公开(公告)号：CN104170065A

公开(公告)日：2014-11-26

申请号：CN201380013722.4

申请日：2013-03-12

Applicant: 日立化成株式会社

Inventor： 三岛公二 ,  深泽正人 ,  西山雅也

IPC: H01L21/304 ,  B24B37/00 ,  C09K3/14

CPC classification number: H01L21/30625 ,  B81C1/00 ,  C09G1/00 ,  C09G1/02 ,  C09G1/04 ,  C09G1/06 ,  C09K3/1409 ,  C09K3/1436 ,  C09K3/1463 ,  C09K3/1472 ,  C09K13/06 ,  H01L21/31053 ,  H01L21/3212 ,  H01L21/7684 ,  H01L21/76898

Abstract: 本发明涉及一种研磨方法，其具有以下工序：准备基板的工序，该基板具有(1)作为阻止层的氮化硅、和位于比该阻止层更靠近被研磨面侧位置的至少一部分(2)布线金属及至少一部分(3)绝缘材料；研磨工序，供给化学机械研磨液，对上述被研磨面侧的(2)布线金属及(3)绝缘材料进行研磨；以及停止研磨的工序，在(1)氮化硅露出且被完全除去之前停止研磨，其中，上述化学机械研磨液包含(A)(a)阴离子性且不包含疏水性取代基的单体与(b)包含疏水性取代基的单体的共聚物、(B)磨粒、(C)酸、(D)氧化剂及(E)液状介质，(B)成分具有在化学机械研磨液中为+10mV以上的ζ电位，(A)成分的共聚比(a)∶(b)以摩尔比计为25∶75～75∶25，且该化学机械研磨液的pH值为5.0以下。由此，能够以高研磨速度除去金属和层间绝缘膜，并且能够以高选择比对层间绝缘膜和阻止层进行研磨，从而制造尺寸精度高的半导体设备。

公开(公告)号：CN104170065B

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：CN201380013722.4

申请日：2013-03-12

Applicant: 日立化成株式会社

Inventor： 三岛公二 ,  深泽正人 ,  西山雅也

IPC: H01L21/304 ,  B24B37/00 ,  C09K3/14

CPC classification number: H01L21/30625 ,  B81C1/00 ,  C09G1/00 ,  C09G1/02 ,  C09G1/04 ,  C09G1/06 ,  C09K3/1409 ,  C09K3/1436 ,  C09K3/1463 ,  C09K3/1472 ,  C09K13/06 ,  H01L21/31053 ,  H01L21/3212 ,  H01L21/7684 ,  H01L21/76898

Abstract: 本发明涉及一种研磨方法，其具有以下工序：准备基板的工序，该基板具有(1)作为阻止层的氮化硅、和位于比该阻止层更靠近被研磨面侧位置的至少一部分(2)布线金属及至少一部分(3)绝缘材料；研磨工序，供给化学机械研磨液，对上述被研磨面侧的(2)布线金属及(3)绝缘材料进行研磨；以及停止研磨的工序，在(1)氮化硅露出且被完全除去之前停止研磨，其中，上述化学机械研磨液包含(A)(a)阴离子性且不包含疏水性取代基的单体与(b)包含疏水性取代基的单体的共聚物、(B)磨粒、(C)酸、(D)氧化剂及(E)液状介质，(B)成分具有在化学机械研磨液中为+10mV以上的ζ电位，(A)成分的共聚比(a)∶(b)以摩尔比计为25∶75～75∶25，且该化学机械研磨液的pH值为5.0以下。由此，能够以高研磨速度除去金属和层间绝缘膜，并且能够以高选择比对层间绝缘膜和阻止层进行研磨，从而制造尺寸精度高的半导体设备。