公开(公告)号：CN117092057A

公开(公告)日：2023-11-21

申请号：CN202311094380.5

申请日：2023-08-29

Applicant: 成都晨光博达新材料股份有限公司 ,  四川晨光博达新材料有限公司

Inventor： 韩迪 ,  周光红 ,  傅强 ,  刘皓

IPC: G01N21/3563

Abstract: 本发明公开了一种测试MQ硅树脂中MQ比值的方法，通过一系列已知MQ比值的标准样品，采用红外光谱对特定基团（1080cm‑1处的Si‑O‑Si和1250cm‑1处的Si‑CH）3的吸收峰进行积分，建立起峰面积比与MQ比值的定量关系，拟合得到相应的标定曲线。依据该标定曲线，结合MQ硅树脂的红外光谱，可以准确计算其MQ比值，该方法所得结果与核磁共振谱具有较好的可比性，具有简单和可操作性强的优点。

公开(公告)号：CN116165236A

公开(公告)日：2023-05-26

申请号：CN202211601284.0

申请日：2022-12-14

Applicant: 成都晨光博达新材料股份有限公司

Inventor： 韩迪 ,  周光红 ,  傅强 ,  刘皓 ,  周家发 ,  邓清田

IPC: G01N24/08

Abstract: 本发明公开了一种MQ硅树脂中硅羟基含量的测试方法，包括两种检测方式，一种是采用固态核磁共振硅谱定量表征水玻璃法合成的MQ硅树脂中硅羟基的质量分数；另一种采用固态核磁共振硅谱和液态核磁共振氢谱结合定量表征正硅酸乙酯法合成的MQ硅树脂中硅羟基的质量分数。由此可知，本发明分别针对水玻璃法和正硅酸乙酯法合成的MQ硅树脂，因其结构的不同，而采用固态核磁共振硅谱直接进行检测，或采用固态核磁共振硅谱和液态核磁共振氢谱相结合的方式进行检测，可用于定量表征MQ硅树脂中硅羟基的绝对含量，具有方法操作简单，不受水或其它杂质影响，准确率高的特点。