聚硅烷化合物的金属除去方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116891572A

    公开(公告)日:2023-10-17

    申请号:CN202310302956.6

    申请日:2023-03-27

    Abstract: 本发明提供不产生新的金属的污染,能够从聚硅烷化合物高效率地除去金属的聚硅烷化合物的精制方法。此外,提供从通过现有方法除去了金属成分的聚硅烷化合物,可以进一步显著地减少金属成分的含量的聚硅烷化合物的精制方法。进一步,提供显著减少了金属成分的含量的高纯度的聚硅烷化合物。解决手段是一种聚硅烷化合物的精制法,其至少具有下述工序:准备工序,将包含金属杂质的聚硅烷化合物用至少1种具有酰胺基骨架的化合物进行稀释;以及金属除去工序,通过对被稀释了的聚硅烷化合物进行金属除去处理,将该金属杂质除去到体系外。

    抗蚀剂下层膜形成用组合物
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119365829A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202380047369.5

    申请日:2023-06-02

    Abstract: 提供除了耐蚀刻性、耐热性以外,还使固化性、产生的升华物的量、膜厚的面内均匀性、平坦化性、埋入性等各种其它各特性满足的抗蚀剂下层膜形成用组合物。一种抗蚀剂下层膜形成用组合物,是包含酚醛清漆树脂和溶剂的抗蚀剂下层膜形成用组合物,酚醛清漆树脂包含具有芳香族环的单元结构A,该单元结构A包含下述式(A)所示的、作为2个氮杂芳基稠环通过连接基L而结合了的结构单元的一种或二种以上双(氮杂芳基稠环)结构单元;使用了该组合物的抗蚀剂图案的形成方法和半导体装置的制造方法。#imgabs0#

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