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公开(公告)号：CN101073014A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200580042311.3
申请日：2005-12-08
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 本发明的目的在于实现可应对检查对象的端子狭小化，同时可充分确保与检查对象的电连接以及内部的电连接的检查装置。该检查装置具有：探针(3)；保持探针(3)的探针保持具(4)；通过探针(3)对检查对象(1)输出检查信号的检查电路(5)；以及对探针(3)与检查电路(5)进行电连接的中继连接构件(6)。中继连接构件(6)具有：第一连接构件(8)，其具备第一配线构造(11、12)，该第一配线构造与探针(3)电连接，相邻的第一配线构造彼此形成于不同的层上；以及第二连接构件(9)，其具有第二配线构造(16)，该第二配线构造与检查电路(5)所具备的配线构造(7)电连接且形成于同一层上。中继连接构件(6)由于具备适于与探针(3)连接的第一连接构件(8)；以及适于与检查电路(5)连接的第二连接构件(9)，而可以实现对两者的良好的电导通。
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公开(公告)号：CN1938594A
公开(公告)日：2007-03-28
申请号：CN200580010330.8
申请日：2005-03-28
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R31/2889 , G09G3/3611
Abstract: 本发明提供一种接触块(14)，将电连接检查对象的多个探针(3)和检查装置之间电布线连接，其中，具有与各探针(3)电接触的多个探测片(7a)和至少设于一端部且与各探测片(7a)连接的接线片(7b)的挠性布线基板(7)，形成曲面并折弯，在形成多个探测片(7a)的面的相反面形成并固定接线片(7b)组，与检查装置连接的扁形电缆(9、10)与接线片(7b)组连接。由此，可提供能够形成对应于LCD面板等检查对象的连接端子的密集化的探测块，并且容易制造的接触块。
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公开(公告)号：CN100541301C
公开(公告)日：2009-09-16
申请号：CN200480007919.8
申请日：2004-03-26
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 外间裕康
IPC: G02F1/1345 , G02F1/13 , H01R11/00
CPC classification number: H01R13/2421 , G02F1/1309 , G02F1/13452 , G02F2203/69 , H01R2201/20
Abstract: 一种液晶面板用检查装置，是使探针块(1)的探针(2)抵接于液晶面板用阵列玻璃(3)的端子用导电图案(4)以进行检查的液晶面板用检查装置，其中，探针块(1)是以根据液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线(F)以及信号线(S)构成基本端子用导电图案(4S)时，以对应整体的各布线的方式，形成插入探针(2)的多个插入孔(16)，并经将探针(2)插入在多个插入孔(16)中的与构成供试液晶面板用阵列玻璃(3)的端子用导电图案(4)的各布线一致的插入孔(16)而构成，另一方面，未插入上述探针(2)的插入孔(16)则保持空孔的状态。
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公开(公告)号：CN1646924A
公开(公告)日：2005-07-27
申请号：CN03808534.8
申请日：2003-04-16
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R1/07314 , G01R1/0466 , G01R1/0483
Abstract: 一种由臂支承的支架，其包括金属加强构件和填充在形成在该加强构件中的开口内的塑料支架孔形成构件。在支架孔形成构件中形成多个支架孔，并且将螺旋弹簧和导电探针构件安装在各个支架孔中，以由此提供具有两个可动端部的探头。因为支架基本上由金属构件制成，所以与完全由塑料材料构成的支架相比可以提高该支架的机械强度。因此，探头支架不会由于因测试(在高温条件下进行的测试)的温度变化和残余应力引起的老化而导致尺寸发生变化，从而可以避免支架孔的间距发生变化，并且可以确保高精度。因此，该探头使得能够以可靠的方式长时间进行测试。
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公开(公告)号：CN100565216C
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200580010330.8
申请日：2005-03-28
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R31/2889 , G09G3/3611
Abstract: 本发明提供一种接触块(14)，将电连接检查对象的多个探针(3)和检查装置之间电布线连接，其中，具有与各探针(3)电接触的多个探测片(7a)和设于两端部且与各探测片(7a)连接的接线片(7b)的挠性布线基板(7)，形成曲面并折弯，在形成多个探测片(7a)的面的相反面邻接形成并固定接线片(7b)组，与检查装置连接的扁形电缆(9、10)与接线片(7b)组连接，挠性布线基板卷绕在保持材上，挠性布线基板的长度方向的长度和保持材的周围长大致相同。由此，可提供能够形成对应于LCD面板等检查对象的连接端子的密集化的探测块，并且容易制造的接触块。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100434925C
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200480011142.2
