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公开(公告)号：CN1854681B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200610076602.0
申请日：2006-04-19
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01B11/024
Abstract: 本发明的测量装置具有下列特征：接收各自从被测量物体的一个面上的第1位置以及第2位置进来的反射光的第1以及第2的平行棱镜，以及聚集或者发散从上述第1以及第2的平行棱镜进来的光的光学透镜，以及接收来自上述光学透镜的光并且把上述第1位置及第2位置的图像转换成电信号的图像传感器，以及根据上述电信号把上述的第1位置及第2位置的图像表示在一个画面上的显示装置。根据本发明，利用1个光学系统在1个画面上测量互相分开的复数的位置成为可能。根据本发明的测量装置以及测量方法，通过采用平行棱镜，在被测量物体的正上方可以使光线相对高度方向作90度的弯曲，从而可以减小光学系统的大小、高度(工作距离)，可以使测量装置小型化。
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公开(公告)号：CN1854681A
公开(公告)日：2006-11-01
申请号：CN200610076602.0
申请日：2006-04-19
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01B11/024
Abstract: 本发明的测量装置具有下列特征：接收各自从被测量物体的一个面上的第1位置以及第2位置进来的反射光的第1以及第2的平行棱镜，以及聚集或者发散从上述第1以及第2的平行棱镜进来的光的光学透镜，以及接收来自上述光学透镜的光并且把上述第1位置及第2位置的图像转换成电信号的图像传感器，以及根据上述电信号把上述的第1位置及第2位置的图像表示在一个画面上的显示装置。根据本发明，利用1个光学系统在1个画面上测量互相分开的复数的位置成为可能。根据本发明的测量装置以及测量方法，通过采用平行棱镜，在被测量物体的正上方可以使光线相对高度方向作90度的弯曲，从而可以减小光学系统的大小、高度(工作距离)，可以使测量装置小型化。
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公开(公告)号：CN101866654A
公开(公告)日：2010-10-20
申请号：CN201010165587.3
申请日：2010-04-16
Applicant: 日本发条株式会社
IPC: G11B5/55
CPC classification number: G11B5/5552
Abstract: 一种处理设备(60)，包括连接于第一导电部分(41)和第二导电部分(46)的电路(61)。AC电压源(70)产生AC波形电压(V2)，所述AC波形电压(V2)是通过将偏置电压(VB)加上用于电容测量的AC电压(V1)获得的。AC波形电压(V2)是通过测量探头(62、63)施加在第一导电部分(41)和第二导电部分(46)之间的。在开关(71)闭合时将AC波形电压(V2)施加于电路(61)的瞬间，涌入电流基于偏置电压(VB)的电位差流过电路(61)。这种涌入电流造成导电树脂(40)中的介电击穿，由此确保导电树脂(40)的导通性。由于确保了导电树脂(40)的导通性，通过AC波形电压(V2)测得压电本体(30)的电容，并判断压电本体(30)是否正常。
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公开(公告)号：CN101604535A
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：CN200910142720.0
申请日：2009-06-02
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 回收磁头支架的方法、制造磁头支架的方法和回收工件的方法。回收磁头支架的方法包括从磁头支架的舌状物221分离滑块225以及去除舌状物221上残留的粘合剂227。去除舌状物221上残留的粘合剂227包括将加快去除粘合剂227的溶剂243提供到残留有粘合剂227的舌状物221部分以及通过对舌状物221上的粘合剂残留部分应用物理能量来加快残留的粘合剂227从舌状物221的去除。可通过加热、超声波振动等来产生物理能量。本方法无需直接地对舌状物221应用机械力即可从舌状物221容易地去除粘合剂227，从而提高了产量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108686846B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN201810259762.1
申请日：2018-03-27
