在卷积神经网络中的1x1卷积的加速

    公开(公告)号:CN117291248A

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202310739812.7

    申请日:2023-06-21

    Abstract: 本公开涉及在卷积神经网络中的1x1卷积的加速。卷积加速器包括特征行缓冲器,内核缓冲器,乘累加集群和模式控制电路装置。在第一操作模式中,模式控制电路装置将特征数据存储在特征行缓冲器中并将内核数据存储在内核缓冲器中。存储在缓冲器中的数据被传输到卷积加速器的MAC集群进行处理。在第二操作模式中,模式控制电路装置将特征数据存储在内核缓冲器中,并将内核数据存储在特征行缓冲器中。存储在缓冲器中的数据被传输到卷积加速器的MAC集群进行处理。第二操作模式可用于有效地处理1×N内核,其中N是大于或等于1的整数。

    用于可磁致动器件的探针卡和包括探针卡的测试系统

    公开(公告)号:CN108459180A

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201710881279.2

    申请日:2017-09-26

    Abstract: 一种探针卡装配在用于测试微机电器件的系统中,该微机电器件具有对磁场敏感的元件。探针卡由PCB形成,PCB具有贯通开口以及探针尖端,用于电接触微机电器件。壳体结构被容纳在贯通开口内。壳体结构包括平面外围区域,该平面外围区域包围至少部分地突出且延伸到贯通开口中的座。磁性元件被布置在座中,其中磁性元件被布置以生成测试磁场,该测试磁场用于微机电器件的测试操作。

    关于两个轴线振荡并且具有位置检测系统的特别是压阻型的MEMS器件

    公开(公告)号:CN110240113B

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN201910485274.7

    申请日:2016-09-30

    Abstract: MEMS器件(40)具有经由被配置为支持平台关于第一轴线(A)的旋转的弹性连接元件(46)由框架(48)承载的平台(45)。承载结构(41)通过被配置为支持框架(48)关于横向于第一轴线(A)的第二轴线(B)的旋转的第一和第二弹性悬挂臂来支撑框架(48)。弹性悬挂臂(49)通过被布置成关于第二轴线(B)偏移的相应锚固部分(50)而被锚固到承载结构(41)。应力传感器(51、52)由第一和第二传感器元件(51、52)形成,其相应地被布置在关于第一轴线(A)对称位置中的第二轴线(B)的相同侧上的锚固部分附近的第一和第二悬挂臂(49)上。

    用于可磁致动器件的探针卡和包括探针卡的测试系统

    公开(公告)号:CN108459180B

    公开(公告)日:2020-09-04

    申请号:CN201710881279.2

    申请日:2017-09-26

    Abstract: 一种探针卡装配在用于测试微机电器件的系统中,该微机电器件具有对磁场敏感的元件。探针卡由PCB形成,PCB具有贯通开口以及探针尖端,用于电接触微机电器件。壳体结构被容纳在贯通开口内。壳体结构包括平面外围区域,该平面外围区域包围至少部分地突出且延伸到贯通开口中的座。磁性元件被布置在座中,其中磁性元件被布置以生成测试磁场,该测试磁场用于微机电器件的测试操作。

    关于两个轴线振荡并且具有位置检测系统的特别是压阻型的MEMS器件

    公开(公告)号:CN107265387B

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201610875661.8

    申请日:2016-09-30

    Abstract: MEMS器件(40)具有经由被配置为支持平台关于第一轴线(A)的旋转的弹性连接元件(46)由框架(48)承载的平台(45)。承载结构(41)通过被配置为支持框架(48)关于横向于第一轴线(A)的第二轴线(B)的旋转的第一和第二弹性悬挂臂来支撑框架(48)。弹性悬挂臂(49)通过被布置成关于第二轴线(B)偏移的相应锚固部分(50)而被锚固到承载结构(41)。应力传感器(51、52)由第一和第二传感器元件(51、52)形成,其相应地被布置在关于第一轴线(A)对称位置中的第二轴线(B)的相同侧上的锚固部分附近的第一和第二悬挂臂(49)上。

    关于两个轴线振荡并且具有位置检测系统的特别是压阻型的MEMS器件

    公开(公告)号:CN110240113A

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201910485274.7

    申请日:2016-09-30

    Abstract: MEMS器件(40)具有经由被配置为支持平台关于第一轴线(A)的旋转的弹性连接元件(46)由框架(48)承载的平台(45)。承载结构(41)通过被配置为支持框架(48)关于横向于第一轴线(A)的第二轴线(B)的旋转的第一和第二弹性悬挂臂来支撑框架(48)。弹性悬挂臂(49)通过被布置成关于第二轴线(B)偏移的相应锚固部分(50)而被锚固到承载结构(41)。应力传感器(51、52)由第一和第二传感器元件(51、52)形成,其相应地被布置在关于第一轴线(A)对称位置中的第二轴线(B)的相同侧上的锚固部分附近的第一和第二悬挂臂(49)上。

    关于两个轴线振荡并且具有位置检测系统的特别是压阻型的MEMS器件

    公开(公告)号:CN107265387A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201610875661.8

    申请日:2016-09-30

    Abstract: MEMS器件(40)具有经由被配置为支持平台关于第一轴线(A)的旋转的弹性连接元件(46)由框架(48)承载的平台(45)。承载结构(41)通过被配置为支持框架(48)关于横向于第一轴线(A)的第二轴线(B)的旋转的第一和第二弹性悬挂臂来支撑框架(48)。弹性悬挂臂(49)通过被布置成关于第二轴线(B)偏移的相应锚固部分(50)而被锚固到承载结构(41)。应力传感器(51、52)由第一和第二传感器元件(51、52)形成,其相应地被布置在关于第一轴线(A)对称位置中的第二轴线(B)的相同侧上的锚固部分附近的第一和第二悬挂臂(49)上。

    探针卡和测试系统
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN207851121U

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201721240983.1

    申请日:2017-09-26

    Abstract: 本公开涉及一种探针卡和测试系统。探针卡装配在用于测试微机电器件的系统中,该微机电器件具有对磁场敏感的元件。探针卡由PCB形成,PCB具有贯通开口以及探针尖端,用于电接触微机电器件。壳体结构被容纳在贯通开口内。壳体结构包括平面外围区域,该平面外围区域包围至少部分地突出且延伸到贯通开口中的座。磁性元件被布置在座中,其中磁性元件被布置以生成测试磁场,该测试磁场用于微机电器件的测试操作。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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