公开(公告)号：CN1186767C

公开(公告)日：2005-01-26

申请号：CN00130441.0

申请日：2000-09-26

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 浅野猛 ,  田中厚 ,  东條泰久 ,  表利彦

IPC: G11B5/48 ,  G11B21/16

CPC classification number: G11B5/484

Abstract: 一种磁头臂制造方法及磁头臂用金属基板的检测方法，该制造方法在由不锈钢构成的长条形基板端部区域采取与基板宽度方向TD平行的若干片试验片，测量所采取的试验片的曲率差异，选择曲率差异在0.002[l/mm]以下的基板作为磁头臂用基板，将所选择的基板沿长度方向输送，并在基板上层积绝缘层及导体层而形成多个磁头臂。能减少在长条形基板上形成的多个磁头臂舌片的翘曲差异，提高正品率。

公开(公告)号：CN1290925A

公开(公告)日：2001-04-11

申请号：CN00130441.0

申请日：2000-09-26

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 浅野猛 ,  田中厚 ,  东條泰久 ,  表利彦

IPC: G11B5/48 ,  G11B21/16

CPC classification number: G11B5/484

Abstract: 一种磁头臂制造方法及磁头臂用金属基板的检测方法,该制造方法在由不锈钢构成的长条形基板端部区域采取与基板宽度方向TD平行的若干片试验片,测量所采取的试验片的曲率差异,选择曲率差异在0.002(1/mm)以下的基板作为磁头臂用基板,将所选择的基板沿长度方向输送,并在基板上层积绝缘层及导体层而形成多个磁头臂。能减少在长条形基板上形成的多个磁头臂舌片的翘曲差异,提高正品率。