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 本发明提供一种供给试剂的方法，该方法能够正好在将试剂限定地供给到每个限定部之前稳定供给部件的剩余试剂的特性和量。该方法包括将供给部件间歇地移动至在结构体(55)上限定的多个限定部(86)，从而将流动性试剂以预定量限定地供给到所述限定部中的每一个限定部。结构体(55)包括具有限定部(86)的半成品部件(73)和要与该半成品部件(73)分离的框架(71)。框架(71)包括用于流动性试剂的废弃部(91)。废弃部(91)具有与限定部(86)相同的形式。供给部件将流动性试剂以与预定量相同的量浪费地供给到废弃部(91)，之后开始间歇的移动，以便限定地供给流动性试剂。
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公开(公告)号：CN108686846A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810259762.1
申请日：2018-03-27
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G11B21/046 , G11B5/4826 , G11B5/483 , B05B9/035 , B05B12/06 , B05B13/0292 , B05B15/70
Abstract: 本发明提供一种供给试剂的方法，该方法能够正好在将试剂限定地供给到每个限定部之前稳定供给部件的剩余试剂的特性和量。该方法包括将供给部件间歇地移动至在结构体(55)上限定的多个限定部(86)，从而将流动性试剂以预定量限定地供给到所述限定部中的每一个限定部。结构体(55)包括具有限定部(86)的半成品部件(73)和要与该半成品部件(73)分离的框架(71)。框架(71)包括用于流动性试剂的废弃部(91)。废弃部(91)具有与限定部(86)相同的形式。供给部件将流动性试剂以与预定量相同的量浪费地供给到废弃部(91)，之后开始间歇的移动，以便限定地供给流动性试剂。
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公开(公告)号：CN101866654B
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN201010165587.3
申请日：2010-04-16
Applicant: 日本发条株式会社
IPC: G11B5/55
CPC classification number: G11B5/5552
Abstract: 一种处理设备(60)，包括连接于第一导电部分(41)和第二导电部分(46)的电路(61)。AC电压源(70)产生AC波形电压(V2)，所述AC波形电压(V2)是通过将偏置电压(VB)加上用于电容测量的AC电压(V1)获得的。AC波形电压(V2)是通过测量探头(62、63)施加在第一导电部分(41)和第二导电部分(46)之间的。在开关(71)闭合时将AC波形电压(V2)施加于电路(61)的瞬间，涌入电流基于偏置电压(VB)的电位差流过电路(61)。这种涌入电流造成导电树脂(40)中的介电击穿，由此确保导电树脂(40)的导通性。由于确保了导电树脂(40)的导通性，通过AC波形电压(V2)测得压电本体(30)的电容，并判断压电本体(30)是否正常。
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公开(公告)号：CN100369149C
公开(公告)日：2008-02-13
申请号：CN03154918.7
申请日：2003-08-25
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: B23K26/0738 , B21D11/20 , Y10T29/49041
Abstract: 一种薄板的成形方法、薄板以及悬梁的校正装置及其校正方法，可以高精度使悬梁的载荷弯曲部以及角度调整部折曲。在悬梁的载荷弯曲部(202)以及角度调整部上在折曲方向上设定激光照射区域(211)，对该激光照射区域(211)照射给定长度以及形状的激光。这样，由于载荷弯曲部(202)以及角度调整部按照激光照射弯曲，通过控制该激光照射可以高精度进行弯曲，可以获得适当的载荷以及角度。
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公开(公告)号：CN1487522A
公开(公告)日：2004-04-07
申请号：CN03154918.7
申请日：2003-08-25
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: B23K26/0738 , B21D11/20 , Y10T29/49041
Abstract: 一种薄板的成形方法、薄板以及悬梁的校正装置及其校正方法，可以高精度使悬梁的载荷弯曲部以及角度调整部折曲。在悬梁的载荷弯曲部(202)以及角度调整部上在折曲方向上设定激光照射区域(211)，对该激光照射区域(211)照射给定长度以及形状的激光。这样，由于载荷弯曲部(202)以及角度调整部按照激光照射弯曲，通过控制该激光照射可以高精度进行弯曲，可以获得适当的载荷以及角度。
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