公开(公告)号：CN102954972B

公开(公告)日：2016-10-05

申请号：CN201210274401.7

申请日：2012-08-03

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 的场吉毅 ,  中谷林太郎 ,  佐藤恒郎

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/06 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明提供一种能够使用荧光X射线正确且迅速地进行由透射X射线装置检测出的异物的位置的元素分析的X射线分析装置。该X射线分析装置（1）具备：透射X射线检查部（10），其具有第一X射线源（12）和检测从第一X射线源透射试料（100）的透射X射线（12x）的透射X射线检测器（14）；荧光X射线检查部（20），其具有第二X射线源（22）和检测当来自第二X射线源的X射线照射试料后该试料放出的X射线（22y）的荧光X射线检测器（24）；试料台（50），其保持试料；移动机构（30），其将试料台在第一X射线源的照射位置（12R）和第二X射线源的照射位置（22R）之间相对移动；异物位置运算装置（60），其运算透射X射线检测器在试料中检测出的异物（101）的位置；移动机构控制装置（61），其控制移动机构以使由异物位置运算装置运算的异物的位置和第二X射线源的光轴（22c）一致。

公开(公告)号：CN117269213A

公开(公告)日：2023-12-22

申请号：CN202310511983.4

申请日：2023-05-08

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 金泽雄辉 ,  佐藤恒郎 ,  巽正树

IPC: G01N23/223 ,  B01L3/00 ,  G01N23/2204 ,  B65D6/10 ,  B65D81/26

Abstract: 提供流动试样用试样盒、荧光X射线分析装置以及方法。在石油等流动试样的荧光X射线分析中使用的流动试样用试样盒中，实现能够将流动试样的厚度控制为恒定的流动试样用试样池。具备：试样盒外框(107)，其在两端具有开口部；下部窗口构件(104)，其封闭试样盒外框的一个开口部；试样盒内框(106)，其在两端具有比试样盒外框的开口部窄的开口部；以及上部窗口构件(105)，其封闭试样盒内框的一个开口部，下部窗口构件和上部窗口构件中的至少一方由使X射线透过的物质构成，试样盒内框被插入到试样盒外框中，在下部窗口构件与上部窗口构件之间填充有流动试样(110)。

公开(公告)号：CN117148461A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202310122246.5

申请日：2023-02-15

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 高原稔幸 ,  佐藤恒郎 ,  松原哲 ,  关雄太 ,  岩田寿哉

IPC: G01V5/00 ,  G01N23/04

Abstract: 提供一种X射线检查装置以及X射线检查方法，即使是有可能产生翘曲、挠曲、起伏的试样，也能够准确地进行异物检查。具备：X射线源(2)，其对试样(S)照射X射线(X1)；X射线检测部(3)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透过了试样的X射线；以及试样支承机构(14)，其支承试样，试样为具有挠性的膜状，试样支承机构具备紧贴着试样中的至少配置于X射线源与X射线检测部之间的部分而对该部分进行支承的、能够使X射线透过的支承体(4)。

公开(公告)号：CN117147598A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202310102988.1

申请日：2023-02-10

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 高原稔幸 ,  佐藤恒郎 ,  松原哲 ,  关雄太 ,  岩田寿哉

IPC: G01N23/083 ,  G01V5/00

Abstract: 提供X射线检查装置以及X射线检查方法，即使是具有正极材料的涂布部和未涂布部的试样，也能够在相同的条件下同时对双方的部分进行异物检查。具备：X射线源(2)，其对试样(S)照射X射线(X1)；X射线检测部(3)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透过了试样的X射线；以及滤波器(4)，其设置于X射线源与X射线检测部之间，试样具有X射线吸收量相对多的区域和X射线吸收量相对少的区域，滤波器由如下材料构成，该材料使得透过了X射线吸收量多的区域的X射线与透过了X射线吸收量少的区域的X射线的强度比比未设置滤波器的状态小。