半导体装置的制造方法及半导体装置

    公开(公告)号:CN114830305A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202080086891.0

    申请日:2020-11-27

    Inventor: 铃木庆 河野俊

    Abstract: 暂时停留在第一区域(301)中的焊料(106)处于高曲率状态,因此在焊料(106)的顶点处与半导体元件(105)点接触。然后,一边将半导体元件(105)压向焊料(106),一边使焊料(106)从第一区域(301)向第二区域(302)从中央部向周边部慢慢润湿扩展。此时,在排斥空气的同时,焊料(106)润湿扩展,因此能够抑制空隙的产生。

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