法通过间歇性通入氧源,得到富含镓空位的镓空位氧化镓层,降低了氧化镓薄膜的位错密度,应用于紫外探测器件时,提高了器件的性能与可靠性。

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