申请日：2004-04-23
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 外间裕康
IPC: G01R31/00 , G02F1/13 , G02F1/1368
CPC classification number: G09G3/006 , G01R1/0416 , G02F2001/136254
Abstract: 在将多个探针块(1)与液晶面板(3)的端子用导电图案(4)抵接并进行检查的液晶面板用检查装置中，设置在探针块(1)的每一个上的各个柔性基板(5)的每一个，将对应于奇数以及偶数的柔性基板(5a)和(5b)，根据中继基板(6)内的对应于奇数以及偶数的地址部(6a)和(6b)的设置位置，相互分开，其各个连接端部(5A)、(5B)分别逐渐靠近并连接到对应于奇数以及偶数的地址部(6a)和(6b)上。由此，能够设定柔性基板(5)的各个连接端部(5A)、(5B)和对应于奇数以及偶数的地址部(6a)和(6b)之间的连接布线(15)尽量短，并且能够避免连接布线(15)交差状态的出现，实现简化。
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公开(公告)号：CN1781028A
公开(公告)日：2006-05-31
申请号：CN200480011142.2
申请日：2004-04-23
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 外间裕康
IPC: G01R31/00 , G02F1/13 , G02F1/1368
CPC classification number: G09G3/006 , G01R1/0416 , G02F2001/136254
Abstract: 在将多个探针块(1)与液晶面板(3)的端子用导电图案(4)抵接并进行检查的液晶面板用检查装置中，设置在探针块(1)的每一个上的各个柔性基板(5)的每一个，将奇数以及偶数对应柔性基板(5a)和(5b)，根据中继基板(6)内的奇数以及偶数对应地址部(6a)和(6b)的设置位置，相互分开，其各个连接端部(5A)、(5B)分别逐渐靠近连接到奇数以及偶数对应地址部(6a)和(6b)上。由此，能够设定柔性基板(5)的各个连接端部(5A)、(5B)和奇数以及偶数对应地址部(6a)和(6b)之间的连接布线(15)尽量短，并且能够避免连接布线(15)交差状态的出现，实现简化。
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公开(公告)号：CN101073014B
公开(公告)日：2010-05-26
申请号：CN200580042311.3
申请日：2005-12-08
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 本发明的目的在于实现可应对检查对象的端子狭小化，同时可充分确保与检查对象的电连接以及内部的电连接的检查装置。该检查装置具有：探针(3)；保持探针(3)的探针保持具(4)；通过探针(3)对检查对象(1)输出检查信号的检查电路(5)；以及对探针(3)与检查电路(5)进行电连接的中继连接构件(6)。中继连接构件(6)具有：第一连接构件(8)，其具备第一配线构造(11、12)，该第一配线构造与探针(3)电连接，相邻的第一配线构造彼此形成于不同的层上；以及第二连接构件(9)，其具有第二配线构造(16)，该第二配线构造与检查电路(5)所具备的配线构造(7)电连接且形成于同一层上。中继连接构件(6)由于具备适于与探针(3)连接的第一连接构件(8)；以及适于与检查电路(5)连接的第二连接构件(9)，而可以实现对两者的良好的电导通。
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公开(公告)号：CN100387993C
公开(公告)日：2008-05-14
申请号：CN03808534.8
申请日：2003-04-16
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01R1/07314 , G01R1/0466 , G01R1/0483
Abstract: 一种由臂支承的支架，其包括金属加强构件和填充在形成在该加强构件中的开口内的塑料支架孔形成构件。在支架孔形成构件中形成多个支架孔，并且将螺旋弹簧和导电探针构件安装在各个支架孔中，以由此提供具有两个可动端部的探头。因为支架基本上由金属构件制成，所以与完全由塑料材料构成的支架相比可以提高该支架的机械强度。因此，探头支架不会由于因测试(在高温条件下进行的测试)的温度变化和残余应力引起的老化而导致尺寸发生变化，从而可以避免支架孔的间距发生变化，并且可以确保高精度。因此，该探头使得能够以可靠的方式长时间进行测试。
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公开(公告)号：CN1764868A
公开(公告)日：2006-04-26
申请号：CN200480007919.8
申请日：2004-03-26
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 外间裕康
IPC: G02F1/1345 , G02F1/13 , H01R11/00
CPC classification number: H01R13/2421 , G02F1/1309 , G02F1/13452 , G02F2203/69 , H01R2201/20
Abstract: 一种液晶面板用检查装置，是使探针块(1)的探针(2)抵接于液晶面板用阵列玻璃(3)的端子用导电图案(4)以进行检查的液晶面板用检查装置，其中，探针块(1)是以根据液晶面板的要求规格而作成的最多条数的功能线(F)以及信号线(S)构成基本端子用导电图案(4S)时，以对应整体的各布线的方式，形成插入探针(2)的多个插入孔(16)，并经将探针(2)插入在多个插入孔(16)内、与构成供试液晶面板用阵列玻璃(3)的端子用导电图案(4)的各布线一致的插入孔(16)而构成，另一方面，未插入上述探针(2)的插入孔(16)则保持空孔的状态。
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