公开(公告)号：CN117147598A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202310102988.1

申请日：2023-02-10

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 高原稔幸 ,  佐藤恒郎 ,  松原哲 ,  关雄太 ,  岩田寿哉

IPC: G01N23/083 ,  G01V5/00

Abstract: 提供X射线检查装置以及X射线检查方法，即使是具有正极材料的涂布部和未涂布部的试样，也能够在相同的条件下同时对双方的部分进行异物检查。具备：X射线源(2)，其对试样(S)照射X射线(X1)；X射线检测部(3)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透过了试样的X射线；以及滤波器(4)，其设置于X射线源与X射线检测部之间，试样具有X射线吸收量相对多的区域和X射线吸收量相对少的区域，滤波器由如下材料构成，该材料使得透过了X射线吸收量多的区域的X射线与透过了X射线吸收量少的区域的X射线的强度比比未设置滤波器的状态小。

公开(公告)号：CN117148461A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202310122246.5

申请日：2023-02-15

Applicant: 日本株式会社日立高新技术科学

Inventor： 高原稔幸 ,  佐藤恒郎 ,  松原哲 ,  关雄太 ,  岩田寿哉

IPC: G01V5/00 ,  G01N23/04

Abstract: 提供一种X射线检查装置以及X射线检查方法，即使是有可能产生翘曲、挠曲、起伏的试样，也能够准确地进行异物检查。具备：X射线源(2)，其对试样(S)照射X射线(X1)；X射线检测部(3)，其相对于试样设置于与X射线源相反的一侧，检测透过了试样的X射线；以及试样支承机构(14)，其支承试样，试样为具有挠性的膜状，试样支承机构具备紧贴着试样中的至少配置于X射线源与X射线检测部之间的部分而对该部分进行支承的、能够使X射线透过的支承体(4)。