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公开(公告)号：CN117620981A
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202311078866.X
申请日：2023-08-25
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 工件固定装置(33)，包括一个工件支撑面(80)和一个吹吸单元(90)。工件支撑面(80)包括在其中形成的吸附孔(82)。放置在工件支撑面(80)上的工件通过吸附孔(82)被吸附住。吹吸单元(90)包括一个离子发生器(93)，用于离子化气体(例如空气)；一个喷射口(100)，将气体喷射向工件；以及一个吸入口(101)。吹向工件并被工件反射的气体通过吸入口(101)被吸入。在向工件吹送离子化气体的同时，吹吸单元(90)相对于工件的长度方向移动。
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公开(公告)号：CN113399201B
公开(公告)日：2023-07-11
申请号：CN202110271628.5
申请日：2021-03-12
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 本间彰
Abstract: 一种用于将粘着剂涂布于对象物的涂布方法，其包括在将所述粘着剂涂布于所述对象物的指定部分之前将所述粘着剂涂布于与所述指定部分不同的部分上，计算与所述指定部分不同的部分上涂布的所述粘着剂的涂布量，基于所述计算结果执行修正所述粘着剂的涂布条件的第1修正，根据所述第1修正中修正的涂布条件将所述粘着剂涂布于所述指定部分。在所述第1修正中，基于所述第1修正前修正的第2修正中的所述涂布条件的修正量，和从所述第2修正到所述第1修正的修正间隔中的至少1个设定修正量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101603814B
公开(公告)日：2013-10-02
申请号：CN200910146160.6
申请日：2009-06-10
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 本间彰
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G11B5/4826
Abstract: 一种用于探测形成在负载梁上凹窝位置的凹窝位置探测装置，设有照明装置(55)、成像装置(54)和图像处理部分(60)。照明装置(55)将照明光射向凹窝(33)。成像装置(54)从凹窝(33)接收反射光。图像处理部分(60)将由成像装置得到的图像二进制化。图像处理部分(60)包括：用于使二进制化水平最大的装置(S2)、用于将反射光图像二进制化的装置(S3)、用于确定光点区域(P1)的面积或二进制化水平以上的在区域上的面积是否具有预定值的装置(S4)、当光点区域(P1)的面积小于预定值时降低二进制化水平的装置(S5、S6)、以及用于用由光点区域面积(P1)所达到的预定值来计算光点区域(P1)的重力位置的装置(S8)。
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公开(公告)号：CN113399201A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110271628.5
申请日：2021-03-12
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 本间彰
Abstract: 一种用于将粘着剂涂布于对象物的涂布方法，其包括在将所述粘着剂涂布于所述对象物的指定部分之前将所述粘着剂涂布于与所述指定部分不同的部分上，计算与所述指定部分不同的部分上涂布的所述粘着剂的涂布量，基于所述计算结果执行修正所述粘着剂的涂布条件的第1修正，根据所述第1修正中修正的涂布条件将所述粘着剂涂布于所述指定部分。在所述第1修正中，基于所述第1修正前修正的第2修正中的所述涂布条件的修正量，和从所述第2修正到所述第1修正的修正间隔中的至少1个设定修正量。
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公开(公告)号：CN1854681B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200610076602.0
申请日：2006-04-19
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01B11/024
Abstract: 本发明的测量装置具有下列特征：接收各自从被测量物体的一个面上的第1位置以及第2位置进来的反射光的第1以及第2的平行棱镜，以及聚集或者发散从上述第1以及第2的平行棱镜进来的光的光学透镜，以及接收来自上述光学透镜的光并且把上述第1位置及第2位置的图像转换成电信号的图像传感器，以及根据上述电信号把上述的第1位置及第2位置的图像表示在一个画面上的显示装置。根据本发明，利用1个光学系统在1个画面上测量互相分开的复数的位置成为可能。根据本发明的测量装置以及测量方法，通过采用平行棱镜，在被测量物体的正上方可以使光线相对高度方向作90度的弯曲，从而可以减小光学系统的大小、高度(工作距离)，可以使测量装置小型化。
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公开(公告)号：CN101603814A
公开(公告)日：2009-12-16
申请号：CN200910146160.6
申请日：2009-06-10
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 本间彰
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G11B5/4826
Abstract: 一种用于探测形成在负载梁上凹窝位置的凹窝位置探测装置，设有照明装置(55)、成像装置(54)和图像处理部分(60)。照明装置(55)将照明光射向凹窝(33)。成像装置(54)从凹窝(33)接收反射光。图像处理部分(60)将由成像装置得到的图像二进制化。图像处理部分(60)包括：用于使二进制化水平最大的装置(S2)、用于将反射光图像二进制化的装置(S3)、用于确定光点区域(P1)的面积或二进制化水平以上的在区域上的面积是否具有预定值的装置(S4)、当光点区域(P1)的面积小于预定值时降低二进制化水平的装置(S5、S6)、以及用于用由光点区域面积(P1)所达到的预定值来计算光点区域(P1)的重力位置的装置(S8)。
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公开(公告)号：CN1854681A
公开(公告)日：2006-11-01
申请号：CN200610076602.0
申请日：2006-04-19
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G01B11/024
Abstract: 本发明的测量装置具有下列特征：接收各自从被测量物体的一个面上的第1位置以及第2位置进来的反射光的第1以及第2的平行棱镜，以及聚集或者发散从上述第1以及第2的平行棱镜进来的光的光学透镜，以及接收来自上述光学透镜的光并且把上述第1位置及第2位置的图像转换成电信号的图像传感器，以及根据上述电信号把上述的第1位置及第2位置的图像表示在一个画面上的显示装置。根据本发明，利用1个光学系统在1个画面上测量互相分开的复数的位置成为可能。根据本发明的测量装置以及测量方法，通过采用平行棱镜，在被测量物体的正上方可以使光线相对高度方向作90度的弯曲，从而可以减小光学系统的大小、高度(工作距离)，可以使测量装置小型化。
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