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公开(公告)号:CN115354307B
公开(公告)日:2023-08-18
申请号:CN202211164987.1
申请日:2022-09-23
Applicant: 拓荆科技股份有限公司
IPC: C23C16/458
Abstract: 本发明涉及半导体制造技术领域,更具体的说,涉及一种真空加热衬底设备。本发明提供了一种真空加热衬底设备,包括衬底处理腔室、真空吸附式加热装置和压力控制系统;所述真空吸附式加热装置,设置在衬底处理腔室的内部,用于放置衬底并进行加热;所述压力控制系统包括吸附子系统、解吸附子系统、清洁子系统和压力调节子系统;所述解吸附子系统,可通断地与吸附子系统相连接,用于对衬底实现解吸附,所述解吸附子系统设置有颗粒收集器,对工艺过程中累积的颗粒进行收集。本发明提供的真空加热衬底设备,在提高衬底薄膜均匀性的同时避免了压力控制系统频繁更换的问题。
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公开(公告)号:CN115763352A
公开(公告)日:2023-03-07
申请号:CN202211420787.8
申请日:2022-11-11
Applicant: 拓荆科技股份有限公司
IPC: H01L21/683 , H01L21/67
Abstract: 本发明提供了一种半导体装置及半导体加工工艺方法,涉及半导体加工技术领域,所述半导体装置包括:反应腔室;加热盘,设于所述反应腔室内;所述加热盘上开设有吸附孔;前级管道,顶端与所述反应腔室连通,底端与真空泵连接;真空吸附管路,包括第一至第三连接管路;所述第一至第三连接管路分别连通所述加热盘、所述前级管道的顶端和底端。这样,通过对所述第一至第三阀门的逻辑控制,使所述第一至第三阀门在时序控制下转动,以切换所述第一至第三连接管路导通或阻断状态,从而将真空吸附管路中的残留气体完全排空,提升真空吸附效果、降低晶圆吸附不牢靠而掉落的现象、减少产品错误率和能源浪费。
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公开(公告)号:CN115354307A
公开(公告)日:2022-11-18
申请号:CN202211164987.1
申请日:2022-09-23
Applicant: 拓荆科技股份有限公司
IPC: C23C16/458
Abstract: 本发明涉及半导体制造技术领域,更具体的说,涉及一种真空加热衬底设备。本发明提供了一种真空加热衬底设备,包括衬底处理腔室、真空吸附式加热装置和压力控制系统;所述真空吸附式加热装置,设置在衬底处理腔室的内部,用于放置衬底并进行加热;所述压力控制系统包括吸附子系统、解吸附子系统、清洁子系统和压力调节子系统;所述解吸附子系统,可通断地与吸附子系统相连接,用于对衬底实现解吸附,所述解吸附子系统设置有颗粒收集器,对工艺过程中累积的颗粒进行收集。本发明提供的真空加热衬底设备,在提高衬底薄膜均匀性的同时避免了压力控制系统频繁更换的问题。
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公开(公告)号:CN218918830U
公开(公告)日:2023-04-25
申请号:CN202223047596.X
申请日:2022-11-16
Applicant: 拓荆科技股份有限公司
IPC: H01L21/683 , H01L21/06 , H01J37/32
Abstract: 本实用新型涉及半导体加工技术领域,具体提供了一种半导体装置及半导体设备,所述半导体装置包括:反应腔室,所述反应腔室内设有加热盘;真空夹持组件,与所述反应腔室内的所述加热盘连接;其中,所述真空夹持组件的数量与所述反应腔室数量相对应,在所述真空夹持组件为偶数个的情况下,偶数个所述真空夹持组件对称设置。这样,每一个反应腔室配备一个独立的真空夹持组件,各自工作、互不影响,还可以减小工艺副产物抽出速度,减小副产物积累造成的管路堵塞、阀门内漏的现象,进而提高晶圆吸附效果、减少异常工艺表现。
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